[發明專利]測試裝置和測試系統

在審

• 申請號: 201911264355.0
• 申請日: 2019-12-11
• 公開（公告）號: CN111326089A
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發明（設計）人: 李一浩;權相赫;金榮彬;盧贊植;申垠澈;崔相敃
• 申請（專利權）人: 三星顯示有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R27/26
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 張逍遙;劉燦強

1.一種測試裝置，所述測試裝置包括：

觸摸測試墊，被構造為電連接到顯示模塊的觸摸墊；

第一電力測試墊和第二電力測試墊，被構造為分別電連接到所述顯示模塊的第一電力墊和第二電力墊；

電壓產生器，被構造為將第一測試電力電壓和第二測試電力電壓分別提供到所述第一電力測試墊和所述第二電力測試墊；以及

電容測量電路，被構造為測量所述第一電力測試墊與所述第二電力測試墊之間的電容。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其中，所述電壓產生器響應于電壓控制信號而改變所述第一測試電力電壓和所述第二測試電力電壓中的至少一者的電壓電平。

3.根據權利要求2所述的測試裝置，所述測試裝置還包括：

連接件，將所述觸摸墊電連接到所述觸摸測試墊并且將所述第一電力墊和所述第二電力墊分別電連接到所述第一電力測試墊和所述第二電力測試墊；以及

接口，被構造為響應于從外部接收的測試控制信號而輸出所述電壓控制信號。

4.根據權利要求1所述的測試裝置，其中，所述電容測量電路被構造為輸出與所述測量的電容對應的電容感測信號。

5.根據權利要求1所述的測試裝置，所述測試裝置還包括被構造為將觸摸測試信號輸出到所述觸摸測試墊的觸摸測試器。

6.根據權利要求5所述的測試裝置，其中，所述觸摸測試器輸出所述觸摸測試信號的操作和所述電壓產生器輸出所述第一測試電力電壓和所述第二測試電力電壓的操作被并行地執行。

7.根據權利要求6所述的測試裝置，其中，所述觸摸測試墊、所述第一電力測試墊和所述第二電力測試墊、所述電壓產生器以及所述電容測量電路設置為單個集成電路。

8.根據權利要求1所述的測試裝置，所述測試裝置還包括將面板測試信號輸出到所述顯示模塊的信號墊的面板測試電路，其中，所述信號墊包括所述第一電力墊和所述第二電力墊。

9.根據權利要求8所述的測試裝置，其中，所述面板測試電路包括：

顯示面板測試墊，電連接到所述顯示模塊的所述信號墊；以及

測試信號產生電路，被構造為將所述面板測試信號輸出到所述顯示面板測試墊，

其中，所述顯示面板測試墊包括所述第一電力測試墊和所述第二電力測試墊。

10.一種測試系統，所述測試系統包括：

顯示模塊；以及

測試裝置；

其中，所述顯示模塊包括：

顯示面板，包括顯示區域和與所述顯示區域相鄰的非顯示區域；以及

觸摸感測單元，設置在所述顯示面板上并且被構造為感測施加到所述觸摸感測單元的與所述顯示區域疊置的感測區域的外部輸入，

其中，所述顯示面板包括：

觸摸墊，設置在所述非顯示區域中并且電連接到所述觸摸感測單元；以及

第一電力墊和第二電力墊，設置在所述非顯示區域中并且電連接到所述顯示面板，并且

其中，所述測試裝置包括：

觸摸測試墊，電連接到所述觸摸墊；

第一電力測試墊和第二電力測試墊，分別電連接到所述第一電力墊和所述第二電力墊；

電壓產生器，被構造為將第一測試電力電壓和第二測試電力電壓分別提供到所述第一電力測試墊和所述第二電力測試墊；以及

電容測量電路，被構造為測量所述第一電力測試墊與所述第二電力測試墊之間的電容。