[發(fā)明專利]IIC接口時序的參數(shù)測試方法及測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911253347.6
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN113032190A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張羽海
• 申請（專利權(quán)）人: 圣邦微電子（北京）股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京成創(chuàng)同維知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449
• 代理人: 李鎮(zhèn)江

1.一種IIC接口時序的參數(shù)測試方法，用于測試所述IIC接口時序的參數(shù)的極限值，所述IIC接口時序的參數(shù)包括多個時間參數(shù)，其中，參數(shù)測試方法包括：

用上位機(jī)通過串口發(fā)送參數(shù)配置命令；

用可編輯邏輯門陣列模塊接收所述參數(shù)配置命令，通過IIC接口發(fā)送對應(yīng)所述參數(shù)配置命令的IIC協(xié)議；

用待測模塊接收所述IIC協(xié)議并對所述IIC協(xié)議進(jìn)行響應(yīng)，根據(jù)響應(yīng)結(jié)果產(chǎn)生應(yīng)答信號或非應(yīng)答信號；

用所述可編輯邏輯門陣列模塊接收所述應(yīng)答信號或所述非應(yīng)答信號，并通過串口發(fā)送對應(yīng)所述應(yīng)答信號或所述非應(yīng)答信號的數(shù)字信號；

用所述上位機(jī)接收所述數(shù)字信號，根據(jù)所述數(shù)字信號判斷響應(yīng)結(jié)果；

當(dāng)所述響應(yīng)結(jié)果表示響應(yīng)成功時，用所述上位機(jī)記錄所述參數(shù)配置命令，并對所述參數(shù)配置命令進(jìn)行邏輯運(yùn)算，根據(jù)運(yùn)算結(jié)果發(fā)送下一次的參數(shù)配置命令；

當(dāng)所述響應(yīng)結(jié)果表示響應(yīng)不成功時，用所述上位機(jī)從記錄的所述參數(shù)配置命令中選取所述多個時間參數(shù)中每一個時間參數(shù)對應(yīng)的最大值和/或最小值作為所述IIC接口時序的參數(shù)的極限值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)測試方法，其中，所述參數(shù)配置命令包括寄存器地址、寄存器值、IIC時序要求以及參考數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的參數(shù)測試方法，其中，所述參數(shù)配置命令按照要求的格式以文本文件的形式存儲在所述上位機(jī)內(nèi)，所述上位機(jī)可以創(chuàng)建、修改、打開和保存所述文本文件。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)測試方法，其中，所述多個時間參數(shù)包括：上升沿時間、下降沿時間、高電平時間保持、低電平保持時間、數(shù)據(jù)保持時間、數(shù)據(jù)建立時間、重復(fù)開始狀態(tài)的建立時間、重復(fù)開始狀態(tài)的保持時間、總線空閑時間以及結(jié)束狀態(tài)建立時間。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)測試方法，其中，通過IIC接口發(fā)送對應(yīng)所述參數(shù)配置命令的IIC協(xié)議包括：

根據(jù)所述參數(shù)配置命令的內(nèi)容按照IIC協(xié)議要求的格式產(chǎn)生對應(yīng)的IIC時序波形；

通過所述IIC接口發(fā)送所述IIC時序波形。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的參數(shù)測試方法，其中，可編輯邏輯門陣列模塊接收所述參數(shù)配置命令，通過IIC接口發(fā)送對應(yīng)所述參數(shù)配置命令的IIC協(xié)議之后還包括：

所述可編輯邏輯門陣列模塊在成功接收參數(shù)配置命令之后，發(fā)送接收成功的信息至所述上位機(jī)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)測試方法，其中，待測模塊接收所述IIC協(xié)議并對所述IIC協(xié)議進(jìn)行響應(yīng)包括：

根據(jù)配置的寄存器地址訪問目標(biāo)寄存器；

向所述目標(biāo)寄存器發(fā)送參考數(shù)據(jù)，并等待所述目標(biāo)寄存器響應(yīng)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的參數(shù)測試方法，其中，根據(jù)響應(yīng)結(jié)果產(chǎn)生應(yīng)答信號或非應(yīng)答信號包括：

判斷所述參考數(shù)據(jù)發(fā)送完成后，所述IIC協(xié)議中的數(shù)據(jù)信號是否被置為低電平；

若所述數(shù)據(jù)信號被置為低電平，所述待測模塊產(chǎn)生所述應(yīng)答信號；

若所述數(shù)據(jù)信號持續(xù)為高電平，所述待測模塊產(chǎn)生所述非應(yīng)答信號。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)測試方法，其中，所述數(shù)字信號包括數(shù)字信號0和數(shù)字信號1，

當(dāng)所述可編輯邏輯門陣列模塊接收所述應(yīng)答信號，通過串口發(fā)送數(shù)字信號0；

當(dāng)所述可編輯邏輯門陣列模塊接收所述非應(yīng)答信號，通過串口發(fā)送數(shù)字信號1。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)測試方法，其中，所述上位機(jī)接收所述數(shù)字信號，根據(jù)所述數(shù)字信號判斷響應(yīng)結(jié)果之后還包括：

所述上位機(jī)根據(jù)接收到的所述數(shù)字信號對發(fā)送的所述參數(shù)配置命令進(jìn)行響應(yīng)成功標(biāo)記或響應(yīng)不成功標(biāo)記。