[發明專利]一種薄膜及其制備方法和應用在審
| 申請號: | 201911268765.2 | 申請日: | 2019-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN112951707A | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發明(設計)人: | 王東東;王政英;姚震洋;高軍;銀登杰;郭潤慶;劉軍 | 申請(專利權)人: | 株洲中車時代電氣股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;康志梅 |
| 地址: | 412001 湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 薄膜 及其 制備 方法 應用 | ||
1.一種薄膜,包括襯底以及沉積于所述襯底表面的具有圖形化的DLC層。
2.根據權利要求1所述的薄膜,其特征在于,所述襯底的材質為半導體材料;優選選自硅、碳化硅、氮化鎵和砷化鎵。
3.根據權利要求1或2所述的薄膜,其特征在于,所述DLC層的厚度為20-500nm。
4.權利要求1-3中任意一項所述的薄膜的制備方法,包括:
(A)在襯底表面形成與目標圖形互補的圖形化光刻膠層,得到具有圖形化光刻膠層的襯底;
(B)將所述具有圖形化光刻膠層的襯底進行沉積DLC,得到沉積有DLC層的襯底;
(C)將所述沉積有DLC層的襯底進行去除光刻膠處理。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,在步驟(B)中,所述沉積DLC的方法為平板電容器耦合式RF-PECVD法;
優選地,所述沉積DLC的操作條件包括:在襯底下方進行冷卻;優選地,所述所述冷卻溫度為50-300℃,更優選為50-120℃;
優選地,所述沉積DLC的操作條件還包括:射頻功率為100-1500W;壓力為負壓,優選為10-2至10-6Pa;氣體流量為20-500mL/min;工藝氣體選自C1-C6的烷烴和C1-C6的的炔烴,優選選自甲烷、乙烷、丙烷、丁烷、戊烷、己烷、乙烯、丙烯、丁烯、乙炔和丙炔;
優選地,在步驟(B)中,所述DLC層的厚度為20-500nm。
6.根據權利要求4或5所述的方法,其特征在于,在步驟(A)中,形成圖形化光刻膠層的方法為旋轉甩膠法、噴涂法或印刷法;
優選地,在步驟(A)中,所述光刻膠層的厚度為0.5-50μm;
優選地,在步驟(C)中,所述去除光刻膠的方法為濕法腐蝕法。
7.權利要求1-3中任意一項所述的薄膜的制備方法,包括:
(a)在襯底表面進行沉積DLC,得到沉積有DLC層的襯底;
(b)在所述沉積有DLC層的襯底的表面形成具有目標圖形的光刻膠層,得到具有光刻膠層的襯底;
(c)將所述具有光刻膠層的襯底進行刻蝕DLC,形成具有圖形化DLC層和光刻膠層的襯底;
(d)將所述具有圖形化DLC層和光刻膠層的襯底進行去除光刻膠處理。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,在步驟(a)中,所述沉積DLC的方法為平板電容器耦合式RF-PECVD法;
優選地,所述沉積DLC的操作條件包括:在襯底下方進行冷卻;優選地,所述冷卻溫度為50-300℃,優選為50-120℃;
優選地,所述沉積DLC的操作條件還包括:射頻功率為100-1500W;壓力為負壓,優選為10-2至10-6Pa;氣體流量為20-500mL/min;工藝氣體選自C1-C6的烷烴和C1-C6的的炔烴,優選選自甲烷、乙烷、丙烷、丁烷、戊烷、己烷、乙烯、丙烯、丁烯、乙炔和丙炔;
優選地,在步驟(a)中,所述DLC層的厚度為20-500nm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





