[發(fā)明專利]肖特基二極管及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911231350.8 | 申請日: | 2019-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN111129163B | 公開(公告)日: | 2023-06-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王元?jiǎng)?/a>;呂元杰;馮志紅;劉紅宇;宋旭波;周幸葉;譚鑫;梁士雄;韓婷婷 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所 |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L21/329;H01L29/06 |
| 代理公司: | 石家莊國為知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120 | 代理人: | 付曉娣 |
| 地址: | 050051 *** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 肖特基 二極管 及其 制備 方法 | ||
1.一種肖特基二極管的制備方法,其特征在于,包括:
在襯底上外延n型氧化鎵層;
在所述n型氧化鎵層上制備第一掩膜層;其中,所述第一掩膜層的窗口為待制備的熱氧化處理區(qū)所對應(yīng)的區(qū)域,所述熱氧化處理區(qū)包括至少一個(gè)第一熱氧化區(qū)和兩個(gè)第二熱氧化區(qū);
對器件正面進(jìn)行高溫退火處理,形成熱氧化處理區(qū);
去除所述第一掩膜層;
制備正面的陽極金屬層和背面的陰極金屬層;
其中,所述陽極金屬層在所述n型氧化鎵層上的投影對應(yīng)的區(qū)域?yàn)榈谝粎^(qū)域,所述陽極金屬層在所述n型氧化鎵層上的投影對應(yīng)的區(qū)域以外的區(qū)域?yàn)榈诙^(qū)域,所述第一熱氧化區(qū)位于第一區(qū)域;每個(gè)第二熱氧化區(qū)的第一部分位于第一區(qū)域,每個(gè)第二熱氧化區(qū)的第二部分位于第二區(qū)域;
所述熱氧化處理區(qū)還包括:第三熱氧化區(qū),位于所述第二區(qū)域;
在形成熱氧化處理區(qū)后,還包括:
對所述第一熱氧化區(qū)、第二熱氧化區(qū)和第三熱氧化區(qū)中的至少一個(gè)進(jìn)行高溫退火再處理;
所述高溫退火再處理用于形成多個(gè)濃度不同和/或多個(gè)深度不同的所述第一熱氧化區(qū)、所述第二熱氧化區(qū)和所述第三熱氧化區(qū)。
2.如權(quán)利要求1所述的肖特基二極管的制備方法,其特征在于,
所述襯底為n型氧化鎵襯底,且摻雜濃度大于所述n型氧化鎵層的摻雜濃度。
3.如權(quán)利要求1所述的肖特基二極管的制備方法,其特征在于,所述n型氧化鎵層為非均勻摻雜;
所述n型氧化鎵層為從上至下濃度增加的多層結(jié)構(gòu)。
4.如權(quán)利要求1所述的肖特基二極管的制備方法,其特征在于,所述制備正面的陽極金屬層包括:
在去除所述第一掩膜層后,淀積絕緣介質(zhì)層;
通過干法刻蝕或濕法腐蝕去除預(yù)設(shè)陽極區(qū)域的絕緣介質(zhì)層;
制備具有場板結(jié)構(gòu)的正面的陽極金屬層;其中,所述場板結(jié)構(gòu)包括單層場板結(jié)構(gòu)、多層場板結(jié)構(gòu)和斜場板結(jié)構(gòu);
相應(yīng)的,所述預(yù)設(shè)陽極區(qū)域?yàn)榈谝粎^(qū)域,預(yù)設(shè)陽極區(qū)域以外的區(qū)域?yàn)榈诙^(qū)域。
5.一種肖特基二極管,其特征在于,包括:
襯底;
n型氧化鎵層,形成在所述襯底上;
陽極金屬層,形成在所述n型氧化鎵層上;
陰極金屬層,形成在襯底的背面;
其中,所述n型氧化鎵層中包括:至少一個(gè)第一熱氧化區(qū)和兩個(gè)第二熱氧化區(qū),所述陽極金屬層在所述n型氧化鎵層上的投影對應(yīng)的區(qū)域?yàn)榈谝粎^(qū)域,所述陽極金屬層在所述n型氧化鎵層上的投影對應(yīng)的區(qū)域以外的區(qū)域?yàn)榈诙^(qū)域,所述第一熱氧化區(qū)位于第一區(qū)域,且與所述陽極金屬層接觸;每個(gè)第二熱氧化區(qū)的第一部分位于第一區(qū)域,每個(gè)第二熱氧化區(qū)的第二部分位于第二區(qū)域,且每個(gè)第二熱氧化區(qū)的第一部分與所述陽極金屬層接觸;
所述n型氧化鎵層中還包括:
第三熱氧化區(qū),位于所述第二區(qū)域,且所述第三熱氧化區(qū)的上表面為所述n型氧化鎵層的上表面;
所述第一熱氧化區(qū)、所述第二熱氧化區(qū)和所述第三熱氧化區(qū)的形成過程中退火溫度和退火時(shí)間不相同;
所述第一熱氧化區(qū)、所述第二熱氧化區(qū)和所述第三熱氧化區(qū)的濃度不同和/或深度不同。
6.如權(quán)利要求5所述的肖特基二極管,其特征在于,
所述襯底為n型氧化鎵襯底,且摻雜濃度大于所述n型氧化鎵層的摻雜濃度;
所述n型氧化鎵層為非均勻摻雜,所述n型氧化鎵層為從上至下濃度增加的多層結(jié)構(gòu)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所,未經(jīng)中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911231350.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





