[發明專利]一種測量TRIP鋼表面脫碳層深度的方法

在審

• 申請號: 201911274828.5
• 申請日: 2019-12-12
• 公開（公告）號: CN111024738A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 崔桂彬;賈惠平;來萍;溫娟;鞠新華
• 申請（專利權）人: 首鋼集團有限公司
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20;G01N23/2005
• 代理公司: 北京華誼知識產權代理有限公司 11207
• 代理人: 王普玉

1.一種測量TRIP鋼表面脫碳層深度的方法，其特征在于，具體步驟及參數如下：

1)樣品準備：從TRIP鋼板上加工試樣；

2)將加工好的試樣放于酒精中，用超聲波清洗3～5分鐘；

3)采用X射線衍射儀測量試樣表面的殘余奧氏體含量值為V₁；所述X射線衍射儀的參數為：掃描范圍2θ為25～135°，掃描步長為0.01°～0.03°，掃描速度為1°/min～3°/min；

4)采用碳化硅耐水砂紙將試樣表面沿厚度方向磨掉0.02～0.15mm，然后再次采用X射線衍射儀測量試樣表面殘余奧氏體含量值為V₂，測量試樣深度記為D₂；所述X射線衍射儀的參數同步驟3)；測試深度為打磨后試樣表面與試樣未打磨過原始表面之間的距離定義，根據此定義，試樣原始表面的測試深度D₁為0；

5)重復步驟4)，直到測試深度為試樣厚度的四分之一為止，控制誤差在±0.02mm；得到不同的測試深度D_i值，i＝1～N；殘余奧氏體含量V_i值，i＝1～N；測試深度分別為D₃～D_N，D_N代表測試深度為試樣厚度的四分之一；殘余奧氏體含量依次為V₃～V_N，V_N代表測試深度為試樣厚度四分之一時的殘余奧氏體含量；

6)完成步驟5)后，以測試深度D為橫坐標，殘余奧氏體含量V為縱坐標，繪圖，獲得殘余奧氏體含量隨測試深度的變化曲線圖；

7)在殘余奧氏體含量——測試深度曲線上，找到轉折點之后3～6個殘余奧氏體含量的測量值，并計算其平均值為V_A；

8)找到曲線上縱坐標等于V_A的點A，點A對應的橫坐標為D_A；D_A即為試樣TRIP鋼表面的脫碳層深度，完成測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟1)中所述的樣品試樣規格要求為：長度15mm～20mm×寬度15mm～20mm×鋼板厚度。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟7)中所述的轉折點為：在殘余奧氏體含量——測試深度曲線圖中曲線發生轉折的點。