[發(fā)明專利]一種觸探試驗(yàn)設(shè)備及其觸探試驗(yàn)記錄儀

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911252921.6
• 申請(qǐng)日: 2019-12-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110924932A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周治平;冷長(zhǎng)明;劉柏林;毛忠良;丁新紅;唐沛;王永國(guó);陳曉莉;郭靖;陶玉洋;鄧文慶;江濤;馮永陽(yáng);黃興;王凱;于海峰;盧愛(ài)民
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中鐵第五勘察設(shè)計(jì)院集團(tuán)有限公司
• 主分類號(hào): E21B47/00
• 分類號(hào): E21B47/00;E21B47/04;E21B47/26
• 代理公司: 北京新知遠(yuǎn)方知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11397
• 代理人: 馬軍芳;張艷

本申請(qǐng)實(shí)施例涉及地質(zhì)勘探原位測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種觸探試驗(yàn)設(shè)備及其觸探試驗(yàn)記錄儀。該觸探試驗(yàn)記錄儀包括用于量測(cè)試驗(yàn)深度的試驗(yàn)深度量測(cè)裝置、用于量測(cè)每次錘擊的貫入度的貫入度量測(cè)裝置、用于量測(cè)錘擊數(shù)的貫入擊數(shù)量測(cè)裝置、以及數(shù)據(jù)采集裝置；試驗(yàn)深度量測(cè)裝置、貫入度量測(cè)裝置和貫入擊數(shù)量測(cè)裝置均與數(shù)據(jù)采集裝置信號(hào)連接，并將獲取的測(cè)量信號(hào)輸入到數(shù)據(jù)采集裝置，數(shù)據(jù)采集裝置對(duì)測(cè)量信號(hào)進(jìn)行處理和存儲(chǔ)。該觸探試驗(yàn)記錄儀能夠自動(dòng)記錄試驗(yàn)深度、貫入度及貫入擊數(shù)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中試驗(yàn)深度量測(cè)耗時(shí)長(zhǎng)、數(shù)據(jù)采集效率低、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度低及人工成本高等缺點(diǎn)，并提高了地質(zhì)勘探中觸探試驗(yàn)數(shù)據(jù)采集的智能化水平。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及地質(zhì)勘探原位測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種觸探試驗(yàn)設(shè)備及其觸探試驗(yàn)記錄儀。

背景技術(shù)

在野外地質(zhì)勘探中，經(jīng)常利用觸探試驗(yàn)(主要包括標(biāo)準(zhǔn)貫入試驗(yàn)和動(dòng)力觸探試驗(yàn))獲得地基土的物理力學(xué)性質(zhì)指標(biāo)。在觸探試驗(yàn)過(guò)程中，利用錘擊功能(一定質(zhì)量的錘重自由落下固定的距離)將一定規(guī)格的貫入器打入鉆孔孔底的土中，經(jīng)過(guò)試驗(yàn)對(duì)比和相關(guān)分析，可獲得地基土的密實(shí)度、地基承載力、變形指標(biāo)等參數(shù)。標(biāo)準(zhǔn)貫入試驗(yàn)常用于一般黏性土、粉土及砂類土，動(dòng)力觸探試驗(yàn)常用于砂類土及碎石類土。在觸探試驗(yàn)中需要記錄的參數(shù)包括試驗(yàn)深度、貫入度及貫入擊數(shù)，上述三個(gè)參數(shù)通常都由現(xiàn)場(chǎng)人員手動(dòng)測(cè)量和記錄獲得，導(dǎo)致觸探試驗(yàn)具有量測(cè)耗時(shí)長(zhǎng)、數(shù)據(jù)采集效率低、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度低和人工成本高的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供了一種觸探試驗(yàn)設(shè)備及其觸探試驗(yàn)記錄儀，該觸探試驗(yàn)記錄儀能夠自動(dòng)記錄試驗(yàn)深度、貫入度及貫入擊數(shù)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中試驗(yàn)深度量測(cè)耗時(shí)長(zhǎng)、數(shù)據(jù)采集效率低、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度低及人工成本高等缺點(diǎn)，并提高了地質(zhì)勘探中觸探試驗(yàn)數(shù)據(jù)采集的智能化水平。

根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的第一個(gè)方面，提供了一種觸探試驗(yàn)記錄儀，該觸探試驗(yàn)記錄儀包括用于量測(cè)試驗(yàn)深度的試驗(yàn)深度量測(cè)裝置、用于量測(cè)每次錘擊的貫入度的貫入度量測(cè)裝置、用于量測(cè)錘擊數(shù)的貫入擊數(shù)量測(cè)裝置、以及數(shù)據(jù)采集裝置；

所述試驗(yàn)深度量測(cè)裝置、所述貫入度量測(cè)裝置和所述貫入擊數(shù)量測(cè)裝置均與所述數(shù)據(jù)采集裝置信號(hào)連接，并將獲取的測(cè)量信號(hào)輸入到所述數(shù)據(jù)采集裝置，所述數(shù)據(jù)采集裝置對(duì)測(cè)量信號(hào)進(jìn)行處理和存儲(chǔ)。

優(yōu)選地，所述貫入度量測(cè)裝置包括沿豎直方向相對(duì)設(shè)置的激光儀和激光反射板；

所述激光儀與所述數(shù)據(jù)采集裝置信號(hào)連接，并將激光發(fā)射與接收之間的時(shí)間差輸入到所述數(shù)據(jù)采集裝置；

所述數(shù)據(jù)采集裝置根據(jù)時(shí)間差計(jì)算貫入度。

優(yōu)選地，所述激光反射板為環(huán)形反射板。

優(yōu)選地，所述貫入擊數(shù)量測(cè)裝置包括與所述數(shù)據(jù)采集裝置信號(hào)連接的應(yīng)力應(yīng)變片；

所述數(shù)據(jù)采集裝置根據(jù)所述應(yīng)力應(yīng)變片的應(yīng)力值記錄錘擊數(shù)。

優(yōu)選地，所述貫入擊數(shù)量測(cè)裝置包括與所述數(shù)據(jù)采集裝置信號(hào)連接的電阻應(yīng)變片；

所述數(shù)據(jù)采集裝置根據(jù)所述電阻應(yīng)變片的電阻值記錄錘擊數(shù)。

優(yōu)選地，所述試驗(yàn)深度量測(cè)裝置為用于檢測(cè)應(yīng)力波及其反射波的檢波器。

優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)采集裝置包括用于采集試驗(yàn)點(diǎn)的位置信息的定位組件

優(yōu)選地，所述定位組件為北斗定位器或GPS(Global Positioning System，全球定位系統(tǒng))定位器。

另外，根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的第二個(gè)方面，還提供了一種觸探試驗(yàn)設(shè)備，該觸探試驗(yàn)設(shè)備包括觸探桿和上述技術(shù)方案提供的任意一種觸探試驗(yàn)記錄儀；

所述觸探桿的頂部設(shè)置有錘墊；

所述試驗(yàn)深度量測(cè)裝置、所述貫入度量測(cè)裝置和所述貫入擊數(shù)量測(cè)裝置均固定安裝于所述觸探桿上。