[發明專利]一種最小游程切換點標記編碼壓縮方法及裝置

有效

• 申請號: 201911192482.4
• 申請日: 2019-11-28
• 公開（公告）號: CN110798223B
• 公開（公告）日: 2023-06-30
• 發明（設計）人: 詹文法;陶鵬程;蔡雪原;邵志偉;彭勇;張振林;丁文祥;彭登輝;華銘;都奕
• 申請（專利權）人: 安慶師范大學
• 主分類號: H03M7/46
• 分類號: H03M7/46
• 代理公司: 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙) 34124
• 代理人: 張景云

本發明涉及一種最小游程切換點標記編碼壓縮方法，包括S1、將測試向量進行均勻劃分成若干組區域；S2、將區域中的所有測試向量進行編碼壓縮，壓縮后繼續壓縮下一組區域中的測試向量，直至全部區域壓縮；S3、將該組區域的測試向量壓縮后，繼續讀取下一組區域，重復執行步驟S2；直到最后一個區域壓縮完成。本發明還公開了一種最小游程切換點標記編碼壓縮裝置。本發明針對測試向量與測試向量之間游程的關系進行壓縮，極大縮短了編碼字的數量，有效得提高了壓縮率。

技術領域

本發明涉及集成電路測試技術領域，尤其是一種最小游程切換點標記編碼壓縮方法及裝置。

背景技術

集成電路測試技術是保障集成電路產品良品率關鍵因素，是集成電路制造全過程中必不可少的過程。隨著集成電路的工藝水平不斷提高，促使芯片的集成度不斷提高，截至2012年級別的晶體管處理器已經得到商用。由于技術規模不斷擴大，集成電路的復雜程度也不斷提高，這也為集成電路測試帶來了巨大挑戰，雖然全掃描測試可以提高電路的可控制性和可觀察性，但卻增加了大量的測試時間，從而提高了測試成本。高昂的測試成本嚴重阻礙了集成電路的發展，因此減少測試成本一直是集成電路研究的熱點問題。如果想降低測試成本，就有在設備使用周期內盡可能多的測試芯片。測試數據壓縮只改變數據容量，而不改變故障覆蓋率，是解決上述問題的有效方法之一。

“CN101299611B”的發明專利公開了一種基于集合游程的數據壓縮方法，包括：讀取計算機存儲器中的待壓縮數據；尋找數據中的特征字符集合；進行編碼；將壓縮后的數據存入計算機存儲器；所述尋找數據中的特征字符集合包括以下步驟：統計孤立字符；判斷是否存在孤立字符，是則執行下步，否則將所有字符都化為特征字符，每個特征字符映射的連續出現次數為其數值本身，并轉入上述編碼步驟；將孤立字符從小到大進行排序；遍歷所有特征字符集合可能出現的各種元素個數，選取使壓縮率r的取值達到最小的特征字符集合元素的個數；將特征字符集合中的每個元素映射到連續出現次數。但是該專利并沒有考慮到最小向量游程切換范圍的重疊關系，這對壓縮率會有一定的不良影響。

常規的測試數據壓縮方法中，利用編碼字后綴表示游程長度的限制壓縮數據，導致了壓縮率較低。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種最小游程切換點標記編碼壓縮方法及裝置，以解決現有技術中利用編碼字后綴表示游程長度的限制壓縮數據，導致了壓縮率較低的問題。

本發明通過以下技術手段實現解決上述技術問題的：

一種游程切換點標記編碼壓縮方法，包括以下步驟：

S1、將若干個測試向量分別進行均勻劃分，得到若干組區域；

S2、將每組區域中的所有測試向量進行編碼壓縮；得到壓縮后的數據；

S3、將一組區域的測試向量壓縮后，繼續讀取下一組區域，重復執行步驟S2；直到所有區域壓縮完成。

通過將若干個測試向量劃分成若干組區域，再依次對每組區域進行壓縮，實現對多個測試向量的壓縮。

作為本發明進一步的方案：所述若干組區域中，每組區域中有K條測試向量；不足K條測試向量的區域，用全是無關位X的測試向量補充；其中K為大于0的正整數。

通過增加全是無關位X的測試向量補充，來保證每組區域含有的測試向量數量相同，方便進行壓縮。

作為本發明進一步的方案：所述步驟S2包括：

S21、首先獲取第一組區域中k條測試向量所有的最小游程切換范圍，并用最小游程切換點提取算法提取最小游程切換點組成的集合；

S22、然后設置一個位置參考向量；最后對該組區域中k條測試向量編碼；

S23、設置游程標記碼；