[發明專利]一種改進型矩陣按鍵掃描電路及方法

在審

• 申請號: 201911251453.0
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN110752849A
• 公開（公告）日: 2020-02-04
• 發明（設計）人: 胡志恒;劉筱明;高中偉
• 申請（專利權）人: 佛山市賽揚電子科技有限公司
• 主分類號: H03M11/00
• 分類號: H03M11/00
• 代理公司: 34126 合肥市科融知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 林娣

本發明公開了一種改進型矩陣按鍵掃描電路及方法，以對8個按鍵進行掃描為例，它由開關S1?S8、電阻R1?R8以及單片機MCU組成，所述單片機MCU的IO口之一A口接電阻R1的一端，電阻R1另一端分別與開關S1、開關S2、開關S5、開關S6的第2腳以及電阻R6的一端相連接，開關S1的第1腳與二極管D1陽極相連接，開關S2的第1腳與二極管D2陰極相連接，開關S5的第1腳與二極管D5陽極相連接，開關S6的第1腳與二極管D6陰極相連接，本發明比常規的矩陣式掃描檢測電路可節省更多的IO口資源。比如，以對8個按鍵進行掃描為例，按傳統矩陣掃描電路，至少需要6個IO口，但在本發明方案中，卻只需要4個IO口即可，同比具有明顯的資源優勢和性價比優勢。

技術領域

本發明涉及電子控制技術領域，具體是一種改進型矩陣按鍵掃描電路及方法。

背景技術

在電氣和電子控制領域，經常會遇到人機對話的界面技術問題，其中對各種按鍵開關實施閉合或斷開的掃描檢測，是必不可少的技術。

在常規按鍵掃描檢測技術中，大多采用了單點檢測、行掃以及矩陣式掃描，尤其在多按鍵開關情況下，實施矩陣式掃描檢測方式是常用的技術選擇。矩陣式掃描檢測電路一般把按鍵按節點分布方式，以最小數量行列數為原則排列要掃描的按鍵開關，因此其占用掃描需要的IO口資源數也就等于矩陣的行數加列數的數量，比如，一個m×n矩陣掃描電路，其需要的IO口數量=m+n。

本發明，一種改進型矩陣按鍵掃描電路，它比常規的矩陣式掃描檢測電路可節省更多的IO口資源。比如，以本發明的對8個按鍵進行掃描為例，按傳統矩陣掃描電路，至少需要6個IO口，但在本發明方案中，卻只需要4個IO口即可，同比具有明顯的資源優勢和性價比優勢。

發明內容

本發明的目的在于提供一種改進型矩陣按鍵掃描電路及方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種改進型矩陣按鍵掃描電路，以對8個按鍵進行掃描為例，它由開關S1-S8、電阻R1-R8以及單片機MCU組成，所述單片機MCU的IO口之一A口接電阻R1的一端，電阻R1另一端分別與開關S1、開關S2、開關S5、開關S6的第2腳以及電阻R6的一端相連接，開關S1的第1腳與二極管D1陽極相連接，開關S2的第1腳與二極管D2陰極相連接，開關S5的第1腳與二極管D5陽極相連接，開關S6的第1腳與二極管D6陰極相連接，電阻R6的另一端則與系統電源地相連接；單片機MCU的IO口之一B口接電阻R2的一端，電阻R2另一端分別與開關S3、開關S4、開關S7、開關S8的第2腳以及電阻R5的一端相連接，開關S3的第1腳與二極管D3陽極相連接，開關S4的第1腳與二極管D4陰極相連接，開關S7的第1腳與二極管D7陽極相連接，開關S8的第1腳與二極管D8陰極相連接，電阻R5的另一端則與系統電源地相連接。二極管D1的陰極、二極管D2的陽極、二極管D3的陰極、二極管D4的陽極相并聯后又與電阻R3、電阻R7的一端相連接，電阻R3的另一端則與單片機MCU的IO口之一C口連接，電阻R7的另一端則與系統電源地相連接；二極管D5的陰極、二極管D6的陽極、二極管D7的陰極、二極管D8的陽極相并聯后又與電阻R4、電阻R8的一端相連接，電阻R4的另一端則與單片機MCU的IO口之一D口連接，電阻R8的另一端則與系統電源地相連接。

作為本發明的進一步方案：所述電阻R1-R4的阻值相同。

作為本發明的進一步方案：所述單片機MCU為PIC16CXX系列單片機。

作為本發明的進一步方案：所述開關S1-S8均為按鍵開關。

作為本發明的進一步方案：所述電阻R5-R8的阻值相同，電阻R1-R4的阻值小于電阻R5-R8的阻值。