[發明專利]一種紅外圖像細節層的處理方法及裝置有效
| 申請號: | 201911237672.3 | 申請日: | 2019-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN111161162B | 公開(公告)日: | 2022-10-14 |
| 發明(設計)人: | 周波;梁琨 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學鄂州工業技術研究院;華中科技大學 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 436044 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 紅外 圖像 細節 處理 方法 裝置 | ||
1.一種紅外圖像細節層的處理方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取原始紅外圖像;
對所述原始紅外圖像進行引導濾波,獲得原始細節層圖像;
根據所述原始紅外圖像,獲取第一噪聲掩膜函數;
根據所述原始細節層圖像,獲取第二噪聲掩膜函數;
根據所述第一噪聲掩膜函數和所述第二噪聲掩膜函數,獲得第三噪聲掩膜函數;
根據所述第三噪聲掩膜函數對所述原始細節層圖像進行處理,獲得優化細節層圖像;
其中,所述根據所述第一噪聲掩膜函數和所述第二噪聲掩膜函數,獲得第三噪聲掩膜函數,包括:基于獲得所述第三噪聲掩膜函數;其中,Mk為所述第三噪聲掩膜函數,所述第一噪聲掩膜函數為所述第二噪聲掩膜函數為σk12和σk22分別為所述原始紅外圖像和所述原始細節層圖像中像素的灰度級方差,ε1和ε2分別為Mk1和Mk2的懲罰值;或者,所述根據所述第一噪聲掩膜函數和所述第二噪聲掩膜函數,獲得第三噪聲掩膜函數,包括:對所述第一噪聲掩膜函數分配第一權重;對所述第二噪聲掩膜函數分配第二權重;其中,所述第一權重和所述第二權重之和為1;根據分配所述第一權重的所述第一噪聲掩膜函數和分配所述第二權重的所述第二噪聲掩膜函數之和,獲得所述第三噪聲掩膜函數。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述原始紅外圖像進行引導濾波,獲得原始細節層圖像,包括:
對所述原始紅外圖像進行引導濾波,獲得基本層圖像;
計算所述原始紅外圖像與所述基本層圖像之差,獲得原始細節層圖像。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述原始紅外圖像和所述原始細節層圖像中像素的灰度級方差的計算窗口大小為3*3。
4.一種紅外圖像細節層的處理裝置,其特征在于,所述裝置包括:
原始紅外圖像獲取模塊,用于獲取原始紅外圖像;
原始細節層圖像獲取模塊,用于對所述原始紅外圖像進行引導濾波,獲得原始細節層圖像;
第一噪聲掩膜函數獲取模塊,用于根據所述原始紅外圖像,獲取第一噪聲掩膜函數;
第二噪聲掩膜函數獲取模塊,用于根據所述原始細節層圖像,獲取第二噪聲掩膜函數;
第三噪聲掩膜函數獲取模塊,用于根據所述第一噪聲掩膜函數和所述第二噪聲掩膜函數,獲得第三噪聲掩膜函數;
細節層圖像優化模塊,用于根據所述第三噪聲掩膜函數對所述原始細節層圖像進行處理,獲得優化細節層圖像;
第三噪聲掩膜函數獲取模塊,具體用于基于獲得所述第三噪聲掩膜函數;其中,Mk為所述第三噪聲掩膜函數,所述第一噪聲掩膜函數為所述第二噪聲掩膜函數為σk12和σk22分別為所述原始紅外圖像和所述原始細節層圖像中像素的灰度級方差,ε1和ε2分別為Mk1和Mk2的懲罰值;或者,具體用于對所述第一噪聲掩膜函數分配第一權重;對所述第二噪聲掩膜函數分配第二權重;其中,所述第一權重和所述第二權重之和為1;根據分配所述第一權重的所述第一噪聲掩膜函數和分配所述第二權重的所述第二噪聲掩膜函數之和,獲得所述第三噪聲掩膜函數。
5.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,該程序被處理器執行時實現權利要求1-3中任一項所述方法的步驟。
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