[發明專利]用于x射線檢查的系統和方法

在審

• 申請號: 201911252629.4
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN111323442A
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發明（設計）人: 莫爾塔扎·薩法伊
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01N23/203
• 分類號: G01N23/203;G01N23/20;G01N23/04
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 沈丹陽

1.一種用于x射線檢查的系統(10)，所述系統(10)包括：

x射線發射器(12)；

x射線傳感器陣列(26)，包括：

第一x射線傳感器(27)；

與所述第一x射線傳感器(27)相鄰的第二x射線傳感器(28)；以及

耦接器(302/304)，能移動地將所述第一x射線傳感器(27)耦接到所述第二x射線傳感器(28)，其中，所述第一x射線傳感器(27)能經由所述耦接器(302/304)相對于所述第二x射線傳感器(28)移動到多個方位；以及

成像裝置(40)，基于來自所述x射線傳感器陣列(26)的信息生成檢查圖像。

2.根據權利要求1所述的系統(10)，其中，所述x射線傳感器陣列(26)被配置為檢測背散射的x射線(32)。

3.根據權利要求1所述的系統(10)，其中，所述x射線傳感器陣列(26)被配置為檢測直通x射線(34)。

4.根據權利要求1所述的系統(10)，其中，所述第二x射線傳感器(28)能經由所述耦接器(302/304)相對于所述第一x射線傳感器(27)沿第一維度(102)調節，并且所述x射線傳感器陣列(26)還包括第三x射線傳感器(25)，所述第三x射線傳感器(25)能經由第二耦接器(304)相對于所述第一x射線傳感器(27)沿與所述第一維度(102)偏移的第二維度(104)調節，所述第二耦接器(304)能移動地耦接所述第一x射線傳感器(27)和所述第三x射線傳感器(25)。

5.根據權利要求4所述的系統(10)，其中，所述x射線傳感器陣列(26)在三個維度上是能調節的。

6.根據權利要求1所述的系統(10)，其中，所述第一x射線傳感器(27)和所述第二x射線傳感器(28)中的至少一者包括轉換邊界傳感器。

7.根據權利要求1所述的系統(10)，其中，所述耦接器(302/304)是能響應于目標結構(30)的幾何形狀自動調節的。

8.一種用于x射線檢查的方法，所述方法包括：

相對于目標結構(30)定位x射線發射器(12)；

使包括多個能移動地互連的x射線傳感器(25、27、28)的x射線傳感器陣列(26)成形，以互補所述目標結構(30)的形狀；

在所述x射線傳感器陣列(26)處檢測來自所述目標結構(30)的x射線；以及

基于來自所述x射線傳感器陣列(26)的信息生成所述目標結構(30)的檢查圖像。

9.根據權利要求8所述的方法，還包括響應于所述目標結構(30)的形狀的變化而對所述x射線傳感器陣列(26)重新成形。

10.根據權利要求8所述的方法，其中，使所述x射線傳感器陣列(26)成形包括：沿第一維度(102)和第二維度(104)定向多個x射線傳感器(25、27、28)。