[發(fā)明專利]一種具有防塵功能的集成電路測試儀器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911193618.3
• 申請日: 2019-11-28
• 公開（公告）號: CN111220896B
• 公開（公告）日: 2021-04-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄭孝清;黃文濤;王慧芳
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市瀚翔工業(yè)設(shè)計有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02
• 代理公司: 北京高航知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11530
• 代理人: 喬浩剛

1.一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，包括墻壁（1）、儀器主體（3）、第一彈簧（8）和第二彈簧（14），所述墻壁（1）的一側(cè)固定有固定架（2），所述儀器主體（3）位于固定架（2）遠(yuǎn)離墻壁（1）的一側(cè)，其中，

所述儀器主體（3）靠近固定架（2）的一側(cè)四角固定有支腳（4），所述儀器主體（3）遠(yuǎn)離支腳（4）的一側(cè)設(shè)置有防塵蓋（5），所述儀器主體（3）靠近防塵蓋（5）的較短一邊兩側(cè)開設(shè)有擋板槽（6），所述儀器主體（3）靠近擋板槽（6）的頂部開設(shè)有連接桿槽（7），所述連接桿槽（7）與擋板槽（6）相連通；

所述第一彈簧（8）固定在擋板槽（6）的底部，所述第一彈簧（8）的頂部固定有擋板（9），所述擋板（9）遠(yuǎn)離第一彈簧（8）的一側(cè)固定有連接桿（10），所述連接桿（10）遠(yuǎn)離擋板（9）的一側(cè)轉(zhuǎn)動連接有轉(zhuǎn)動桿（11），所述轉(zhuǎn)動桿（11）遠(yuǎn)離連接桿（10）的一端與防塵蓋（5）固定連接，所述儀器主體（3）靠近防塵蓋（5）的較短另一邊兩側(cè)開設(shè)有彈簧槽（12）；

所述防塵蓋（5）靠近彈簧槽（12）的一側(cè)固定有頂桿（13），所述第二彈簧（14）固定在彈簧槽（12）的內(nèi)部，所述儀器主體（3）遠(yuǎn)離擋板槽（6）的一側(cè)中部轉(zhuǎn)動連接有連接架（15），所述防塵蓋（5）遠(yuǎn)離轉(zhuǎn)動桿（11）的一側(cè)中部固定有固定桿（16），所述連接架（15）靠近固定桿（16）的一側(cè)開設(shè)有固定槽（17）；

所述固定架（2）靠近儀器主體（3）的四角開設(shè)有開口槽（18），所述固定架（2）靠近開口槽（18）的一側(cè)開設(shè)有支腳槽（19），所述固定架（2）靠近儀器主體（3）一側(cè)中部固定有卡塊（20），所述儀器主體（3）靠近卡塊（20）的一側(cè)開設(shè)有卡槽（21）。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，其特征在于：所述儀器主體（3）包括控制面板（301）和檢測連接頭(302），所述儀器主體（3）遠(yuǎn)離固定架（2）的一側(cè)設(shè)置有控制面板（301），所述儀器主體（3）靠近控制面板（301）的一側(cè)設(shè)置有檢測連接頭（302）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，其特征在于：所述支腳（4）包括第一支桿（401）、和第二支桿（402）、螺桿槽（403）和螺桿（404），所述支腳（4）通過第一支桿（401）與儀器主體（3）固定連接，所述第一支桿（401）遠(yuǎn)離儀器主體（3）的一側(cè)連接有第二支桿（402），所述第一支桿（401）靠近第二支桿（402）的一側(cè)開設(shè)有螺桿槽（403），所述第二支桿（402）靠近螺桿槽（403）的一側(cè)固定有螺桿（404）。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，其特征在于：所述擋板（9）為圓柱體，且擋板（9）通過第一彈簧（8）與儀器主體（3）構(gòu)成彈性連接，并且擋板（9）的外徑大于連接桿槽（7）的內(nèi)徑。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，其特征在于：所述連接桿（10）為圓柱體，且連接桿（10）的外徑與連接桿槽（7）的內(nèi)徑相吻合，并且連接桿（10）的長度大于連接桿槽（7）的高度。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，其特征在于：所述連接架（15）轉(zhuǎn)動處到固定槽（17）的垂直距離與連接架（15）轉(zhuǎn)動處到固定桿（16）的垂直距離相等，并且固定桿（16）為圓柱體，而且固定桿（16）的外徑與固定槽（17）的內(nèi)徑相吻合。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，其特征在于：所述開口槽（18）與支腳槽（19）相連通，且開口槽（18）的開口尺寸大于支腳（4）的外部尺寸，并且支腳（4）與支腳槽（19）為T形，而且支腳（4）的外部尺寸與支腳槽（19）的內(nèi)部尺寸相吻合。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有防塵功能的集成電路測試儀器，其特征在于：所述卡塊（20）的截面為弧形彈片，且卡塊（20）的外部尺寸與卡槽（21）的內(nèi)部尺寸相吻合。