[發(fā)明專利]一種高速太赫茲相干測(cè)量裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911283513.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111044486A | 公開(公告)日: | 2020-04-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 諶貝;謝文;龔鵬偉;姜河;劉爽;程晴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京無線電計(jì)量測(cè)試研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/39 | 分類號(hào): | G01N21/39;G01N21/17;G01N21/21 |
| 代理公司: | 北京國(guó)昊天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315 | 代理人: | 馬驥 |
| 地址: | 100854 北京市海*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高速 赫茲 相干 測(cè)量 裝置 方法 | ||
1.一種高速太赫茲相干測(cè)量裝置,其特征在于,包括:第一激光器、第二激光器、光選擇調(diào)制模塊、發(fā)射天線、探測(cè)天線、數(shù)據(jù)處理模塊:
所述第一激光器,輸出端連接所述光選擇調(diào)制模塊的第一輸入端,用于產(chǎn)生第一波長(zhǎng)光信號(hào);
所述第二激光器,輸出端連接所述光選擇調(diào)制模塊的第二輸入端,用于產(chǎn)生第二波長(zhǎng)光信號(hào),所述第一波長(zhǎng)光信號(hào)和第二波長(zhǎng)光信號(hào)的頻率差位于太赫茲頻段;
所述光選擇調(diào)制模塊,用于將所述第一波長(zhǎng)光信號(hào)和第二波長(zhǎng)光信號(hào)進(jìn)行合束,再分光獲得兩路合波信號(hào);對(duì)第一路合波信號(hào)中的第一波長(zhǎng)光信號(hào)分量進(jìn)行相位調(diào)制,第二波長(zhǎng)光信號(hào)分量透?jìng)鳎@得部分調(diào)制光信號(hào),從第一輸出端發(fā)送到發(fā)射天線;第二路合波信號(hào)從第二輸出端發(fā)送到探測(cè)天線;產(chǎn)生時(shí)間參考信號(hào),從參考輸出端發(fā)送到數(shù)據(jù)處理模塊;
所述發(fā)射天線,用于將所述部分調(diào)制光信號(hào)中不同波長(zhǎng)的激光進(jìn)行光混頻,產(chǎn)生太赫茲信號(hào),并發(fā)射到所述探測(cè)天線;所述探測(cè)天線,用于接收所述發(fā)射天線發(fā)射的信號(hào),在所述第二路合波信號(hào)作用下對(duì)接收信號(hào)進(jìn)行采樣,輸出探測(cè)信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,還包括波長(zhǎng)測(cè)量模塊,用于對(duì)第一激光器和第二激光器的輸出激光波長(zhǎng)進(jìn)行監(jiān)測(cè)。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,還包括第一光放大器和第二光放大器,分別位于所述光選擇調(diào)制模塊的第一輸出端和第二輸出端之后,用于實(shí)現(xiàn)激光功率的放大。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,還包括第一偏振控制器和第二偏振控制器,分別位于發(fā)射天線和探測(cè)天線的輸入端之前,用于對(duì)光纖中傳輸?shù)募す馄駪B(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié)。
5.如權(quán)利要求1-4任意一項(xiàng)所述的裝置,其特征在于,各單元之間的有線連接使用保偏光纖。
6.如權(quán)利要求1-4任意一項(xiàng)所述的裝置,其特征在于,第一激光器和第二激光器是可調(diào)諧激光器。
7.一種光選擇調(diào)制模塊,用于權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,包括:2×2光耦合器、相位調(diào)制器、任意波形發(fā)生器:
所述2×2光耦合器,第一輸入端輸入第一波長(zhǎng)光信號(hào),第二輸入端輸入第二波長(zhǎng)光信號(hào);所述2×2光耦合器,用于將所述第一波長(zhǎng)光信號(hào)和第二波長(zhǎng)光信號(hào)進(jìn)行合束,再分光獲得兩路合波信號(hào);第一路合波信號(hào)發(fā)送到相位調(diào)制器;第二路合波信號(hào)從第二輸出端輸出;
所述相位調(diào)制器,用于對(duì)接收的第一路合波信號(hào)中的第一波長(zhǎng)光信號(hào)分量進(jìn)行相位調(diào)制,第二波長(zhǎng)光信號(hào)分量透?jìng)鳎@得部分調(diào)制光信號(hào),從第一輸出端輸出;
所述任意波形發(fā)生器,用于生成進(jìn)行相位調(diào)制時(shí)使用的調(diào)制信號(hào),并且將所述調(diào)制信號(hào)作為時(shí)間參考信號(hào)從參考輸出端輸出。
8.一種快速太赫茲相干測(cè)量方法,使用權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,包括以下步驟:
用第一激光器和第二激光器分別產(chǎn)生第一波長(zhǎng)光信號(hào)和第二波長(zhǎng)光信號(hào),所述第一波長(zhǎng)光信號(hào)和第二波長(zhǎng)光信號(hào)的頻率差位于太赫茲頻段,將兩路太赫茲信號(hào)的偏振方向調(diào)節(jié)為相互垂直,分別輸出至光選擇調(diào)制模塊的第一輸入端和第二輸入端;
用光選擇調(diào)制模塊將所述第一波長(zhǎng)光信號(hào)和第二波長(zhǎng)光信號(hào)進(jìn)行合束,再分光獲得兩路合波信號(hào),第二路合波信號(hào)從第二輸出端發(fā)送到探測(cè)天線,對(duì)第一路合波信號(hào)中的第一波長(zhǎng)光信號(hào)分量進(jìn)行相位調(diào)制,第二波長(zhǎng)光信號(hào)分量透?jìng)?,獲得部分調(diào)制光信號(hào),從第一輸出端發(fā)送到發(fā)射天線;產(chǎn)生時(shí)間參考信號(hào),從參考輸出端發(fā)送到數(shù)據(jù)處理模塊;
用發(fā)射天線將所述部分調(diào)制光信號(hào)中不同波長(zhǎng)的激光進(jìn)行光混頻,產(chǎn)生太赫茲信號(hào),并發(fā)射到探測(cè)天線;
將待測(cè)樣品放置在從發(fā)射天線到探測(cè)天線的信號(hào)傳播路徑上;
用數(shù)據(jù)處理模塊,以所述時(shí)間參考信號(hào)作為時(shí)間基準(zhǔn),記錄和測(cè)量所述探測(cè)信號(hào)的特征,以表示所述待測(cè)樣品的特性。
9.如權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,還包括以下步驟:
對(duì)所述部分調(diào)制光信號(hào)和所述第二路合波信號(hào)進(jìn)行功率放大。
10.如權(quán)利要求8或9所述的方法,其特征在于,還包括以下步驟:
對(duì)所述部分調(diào)制光信號(hào)和所述第二路合波信號(hào)的激光偏振態(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié)。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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