[發明專利]一種DDS器件中子效應評估系統

有效

• 申請號: 201911284148.1
• 申請日: 2019-12-13
• 公開（公告）號: CN111025374B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 張濤;潘碩;蘇小波;楊俊浩;朱夏斌
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十八研究所
• 主分類號: G01T3/00
• 分類號: G01T3/00
• 代理公司: 無錫派爾特知識產權代理事務所(普通合伙) 32340
• 代理人: 楊立秋

本發明公開一種DDS器件中子效應評估系統，屬于集成電路技術領域。所述DDS器件中子效應評估系統包括位于放射間的待測電路板和配置電路板，以及位于監控室的頻譜分析儀、相位噪聲測試儀、頻率計數器、低相噪信號源、電源、計算機和GPIB控制器；其中，待測電路板通過連接電纜分別與頻譜分析儀、相位噪聲測試儀和頻率計數器連接，通過短距電纜與配置電路板連接；配置電路板通過連接電纜分別與低相噪信號源、電源和計算機連接；GPIB控制器分別與頻譜分析儀、相位噪聲測試儀、頻率計數器、低相噪信號源和計算機連接。本發明基于目前的試驗條件提出了一種DDS中子效應評估系統，可在線對高速DDS器件進行中子效應評估，具有較大的工程意義。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，特別涉及一種DDS器件中子效應評估系統。

背景技術

中子是一種不帶電荷的高能粒子，其穿透力極強，在地球大氣層及深空區域均有分布。飛行器金屬外殼及內部材料對其幾乎無任何阻擋作用，中子會穿透外殼直接作用于內部器件上，造成位移損傷、器件電離等中子效應，引發器件動態性能降低、頻率偏移及功能失效，從而導致飛行器功能間斷、采集數據異常甚至飛行控制錯誤，嚴重影響飛行器安全。

DDS(Direct Digital Synthesizer，直接數字頻率合成器)是一種數字化的頻率、相位波形合成技術的器件，它通過內部的數字內核產生正弦的數字信號，并經過內嵌DAC轉換為模擬信號輸出，該器件具有調節精度高、精密跳頻及穩定性好等優點，在航天航空領域也有著廣泛應用。DDS器件內部包含SRAM、配置電路、大規模數字模塊及數模轉換器，其對中子效應具有一定的敏感性，而當前國際上對DDS器件的抗中子效應的評估剛剛起步，幾乎沒有DDS器件的中子試驗系統及測試方法的相關論文及專利。

中子試驗條件存在一定局限性，需提供高頻時鐘并在線測試評估，其放射區和監控區有較長距離，對于時鐘傳輸及器件動態性能測試有較大難度。

發明內容

本發明的目的在于提供一種DDS器件中子效應評估系統，以解決目前難以對時鐘傳輸及器件進行動態性能測試的問題。

為解決上述技術問題，本發明提供一種DDS器件中子效應評估系統，包括：

位于放射間的待測電路板和配置電路板，以及位于監控室的頻譜分析儀、相位噪聲測試儀、頻率計數器、低相噪信號源、電源、計算機和GPIB控制器；其中，

所述待測電路板通過連接電纜分別與所述頻譜分析儀、所述相位噪聲測試儀和所述頻率計數器連接，通過短距電纜與所述配置電路板連接；

所述配置電路板通過連接電纜分別與所述低相噪信號源、所述電源和所述計算機連接；

所述GPIB控制器分別與所述頻譜分析儀、所述相位噪聲測試儀、所述頻率計數器、所述低相噪信號源和所述計算機連接。

可選的，所述連接電纜包括高頻低損耗SMA電纜、低損耗通訊電纜和低阻電源電纜；

所述高頻低損耗SMA電纜用于所述頻譜分析儀、所述相位噪聲測試儀和所述頻率計數器與所述待測電路板的連接；以及所述配置電路板與所述低相噪信號源的連接；

所述低損耗通訊電纜用于所述配置電路板與所述計算機的連接；

所述低阻電源電纜用于所述配置電路板與所述電源的連接。

可選的，所述待測電路板包括待測DDS器件和外圍無源器件，其SPI、配置、器件時鐘及供電通過短距電纜由所述配置電路板提供。

可選的，所述配置電路板包括LDO、FPGA、RS485通訊模塊、晶振和時鐘電路，主控由所述計算機通過RS485協議傳輸給所述FPGA，并由所述FPGA發出包括SPI、控制信號在內的上位信號；