[發(fā)明專利]一種微針測試模塊

有效

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• 申請日: 2019-12-16
• 公開（公告）號: CN110927578B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發(fā)明（設計）人: 李正軍;謝鵬;操輝
• 申請（專利權）人: 深圳市歐米加智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/385
• 分類號: G01R31/385;G01R1/04
• 代理公司: 深圳市道勤知酷知識產權代理事務所(普通合伙) 44439
• 代理人: 何兵;饒盛添

1.一種微針測試模塊，用于對電池模組進行測試，其特征在于，其包括測試底座、與所述測試底座固定連接的微針容納塊、與所述微針容納塊固定連接的測試蓋體、固定在所述微針容納塊和測試蓋體之間且由微針固定座支撐的微針組件、固定在所述微針組件一端且定位在所述微針容納塊內的第一端蓋、固定在所述微針組件另一端且定位在所述微針容納塊內的第二端蓋、固定在所述第一端蓋和微針組件之間且并排設置的兩個壓接體以及四個連接銷，其中，所述微針組件包括依序排列的多個微針固定體以及固定在每個微針固體內且伸出其兩端的多個微針；所述微針包括微針主體、設置在微針主體一端且定位在所述測試底座內的兩個定位點、與所述微針主體另一端連接的微針體以及設置在微針體端部且與電池模組接觸的至少一個接觸點；每兩個連接銷上下設置，其中兩個上下設置的連接銷依序穿過第一端蓋一側的兩端、其中一個壓接體側邊的兩端、微針組件一側的兩端和第二端蓋的一側兩端，另外兩個上下設置的連接銷依序穿過第一端蓋另一側的兩端、另一個壓接體側邊的兩端、微針組件另一側的兩端和第二端蓋另一側的兩端。

2.根據權利要求1所述的微針測試模塊，其特征在于：所述微針包括兩個接觸點，所述兩個接觸點呈Y狀。

3.根據權利要求1或2所述的微針測試模塊，其特征在于：所述接觸點呈尖型或鋸齒型。

4.根據權利要求1所述的微針測試模塊，其特征在于：所述微針固定體設有第一表面、與所述第一表面相對設置的第二表面以及設置在所述第一表面內且用于定位所述微針主體的微針固定凹槽。

5.根據權利要求4所述的微針測試模塊，其特征在于：相鄰兩個微針固定體固定一個微針，每個微針的兩個定位點和接觸點分別伸出微針固定凹槽的兩端。

6.根據權利要求4所述的微針測試模塊，其特征在于：所述兩個壓接體固定在所述微針組件的一端并用于封住微針固定體的第一表面，第一端蓋固定在兩個壓接體上，第二端蓋固定在微針組件另一端并封住微針固定體的第二表面。

7.根據權利要求1所述的微針測試模塊，其特征在于：所述測試底座的內側表面設有多個凸起，微針的兩個定位點定位在每個凸起上。

8.根據權利要求1所述的微針測試模塊，其特征在于：第一端蓋設有固定在所述微針容納塊內的四個第一定位柱；第二端蓋設有固定在所述微針容納塊內的兩個第二定位柱。

9.根據權利要求8所述的微針測試模塊，其特征在于：所述微針容納塊設有容納塊主體、由容納塊主體向下延伸的臺階、貫穿容納塊主體和臺階且用于收容微針組件的臺階槽、設置在臺階一側的四個第一定位孔以及設置在臺階另一側的兩個第二定位孔，第一端蓋的四個第一定位柱分別固定在第一定位孔內，第二端蓋的兩個第二定位柱分別固定在第二定位孔內。

10.根據權利要求9所述的微針測試模塊，其特征在于：所述測試蓋體設有收容微針容納塊的臺階的蓋體凹槽、設置在蓋體凹槽內的多個定位孔以及設置在蓋體凹槽底面且位于多個定位孔相對的支撐塊，所述微針的接觸點穿過對應的定位孔，接觸點的端部所在平面與支撐塊的底面在同一個平面內。