[發明專利]一種網絡切換方法及電子設備有效
| 申請號: | 201911269176.6 | 申請日: | 2019-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN112954749B | 公開(公告)日: | 2022-05-10 |
| 發明(設計)人: | 楊銳;竇鳳輝;金輝 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | H04W36/00 | 分類號: | H04W36/00;H04W36/30;H04W36/32 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 趙玲 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 網絡 切換 方法 電子設備 | ||
1.一種網絡切換方法,其特征在于,所述方法包括:
電子設備當駐留在通過第一通信模塊接入的第一網絡時,在所述電子設備第n次沿第一路線移動的過程中,先后獲取到針對所述第一網絡的第一采樣點的網絡信息和第二采樣點的網絡信息;所述第一路線為第一位置和第二位置之間的路線;
所述電子設備在獲取到所述第二采樣點的網絡信息后,根據所述第一采樣點的網絡信息、第二采樣點的網絡信息和第一采樣歷史記錄,預測所述電子設備第n次沿所述第一路線移動時經過第一時長后所述第一網絡是否會發生異常;所述第一采樣歷史記錄包括所述電子設備在第n次以前每一次沿所述第一路線移動的過程中,針對所述第一網絡獲取到的采樣點的網絡信息;所述n為大于1的正整數;
若預測到所述第一網絡會發生異常,則所述電子設備在所述第n次沿所述第一路線移動的過程中,在所述第一網絡發生異常前,駐留到通過第二通信模塊接入的第二網絡。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一采樣歷史記錄包括第一匹配點的網絡信息、第二匹配點的網絡信息和第一異常點的網絡信息;
所述第一匹配點的網絡信息和所述第二匹配點的網絡信息分別為所述電子設備在第n-i次沿所述第一路線移動的過程中先后針對所述第一網絡分別獲取到的、且所述第一網絡發生異常的概率小于或等于第一閾值的采樣點的網絡信息;其中,所述i為小于所述n的正整數;
所述第一異常點的網絡信息是所述電子設備在第n-i次沿所述第一路線移動的過程中,在獲取到所述第二匹配點的網絡信息后最近一次針對所述第一網絡獲取到的、且所述第一網絡發生異常的概率大于或等于第二閾值的采樣點的網絡信息;
所述第一采樣點的網絡信息和所述第一匹配點的網絡信息滿足第一條件,且所述第二采樣點的網絡信息和所述第二匹配點的網絡信息滿足所述第一條件;所述第一條件用于指示第一采樣物理位置與第二采樣物理位置之間的距離在誤差范圍內,所述第一采樣物理位置為所述電子設備在第n次沿所述第一路線移動的過程中采樣點對應的物理位置;所述第二采樣物理位置為所述電子設備在第n次之前的一次沿所述第一路線移動的過程中匹配點對應的物理位置。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一采樣點的網絡信息與所述第一匹配點的網絡信息滿足第一條件,包括:
所述第一采樣點的網絡信息和所述第一匹配點的網絡信息中服務小區標識相同、服務小區的網絡信號強度之間的差值在第一范圍內、存在相同的鄰小區標識、相同的鄰小區的網絡信號強度之間的差值在第二范圍內;
所述第二采樣點的網絡信息與所述第二匹配點的網絡信息滿足所述第一條件,包括:
所述第二采樣點的網絡信息和所述第二匹配點的網絡信息中服務小區標識相同、服務小區的網絡信號強度之間的差值在所述第一范圍內、存在相同的鄰小區標識、相同的鄰小區的網絡信號強度之間的差值在所述第二范圍內。
4.如權利要求2或3所述的方法,其特征在于,任一采樣點的網絡信息中包括所述電子設備在對應采樣點的系統時間;
所述電子設備根據所述第一采樣點的網絡信息、第二采樣點的網絡信息、和采樣歷史記錄,預測所述電子設備第n次沿所述第一路線移動時經過第一時長后所述第一網絡是否會發生異常,包括:
所述電子設備根據所述第一采樣點的網絡信息、所述第二采樣點的網絡信息、所述第一匹配點的網絡信息、第二匹配點的網絡信息和所述第一異常點的網絡信息中分別包括的系統時間,確定所述電子設備第n次沿所述第一路線移動時經過第二時長后所述第一網絡發生異常;
所述電子設備判斷所述第二時長是否大于所述第一時長;
若所述第二時長小于或等于所述第一時長,則預測所述電子設備第n次沿所述第一路線移動時經過第一時長后所述第一網絡會發生異常。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,所述第二時長滿足下述表達式:
其中,τ為所述第二時長,T1為在所述第一匹配點所述電子設備的系統時間,T2為在所述第二匹配點所述電子設備的系統時間,T3為在所述第一異常點所述電子設備的系統時間,T1′為在所述第一采樣點所述電子設備的系統時間,T2′為在所述第二采樣點所述電子設備的系統時間。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華為技術有限公司,未經華為技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911269176.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





