[發明專利]一種測量X射線能量的裝置及方法

有效

• 申請號: 201911197922.5
• 申請日: 2019-11-29
• 公開（公告）號: CN110794448B
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 朱常青;王進光;馮杰;何雨航;陳黎明
• 申請（專利權）人: 中國科學院物理研究所
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36
• 代理公司: 北京市英智偉誠知識產權代理事務所(普通合伙) 11521
• 代理人: 劉丹妮;姚望舒

1.一種測量X射線能量的裝置，其特征在于，所述裝置包括：鉛屏盒、IP支撐板、金屬濾片支撐板和2～10組金屬濾片，利用不同種類和厚度濾片的組合方式，能實現對0～90keV能段內X射線光子數的精確測量，又能對大能量范圍0～300keV內的X射線進行較為精確地計算，其中所述金屬濾片兩兩一組；并且，當所述裝置具有多組金屬濾片時，所述多組濾片堆棧排布于所述金屬濾片支撐板上；

所述金屬濾片的材料選自過渡金屬或第三、第四主族金屬元素；

所述金屬濾片為底部具有小孔的等腰三角形，小孔在底邊的中心線上。

2.根據權利要求1所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，所述裝置具有5～7組金屬濾片。

3.根據權利要求1所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，所述過渡金屬或第三、第四主族金屬元素以下一種或多種：Ga、Ti、Al、Mo、Sn、Dy、Cu、Ta、Pb、Au、W。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于：整個濾片的厚度是均勻分布的，其頂角是25～40°。

5.根據權利要求4所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，所述濾片頂角為30～40°。

6.根據權利要求5所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，所述濾片頂角為36°。

7.根據權利要求1所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，當所述金屬濾片的材料選自：Ga、Ti、Al、Mo、Sn、Dy、Cu、Ta、Pb、Au中的一種或多種時，其厚度為1μm～300μm。

8.根據權利要求7所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，當所述金屬濾片的材料選自：Ga、Ti、Al、Mo、Sn、Dy、Cu、Ta、Pb、Au中的一種或多種時，其厚度為5μm～150μm。

9.根據權利要求1所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，當所述金屬濾片的材料選自：Al、Ta、Cu、W中的一種或多種時，其厚度為0.1～10mm。

10.根據權利要求9所述的測量X射線能量的裝置，其特征在于，當所述金屬濾片的材料選自：Al、Ta、Cu、W中的一種或多種時，其厚度為0.1～8mm。

11.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述鉛屏盒采用鉛制作，所述鉛屏盒兩個側面對應地具有凹槽，所述鉛屏盒的上側和底面對應地具有小孔；所述鉛屏盒每個面的厚度為1～5cm。

12.根據權利要求11所述的裝置，其特征在于，所述鉛屏盒每個面的厚度為1～3cm。

13.根據權利要求12所述的裝置，其特征在于，所述鉛屏盒每個面的厚度為2cm。

14.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述IP支撐板脊背緊貼鉛屏盒后側從豎直方向插入，所述IP支撐板的凸起與所述鉛屏盒側面的凹槽互相鑲嵌在一起，IP從上方插入所述IP支撐板縫隙，并與IP支撐板脊背相靠。

15.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述金屬濾片支撐板具有均勻分布的正面螺紋孔和側面螺紋孔，所述側面螺紋孔用于將金屬濾片支撐板固定在鉛屏盒的小孔上。

16.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述金屬濾片底部小孔用于將所述金屬濾片固定在所述金屬濾片支撐板正面螺紋孔上。

17.一種利用金屬濾片測量X射線能量的方法，其特征在于，所述方法包括使用權利要求1至16中任一項所述的裝置來進行X射線能量的測量。