[發明專利]用于集成電路老化測試的手動測試夾具

在審

• 申請號: 201911203859.1
• 申請日: 2019-11-29
• 公開（公告）號: CN110736918A
• 公開（公告）日: 2020-01-31
• 發明（設計）人: 姜揚;王傳剛
• 申請（專利權）人: 法特迪精密科技(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 32260 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 豐葉

本發明公開了一種用于集成電路老化測試的手動測試夾具，包括測試蓋、集成電路測試座，測試蓋位于集成電路測試座上方，且測試蓋能蓋合集成電路測試座，測試蓋上設置有溫度傳感器，溫度傳感器能與集成電路測試座上的待測集成電路上表面接觸，溫度傳感器與測試蓋彈性連接，測試蓋上設置有對待測集成電路降溫的降溫元器件、對待測集成電路升溫的加熱元器件，加熱元器件、降溫元器件以及溫度傳感器分別連接到溫控設備的控制連接器的第一引腳、第三引腳上，控制連接器的第五引腳和第六引腳上串聯有溫度傳感器，控制連接器的第二引腳、第四引腳接地。本發明能有效加熱待測集成電路，使集成電路處于符合要求的溫度區間的用于集成電路老化測。

技術領域

本發明涉及一種用于集成電路老化測試的手動測試夾具。

背景技術

傳統的集成電路老化測試，需要將測試夾具放入密閉空間(老化爐)中，控制密閉空間內的環境溫度，以達到加快集成電路達到使用壽命的目的。但這種方式為提高效率需要集中大量的測試夾具，當集成電路數量不大并且需要對每顆待測集成電路進行監控時，傳統的老化爐測試已無法滿足要求。

發明內容

為克服上述缺點，本發明的目的在于提供一種有效加熱待測集成電路，使集成電路處于符合要求的溫度區間的用于集成電路老化測試的手動測試夾具。

為了達到以上目的，本發明采用的技術方案是：一種用于集成電路老化測試的手動測試夾具，包括測試蓋、集成電路測試座，所述測試蓋位于集成電路測試座上方，且所述測試蓋能蓋合所述集成電路測試座，所述測試蓋上設置有溫度傳感器，所述溫度傳感器能與集成電路測試座上的待測集成電路上表面接觸，所述溫度傳感器與測試蓋彈性連接，所述測試蓋上設置有對待測集成電路降溫的降溫元器件、對待測集成電路升溫的加熱元器件，所述加熱元器件、降溫元器件以及溫度傳感器連接到外部輔助的溫控設備的控制連接器的第一引腳、第三引腳上，所述控制連接器的第五引腳和第六引腳上串聯有溫度傳感器，所述控制連接器的第二引腳、第四引腳接地。

本發明用于集成電路老化測試的手動測試夾具的有益效果是，采用上述方案后，具有所需空間小，一顆集成電路配合一套測試夾具即可進行集成電路的老化測試，不需要考慮傳統老化爐的空間利用成本；以及精度高，每一套測試夾具都有獨立的溫度傳感器、加熱棒和風扇，可以精準控制每一顆集成電路的溫度處于所需溫度區間的優點。

優選地，還包括串聯的電阻、加熱指示燈，串聯的所述電阻、加熱指示燈與加熱元器件并聯。電阻是給加熱指示燈限流分壓用的，使指示燈能正常工作。加熱指示燈亮時說明正處于加熱狀態。

優選地，還包括肖特基整流二極管，所述肖特基整流二極管與降溫元器件并聯。由于降溫元器件是感性負載，肖特基二極管作為續流二極管，在降溫元器件關閉時保護電路元件不被感應電壓擊穿或燒壞。

優選地，所述降溫元器件為風扇。

優選地，所述溫度傳感器采用常用的接觸式熱電偶，針對集成電路的老化溫度(一般在80℃－150℃)，一般選用K型熱電偶。

優選地，所述加熱元器件采用加熱棒，所述加熱棒設置有多個，多個所述加熱棒橫向設置在測試蓋上。橫向設置的加熱棒能將測試蓋加熱均勻。之所以采用加熱棒作為加熱元器件，是因為考慮到集成電路尺寸比較小的因素，選用這種尺寸最小的加熱棒作為最合適的熱源。

優選地，所述降溫元器件設置在加熱元器件的上方，所述加熱元器件底部的測試蓋為封閉結構，用以壓合集成電路測試座內的待測集成電路，所述測試蓋底部采用導熱性較好的金屬，如銅、鋁等材質。

優選地，所述測試蓋與集成電路測試座對應的相對兩側設置有扣合兩者的彈性卡扣。測試蓋可以手動蓋合或是利用機器自動壓合，彈性卡扣的設置用以保證測試蓋與集成電路測試座的扣合。

附圖說明

圖1為本實施例的立體圖；

圖2為本實施例中的電路原理圖。