[發(fā)明專利]一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911281614.0
• 申請日: 2019-12-13
• 公開（公告）號: CN110865062A
• 公開（公告）日: 2020-03-06
• 發(fā)明（設計）人: 廖政;唐勇;潘穎
• 申請（專利權）人: 四川樸瀾醫(yī)療科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N21/01;G01J3/44;G01J3/12;G01N33/53;G01N33/58
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 劉小彬

1.一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，包括檢測電路(3)，其特征在于：還包括光學分析裝置殼體，以及均封裝于所述光學分析裝置殼體內用于發(fā)射出激發(fā)光的激發(fā)光源(2)和位于所述激發(fā)光源(2)的光照方向上用于將激發(fā)光精準投射至被測物(6)的檢測線T(8)上并將檢測線T(8)所發(fā)出的熒光匯聚后投射至所述檢測電路(3)的光學組件(5)。

2.根據權利要求1所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述光學組件(5)包括沿著激發(fā)光光路方向順序分布的激發(fā)光濾光片(10)、第一凸透鏡(12)和二向色鏡(13)，位于所述二向色鏡(13)的反射方向上用于將所述二向色鏡(13)所反射的激發(fā)光匯聚成與檢測線T(8)形狀大小相同的長條形光斑(7)的第一柱面透鏡(14)，以及沿著所述二向色鏡(13)的透射方向順序分布的第二凸透鏡(15)和熒光濾光片(17)，所述檢測電路(3)位于所述熒光濾光片(17)的正后方，所述被測物(6)的檢測線T(8)位于長條形光斑(7)的光路上。

3.根據權利要求2所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述第二凸透鏡(15)和所述熒光濾光片(17)之間設有第二柱面透鏡(16)。

4.根據權利要求3所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述第一柱面透鏡(14)的軸向和所述第二柱面透鏡(16)的軸向相互垂直。

5.根據權利要求2所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述二向色鏡(13)傾斜分布，其與水平面呈一個45°夾角。

6.根據權利要求1所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述光學分析裝置殼體包括相互配合的光路安裝左殼體(1)和光路安裝右殼體(4)。

7.根據權利要求6所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述光路安裝左殼體(1)和所述光路安裝右殼體(4)之間形成有位于激發(fā)光光路上的激發(fā)光狹縫(11)，并且所述激發(fā)光狹縫(11)位于所述激發(fā)光濾光片(10)和所述第一凸透鏡(12)之間。

8.根據權利要求1所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述檢測電路(3)固定安裝于所述光學分析裝置殼體上。

9.根據權利要求1所述的一種用于長條形熒光信號檢測的光學分析裝置，其特征在于：所述激發(fā)光源(2)為具有小發(fā)射角度的LED點光源。