[發明專利]相機光學中心測試方法、裝置、計算機設備和介質

有效

• 申請號: 201911278223.3
• 申請日: 2019-12-12
• 公開（公告）號: CN110958447B
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 陳植;黃振新;馮黎明;楊可;吳繼飛;李壽濤;陳然;孫智偉;鄭向金;廖曉林;楊昕鵬;熊貴天;鄧吉龍
• 申請（專利權）人: 中國空氣動力研究與發展中心
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 史治法

1.一種相機的光學中心測試方法，其特征在于，包括：

提供第一CCD相機和第二CCD相機，所述第一CCD相機和所述第二CCD相機的鏡面相對設置且所述鏡面的中心點位于垂直于所述鏡面的一條直線上；

通過所述第一CCD相機和所述第二CCD相機分別拍攝測試基板上表面的圖像，所述測試基板上表面設置有校準點；所述第一CCD相機于第一時刻開始一次曝光拍攝獲取第一灰度圖像并于第二時刻開始一次曝光拍攝獲取第二灰度圖像，所述第二CCD相機于第三時刻開始一次曝光拍攝獲取第三灰度圖像并于第四時刻開始一次曝光拍攝獲取第四灰度圖像；

基于所述圖像獲取所述校準點的速度值；根據所述第一灰度圖像中校準點像素點坐標分別獲取第二灰度圖像、第三灰度圖像及第四灰度圖像中對應校準點像素點預設鄰域內像素點坐標，基于各所述像素點坐標利用互相關算法計算不同圖像上校準點之間的位移，根據所述位移及對應時間計算所述校準點的速度值；

根據所述速度值判斷所述第一CCD相機和/或所述第二CCD相機的光學中心的位置是否準確。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校準點的數量為偶數個。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述校準點呈陣列均勻分布于所述測試基板的上表面。

4.根據權利要求3中所述的方法，其特征在于，當所述校準點速度值小于或等于預設的范圍時，所述第一CCD相機和所述第二CCD相機的光學中心的位置準確。

5.根據權利要求4中所述的方法，其特征在于，當所述校準點速度值大于預設的范圍時，計算所述速度值與所述第一CCD相機和所述第二CCD相機之間的曝光時間間隔值的乘積作為所述第一CCD相機或所述第二CCD相機的光學中心的位置偏移值，以根據所述偏移值調整所述第一CCD相機和/或所述第二CCD相機的空間位置。

6.根據權利要求1-3中任一項中所述的方法，其特征在于，所述測試基板的上表面還設置有至少兩個隨機點，用于模擬被測對象中的示蹤粒子。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，還包括：

采用互相關算法獲取隨機點速度值，所述隨機點速度值為基于所述第一CCD相機和所述第二CCD相機獲取的被測流體速度值的測試誤差值；

當所述誤差值小于或等于預設的閾值時，所述第一CCD相機和所述第二CCD相機的光學中心位置準確；

當所述誤差值大于所述閾值時，將所述誤差值作為所述第一CCD相機和所述第二CCD相機中心位置的系統誤差值，以修正基于所述第一CCD相機和所述第二CCD相機獲取的測量值。

8.一種相機的光學中心測試裝置，其特征在于，包括：

相機位置設置模塊，用于設置第一CCD相機和第二CCD相機的鏡面相對設置且所述鏡面的中心點位于垂直于所述鏡面的一條直線上；

圖像獲取模塊，用于通過所述第一CCD相機和所述第二CCD相機分別拍攝位于被測流體中的測試基板上表面的圖像，所述測試基板上表面設置有校準點；所述第一CCD相機于第一時刻開始一次曝光拍攝獲取第一灰度圖像并于第二時刻開始一次曝光拍攝獲取第二灰度圖像，所述第二CCD相機于第三時刻開始一次曝光拍攝獲取第三灰度圖像并于第四時刻開始一次曝光拍攝獲取第四灰度圖像；

速度值獲取模塊，用于基于所述圖像獲取所述校準點的速度值；根據所述第一灰度圖像中校準點像素點坐標分別獲取第二灰度圖像、第三灰度圖像及第四灰度圖像中對應校準點像素點預設鄰域內像素點坐標，基于各所述像素點坐標利用互相關算法計算不同圖像上校準點之間的位移，根據所述位移及對應時間計算所述校準點的速度值；

光學中心位置判斷模塊，用于根據所述速度值判斷所述第一CCD相機和/或所述第二CCD相機的光學中心的位置是否準確。

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。