[發明專利]一種傳感器數值異常識別方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201911290809.1
• 申請日: 2019-12-13
• 公開（公告）號: CN111189488B
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 侯宇輝;趙雅娟;蒙澤敏
• 申請（專利權）人: 精英數智科技股份有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 北京知呱呱知識產權代理有限公司 11577
• 代理人: 彭伶俐

1.一種傳感器數值異常識別方法，其特征在于，包括：

獲取傳感器在第一預定時間段內的多個測量點集合；

其中，每一個測量點包括測量的時間點和與時間點對應的測量值；

從所述多個測量點集合中確定出異常測量點；

判斷所述異常測量點后的測量點是否窄幅震蕩異常；如果是，則確定所述預定時間段內數值異常；

從所述多個測量點集合中確定出異常測量點；包括：

確定出測量值連續上升或者連續下降的時間區間；

確定出所述時間區間內的首末的兩個測量點，分別為第一測量點和第二測量點；

對于第二測量點，計算所述第二測量點的第二測量值和第一測量點的第一測量值的差值；

根據所述時間區間和差值計算突變率；

判斷所述突變率是否大于預定閾值；

如果是，則確定所述第二測量點為異常點；

判斷所述異常測量點后的測量點是否窄幅震蕩異常，包括：

獲取所述測量點之后的第二預定時間段內的多個測量點；

計算每一個測量點與前一個測量點的增量值；

判斷所有的增量值是否都小于第一預定閾值a；

如果是，則分別統計正增量個數和負增量個數；

計算所述正增量個數和負增量個數的比值；

判斷所述比值是否在預定的區間b%-c%內；

如果是，則統計連續上升的測量點的個數和連續下降的測量點的個數；

判斷連續上升的測量點的個數或者連續下降的測量點的個數是否小于預定閾值；

如果是，則統計每一個測量值出現的次數；

從所述次數的集合中確定出最大的次數值；

計算所述最大的次數值占所有測量點數量的比值；

判斷所述比值是否大于預定比值閾值d%；

如果是，則確定異常點后的測量點窄幅震蕩異常。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，異常測量點包括突增測量點和突降測量點；

從所述多個測量點集合中確定出異常測量點；包括：

計算每兩個測量點的測量值的差得到差值的集合；

按照每一個差值的正負將所有差值劃分為正增量集合和負增量集合；

計算所述正增量集合的正態分布函數的均值μ₁與標準差σ₁；

計算所述正增量集合的正態分布函數的均值μ₂與標準差σ₂；

對于任意一個要判斷的測量點，獲取所述要判斷的測量點的測量值X_i：

如果X_i-X_i-10；則判斷X_i是否落在區間[μ₁-Nσ_1，μ₁ +Nσ₁]內；如果否，則確定所述要判斷的測量點為突增測量點；

如果X_i-X_i-10；則判斷X_i是否落在區間[μ₂-Nσ_2，μ₂ +Nσ₂]內；如果否，則確定所述要判斷的測量點為突降測量點；其中，N大于0；X_i-1為與所述要判斷的測量點相鄰的上一個測量點的測量值。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，確定參數a、b、c、d，包括；

確定一窄幅震蕩異常數據集；

從所述窄幅震蕩異常數據集中選取預定比例的數據用來確定出參數a、b、c、d；

從剩余的數據中來對所述參數a、b、c、d進行驗證。