[發明專利]基于LabVIEW的測試方法在審
| 申請號： | 201911234241.1 | 申請日： | 2019-12-05 |
| 公開（公告）號： | CN112925699A | 公開（公告）日： | 2021-06-08 |
| 發明（設計）人： | 嚴寒文 | 申請（專利權）人： | 上海歐菲智能車聯科技有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/36 | 分類號： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京恒博知識產權代理有限公司 11528 | 代理人： | 范勝祥 |
| 地址： | 201808 上海市嘉*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 labview 測試 方法 | ||
本申請涉及終端技術領域，具體涉及基于LabVIEW的測試方法，所述測試方法執行于計算機中，所述計算機包括顯示屏、存儲器、處理器及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器運行所述計算機程序時執行以下步驟：在所述顯示屏上通過可視化用戶界面定義參數配置文件參數類型和參數值，并存儲于所述存儲器；將所述參數配置文件的執行標記寫入到測試順序配置文件中；所述處理器執行所述測試順序配置文件并在執行參數配置文件的執行標記時調用所述參數配置文件進行測試。本申請實施例的技術方案使得電路測試可視化，進而提高了測試效率。
技術領域
本申請涉及終端技術領域，具體涉及一種基于LabVIEW的測試方法。
背景技術
LabVIEW(Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench)是由美國國家儀器有限(NI)公司研制開發的一種程序開發環境，類似于C和BASIC開發環境。用戶可以根據自身的需求，在圖形界面上使用圖標和連線，通過編程對LabVIEW前面板上的對象進行控制。用戶可以基于LabVIEW進行測試測量、軟件模擬等工作。但現有測試方法調用函數多，人工操作復雜，測試效率低。
發明內容
本申請實施例提供一種基于LabVIEW的測試方法，能夠提高編程的質量和效率。
第一方面，本申請實施例提供一種基于LabVIEW的測試方法，所述測試方法執行于計算機中，所述計算機包括顯示屏、存儲器、處理器及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器運行所述計算機程序時執行以下步驟：
在所述顯示屏上通過可視化用戶界面定義參數配置文件參數類型和參數值，并存儲于所述存儲器；
將所述參數配置文件的執行標記寫入到測試順序配置文件中；
所述處理器執行所述測試順序配置文件并在執行參數配置文件的執行標記時調用所述參數配置文件進行測試。通過基于參數類型和參數值生成參數配置文件即測試參數文件，可以減小用戶的編程時間，可以減小不同用戶編寫的參數配置文件之間的差別，進而可以提高編程的質量和效率。
根據一些實施例，所述方法還包括：
所述處理器執行針對電路的測試指令。
如此提高電路測試效率。
根據一些實施例，所述方法還包括：
獲取所述電路測試結果；
檢測到所述電路測試結果符合預設條件時，通過顯示設備顯示所述電路測試結果符合預設條件的提示信息。如此使得電路測試可視化，提高了測試效率。
根據一些實施例，所述參數配置文件包括封裝函數，所述方法還包括：
生成所述封裝函數。
根據一些實施例，所述生成所述封裝函數包括：
獲取所述參數配置文件的調用次數；
檢測到所述調用次數大于預設次數時，對所述參數配置文件進行封裝，生成所述封裝函數；
將所述封裝函數與電路進行關聯，以及將所述封裝函數存儲至函數庫。
根據一些實施例，所述方法還包括：
接收針對電路的測試指令；
基于所述測試指令，查詢與所述電路關聯的封裝函數；
基于所述封裝函數，對所述電路進行測試。
第二方面，本申請實施例提供一種基于LabVIEW的參數配置文件的生成裝置，包括：
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