[發(fā)明專利]一種高爐煙氣中微量二氧化硫監(jiān)測的紫外光譜檢測方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911193078.9 | 申請日: | 2019-11-28 |
| 公開(公告)號: | CN111912804B | 公開(公告)日: | 2022-09-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐曉軒;王斌;梁亦豪;文虹鏡 | 申請(專利權(quán))人: | 南開大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/33 | 分類號: | G01N21/33 |
| 代理公司: | 北京金智普華知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11401 | 代理人: | 楊采良 |
| 地址: | 300073*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高爐 煙氣 微量 二氧化硫 監(jiān)測 紫外 光譜 檢測 方法 裝置 | ||
一種高爐煙氣中微量SO2監(jiān)測的紫外光譜檢測方法及裝置,該裝置包括有光源(1)、分光鏡(9)、樣品池(2)、參比池(3)、探測器(4)、運(yùn)算單元(5)、反射鏡(10);所述光源(1)發(fā)出的入射光經(jīng)分光鏡(9)為了光強(qiáng)相同的透射光和反射光;其中透射光入射至樣品池2中的所述混合組分;反射光入射至無所述混合組分的參比池(3);所述探測器(4)探測所述透射光和所述反射光的透射光光強(qiáng);所述運(yùn)算單元(5)對探測器(4)得到的所述透射光光強(qiáng)進(jìn)行差分處理以得到高爐煙氣中所述氣體成份;所述方法選擇合適的波長進(jìn)行差分光譜檢測,可減少不同組分光譜重疊對數(shù)據(jù)處理的影響。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光譜檢測領(lǐng)域,具體涉及痕量氣體的紫外光譜檢測技術(shù)。
背景技術(shù)
紫外光譜在痕量氣體檢測中正發(fā)揮越來越重要的作用,該技術(shù)相比于化學(xué)檢測方法,不 需要對待測氣體進(jìn)行特殊處理即可完成檢測,屬于檢測領(lǐng)域中的非接觸檢測技術(shù),因此具有 操作方便快捷的優(yōu)點(diǎn)。另外,隨著紫外光源的普及,可以產(chǎn)生所需的光強(qiáng)以及波長范圍,因 此對待測物種類的限制也越來越小,特別是結(jié)合了差分光譜技術(shù),使檢測的精度又有了新提 高。但也發(fā)現(xiàn)針對特別環(huán)境,例如高爐煙氣,其氣體組分比較復(fù)雜,各組分的吸收波長相互 交疊,另外吸收峰不明顯,易受到環(huán)境噪聲例如實(shí)時的溫度、濕度、壓強(qiáng)以及檢測儀器本身 的影響,從而對部分待測物的檢測帶來影響。針對上述紫外差分光譜檢測出現(xiàn)的各類問題, 本發(fā)明在紫外差分光譜的基礎(chǔ)上提出全新的解決方案,實(shí)驗表明,克服上檢測中不同組分相 互影響的問題,且環(huán)境噪聲和儀器本身對該實(shí)驗結(jié)果的影響也大大降低。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明還提供一種檢測高爐煙氣中SO2濃度的方法,所述方法使用一紫外差 分光譜測量裝置,該測量裝置包括有光源1、分光鏡9、樣品池2、參比池3、探測器4、運(yùn)算單元5、反射鏡10;所述光源1發(fā)出的入射光經(jīng)分光鏡9為光強(qiáng)相同的透射光和反射光; 其中透射光入射至樣品池2中的所述高爐煙氣;反射光入射至無所述高爐煙氣的參比池3; 所述探測器4探測所述透射光和所述反射光的透射光光強(qiáng);所述運(yùn)算單元5對探測器4得到 的所述透射光光強(qiáng)進(jìn)行差分處理以得到高爐煙氣中所述氣體成份;
所述運(yùn)算單元5選擇性地對不同的波段的差分光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行處理;所述運(yùn)算單元5對數(shù) 據(jù)的處理包括采用式(2)計算其中的A氣體濃度:
其中K和ODB均可通過差分光譜測量、擬合計算得到; 另外,其中L為所樣品池2的光程;Δλ是所述A氣體檢測用吸收波長區(qū)間;σ′A(Δλ)是所A氣 體在Δλ的快變吸收部分;I′(Δλ)是測量A氣體得到的采樣光譜的光強(qiáng)值;I′0(Δλ)則是通過擬 合I′(Δλ)的慢變化得到的光強(qiáng)值;I′(Δλ′)是測量B氣體得到的采樣光譜的光強(qiáng)值;I″0(Δλ′)則 是可通過擬合I′(Δλ′)的慢變化得到的光強(qiáng)值;Δλ′是B氣體檢測用吸收波長區(qū)間;所述Δλ和Δλ′ 不存在波長交疊區(qū)間;所述A氣體是所述高爐煙氣中的SO2氣體;所述B氣體是不同于SO2的高爐煙氣中的其他氣體。
優(yōu)選的,所述光源發(fā)出的光包括紫外光波段。
優(yōu)選的,所述Δλ是比所述SO2氣體吸收波段更短的波長區(qū)間。
優(yōu)選的,所述Δλ′是比所述B氣體吸收波段更短的波長區(qū)間,并且選擇Δδ作為所述A氣 體和所述B氣體差分吸收光譜波段交疊的波段區(qū)間;其中
其中σ′AB(δλ)是所述A氣體與B氣體交疊部分的慢變吸收部分;I′0(δλ)則是可通過擬合I′(λ) 的慢變化得到的光強(qiáng)值。
優(yōu)選的,該方法還包括在檢測完SO2外,還檢測其他氣體的步驟。
優(yōu)選的,所述其他氣體包括H2S痕量氣體。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南開大學(xué),未經(jīng)南開大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911193078.9/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





