[發(fā)明專利]數(shù)字預(yù)失真性能檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911272561.6
• 申請(qǐng)日: 2019-12-12
• 公開（公告）號(hào): CN112994809B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魯宏濤;丁然;潘攀;樊凱;朱洪宇;鄒建發(fā)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 珠海全志科技股份有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/15
• 分類號(hào): H04B17/15;H04L25/49
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 石慧

本申請(qǐng)涉及一種數(shù)字預(yù)失真性能檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。所述的方法通過獲取基帶信號(hào)；根據(jù)所述基帶信號(hào)確定第一包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻和第一包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值；對(duì)所述基帶信號(hào)進(jìn)行預(yù)失真處理，得到預(yù)失真信號(hào)；對(duì)所述預(yù)失真信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換處理，得到轉(zhuǎn)換信號(hào)，并將所述轉(zhuǎn)換信號(hào)發(fā)送至發(fā)射機(jī)；接收經(jīng)過所述發(fā)射機(jī)處理的信號(hào)，得到發(fā)射信號(hào)；對(duì)所述發(fā)射信號(hào)進(jìn)行耦合轉(zhuǎn)換處理，得到復(fù)反饋信號(hào)；根據(jù)所述復(fù)反饋信號(hào)得到第二包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻和第二包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值；根據(jù)所述第一包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值和所述第二包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值確定失真量；根據(jù)所述失真量進(jìn)行預(yù)失真性能檢測(cè)。本申請(qǐng)?zhí)峁┑臄?shù)字預(yù)失真性能檢測(cè)方法復(fù)雜度較低。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及預(yù)失真技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種數(shù)字預(yù)失真性能檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

數(shù)字預(yù)失真技術(shù)是提高發(fā)射機(jī)線性度的有效方法。在實(shí)施數(shù)字預(yù)失真技術(shù)時(shí)，首先發(fā)射一個(gè)訓(xùn)練信號(hào)估計(jì)發(fā)射機(jī)的非線性特性，然后在發(fā)射機(jī)前構(gòu)造一個(gè)預(yù)失真電路，此失真電路的非線性特性和發(fā)射機(jī)的非線性特性互逆，此時(shí)，預(yù)失真電路串聯(lián)發(fā)射機(jī)的整體等價(jià)為一個(gè)理想的發(fā)射機(jī)。但是，在實(shí)際電路中，以溫度和電壓為代表的物理參數(shù)的變化會(huì)導(dǎo)致發(fā)射機(jī)的非線性特性發(fā)生漂移變化。當(dāng)發(fā)射機(jī)的非線性漂移達(dá)到一定的程度時(shí)，數(shù)字預(yù)失真技術(shù)的預(yù)失真性能將會(huì)顯著的降低，從而惡化發(fā)射波形的質(zhì)量。

傳統(tǒng)技術(shù)中，要么通過實(shí)時(shí)觀測(cè)電壓和溫度等物理參數(shù)的漂移變化，當(dāng)其漂移變化量超出閾值時(shí)，重新測(cè)量發(fā)射機(jī)的非線性特性，并更新預(yù)失真參數(shù)，這種方法監(jiān)測(cè)精度差。要么通常采用特定信號(hào)作為觀測(cè)量來觀測(cè)電壓和溫度等物理參數(shù)的變化，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)預(yù)失真性能的檢測(cè)，然而，這種數(shù)字預(yù)失真性能檢測(cè)方法存在計(jì)算復(fù)雜的問題。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問題，提供一種數(shù)字預(yù)失真性能檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種數(shù)字預(yù)失真性能檢測(cè)方法、裝置計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：

獲取基帶信號(hào)，其中，所述基帶信號(hào)通過過采樣得到；

確定所述基帶信號(hào)的包絡(luò)駐點(diǎn)，得到第一包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻；

確定所述第一包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻對(duì)應(yīng)的樣點(diǎn)值，得到第一包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值；

對(duì)所述基帶信號(hào)進(jìn)行預(yù)失真處理，得到預(yù)失真信號(hào)；

對(duì)所述預(yù)失真信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換處理，得到轉(zhuǎn)換信號(hào)，并將所述轉(zhuǎn)換信號(hào)發(fā)送至發(fā)射機(jī)；

接收經(jīng)過所述發(fā)射機(jī)處理的信號(hào)，得到發(fā)射信號(hào)；

對(duì)所述發(fā)射信號(hào)進(jìn)行耦合轉(zhuǎn)換處理，得到復(fù)反饋信號(hào)；

確定所述復(fù)反饋信號(hào)的包絡(luò)駐點(diǎn)，得到第二包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻；

確定所述第二包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻對(duì)應(yīng)的樣點(diǎn)值，得到第二包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值；

根據(jù)所述第一包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值和所述第二包絡(luò)駐點(diǎn)樣點(diǎn)值確定失真量；

根據(jù)所述失真量進(jìn)行預(yù)失真性能檢測(cè)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述確定所述基帶信號(hào)的包絡(luò)駐點(diǎn)，得到第一包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻，包括：

獲取所述基帶信號(hào)的多個(gè)第一數(shù)字采樣點(diǎn)；

基于多項(xiàng)式內(nèi)插法，根據(jù)所述多個(gè)第一數(shù)字采樣點(diǎn)的模值，確定所述第一包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述確定所述復(fù)反饋信號(hào)的包絡(luò)駐點(diǎn)，得到第二包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻，包括：

獲取所述復(fù)反饋信號(hào)的多個(gè)第二數(shù)字采樣點(diǎn)；

基于多項(xiàng)式內(nèi)插法，根據(jù)所述多個(gè)第二數(shù)字采樣點(diǎn)的模值，確定所述第二包絡(luò)駐點(diǎn)時(shí)刻。