[發明專利]半導體設備和包括半導體設備的半導體系統有效
| 申請號: | 201911225501.9 | 申請日: | 2019-12-04 |
| 公開(公告)號: | CN111309091B | 公開(公告)日: | 2023-01-03 |
| 發明(設計)人: | 金度亨;姜敏瑩 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G05F3/26 | 分類號: | G05F3/26;G01R19/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 邵亞麗 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體設備 包括 半導體 系統 | ||
提供了一種半導體設備,并且其包括:電壓感測電路,配置為基于施加到其的目標電壓輸出第一感測電壓和第二感測電壓;和比較電路,配置為基于第一感測電壓和第二感測電壓的電平生成監測輸出信號,其中,電壓感測電路包括:第一晶體管,包括用于接收參考偏置電壓的柵極、連接到輸入節點的源極、和連接到第一電阻性元件的一端的漏極;第二晶體管,與第一晶體管被提供在電流鏡結構中,并且包括連接到第三電阻性元件的漏極;和第二電阻性元件,其連接到第一電阻性元件的另一端,第一感測電壓被提供給第二電阻性元件的兩端,并且第二感測電壓被提供給第三電阻性元件的兩端。
相關申請的交叉引用
本申請要求于2018年12月11日在韓國知識產權局提交的韓國專利申請No.10-2018-0159166的優先權,其公開內容通過引用整體合并于此。
技術領域
與一個或多個示例性實施例一致的裝置和方法涉及半導體設備和包括半導體設備的半導體系統。
背景技術
相關技術電子設備包括多個電路。當操作要向多個電路供應的信號時,包括在多個電路中的安全信息等可能泄漏。例如,在向特殊電路供應的電壓由于外部惡意攻擊等而顯著地下降的情況下,可能削弱所述特殊電路的安全性。
為了確保對于多個電路的安全性的可靠性,可以監測要向多個電路中的每一個供應的信號。
另一方面,在監測向多個電路中的每一個供應的信號的設備受到來自外部的惡意攻擊的情況下,因為向多個電路中的每一個供應的信號的監測自身不是正常地操作的,所以不可能可靠地保護多個電路。
發明內容
一個或多個示例性實施例的方面提供了半導體設備和包括半導體設備的半導體系統,其中監測電路布置在監測電路中以確保操作的可靠性和要監測的電路的安全性。
一個或多個示例性實施例的方面也提供了半導體設備和包括半導體設備的半導體系統,其能夠使用監測電路確定操作的可靠性和監測電路自身的安全性降低的情況。
然而,示例性實施例的方面不限于本文闡述的那些方面。通過參考下面提供的詳細描述,上述和其它方面對于本領域普通技術人員將變得更加清楚。
根據示例性實施例的方面,提供了半導體設備,包括:電壓感測電路,從輸入節點被施加目標電壓,并且配置為基于目標電壓輸出第一感測電壓和第二感測電壓;和比較電路,配置為基于第一感測電壓的電平和第二感測電壓的電平生成對應于目標電壓的監測輸出信號,其中,電壓感測電路包括:第一晶體管,包括用于接收參考偏置電壓的柵極、連接到輸入節點的源極、和連接到第一電阻性元件的一端的漏極;第二晶體管,與第一晶體管在電流鏡結構中提供,并且包括用于接收參考偏置電壓的柵極、連接到輸入節點的源極、和連接到第三電阻性元件的漏極;和第二電阻性元件,連接到第一電阻性元件的另一端,并且其中第一感測電壓是向第二電阻性元件的兩端提供的電壓,并且第二感測電壓是向第三電阻性元件的兩端提供的電壓。
根據另一示例性實施例的方面,提供了半導體設備,包括:第一電壓監測電路,被施加第一目標電壓,并且配置為使用在電流鏡結構中排列的第一晶體管和第二晶體管生成指示第一目標電壓的電平是否包括在第一參考電壓范圍中的第一監測輸出信號;和第二電壓監測電路,被施加第一目標電壓和第二目標電壓,并且配置為基于第一目標電壓的電平和第二目標電壓的電平生成指示第二目標電壓的電平是否包括在第二參考電壓范圍中的第二監測輸出信號,其中相同參考偏置電壓施加到第一晶體管的柵極和第二晶體管的柵極,并且第一晶體管的幅度不同于第二晶體管的幅度。
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