[發(fā)明專利]半導體裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911280119.8 | 申請日: | 2019-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN111354721B | 公開(公告)日: | 2023-04-25 |
| 發(fā)明(設計)人: | 宮原聰 | 申請(專利權)人: | 三菱電機株式會社 |
| 主分類號: | H01L25/18 | 分類號: | H01L25/18;H01L25/16 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;張?zhí)焓?/td> |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 | ||
1.一種半導體裝置,其特征在于,具有:
第1半導體芯片;
第2半導體芯片,其在通斷時與所述第1半導體芯片相比結溫高;
集電極圖案,其與所述第1半導體芯片的集電極以及所述第2半導體芯片的集電極電連接;
發(fā)射極圖案,其與所述第1半導體芯片的發(fā)射極以及所述第2半導體芯片的發(fā)射極電連接;
柵極圖案,其與所述第1半導體芯片的柵極電連接;
第1二極管,其陽極與所述柵極圖案電連接,陰極與所述第2半導體芯片的柵極電連接;以及
第2二極管,其與所述第1二極管反向并聯(lián)連接。
2.一種半導體裝置,其特征在于,具有:
第1半導體芯片;
第2半導體芯片;
第3半導體芯片;
集電極圖案,其與所述第1半導體芯片的集電極、所述第2半導體芯片的集電極以及所述第3半導體芯片的集電極電連接;
發(fā)射極圖案,其與所述第1半導體芯片的發(fā)射極、所述第2半導體芯片的發(fā)射極以及所述第3半導體芯片的發(fā)射極電連接;
柵極圖案,其與所述第1半導體芯片的柵極以及所述第3半導體芯片的柵極電連接;
第1二極管,其陽極與所述柵極圖案電連接,陰極與所述第2半導體芯片的柵極電連接;以及
第2二極管,其與所述第1二極管反向并聯(lián)連接,
所述第2半導體芯片設置于所述第1半導體芯片和所述第3半導體芯片之間。
3.根據(jù)權利要求1所述的半導體裝置,其特征在于,
具有第3半導體芯片,該第3半導體芯片的集電極與所述集電極圖案電連接,發(fā)射極與所述發(fā)射極圖案電連接,柵極與所述柵極圖案電連接,
所述第2半導體芯片設置于所述第1半導體芯片和所述第3半導體芯片之間。
4.根據(jù)權利要求1至3中任一項所述的半導體裝置,其特征在于,
在所述第1二極管的陽極和陰極之間沒有連接電阻器。
5.根據(jù)權利要求1至4中任一項所述的半導體裝置,其特征在于,
在所述第1二極管和所述第2半導體芯片之間以及所述第1二極管和所述柵極圖案之間沒有連接開關元件。
6.根據(jù)權利要求1至5中任一項所述的半導體裝置,其特征在于,
所述第1二極管和所述第2二極管設置于所述柵極圖案之上。
7.根據(jù)權利要求1至6中任一項所述的半導體裝置,其特征在于,
具有與所述第1二極管以及所述第2二極管并聯(lián)連接的開關。
8.根據(jù)權利要求7所述的半導體裝置,其特征在于,
具有熱敏電阻,
如果所述熱敏電阻檢測出的溫度變得比預先確定的值高,則所述開關斷開。
9.根據(jù)權利要求7所述的半導體裝置,其特征在于,
所述第2半導體芯片具有溫度傳感器,
如果所述溫度傳感器檢測出的溫度變得比預先確定的值高,則所述開關斷開。
10.根據(jù)權利要求7所述的半導體裝置,其特征在于,
具有控制電路,
所述第2半導體芯片具有溫度傳感器,
如果所述溫度傳感器檢測出的溫度變得比預先確定的值高,則所述控制電路使所述開關斷開。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L25-00 由多個單個半導體或其他固態(tài)器件組成的組裝件
H01L25-03 .所有包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中同一小組內的相同類型的器件,例如整流二極管的組裝件
H01L25-16 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個或多個不同大組內的類型的器件,例如構成混合電路的
H01L25-18 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個或多個同一大組的不同小組內的類型的器件
H01L25-04 ..不具有單獨容器的器件
H01L25-10 ..具有單獨容器的器件





