[發明專利]非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法

在審

• 申請號: 201911190021.3
• 申請日: 2019-11-28
• 公開（公告）號: CN111024237A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 劉冰;馬群
• 申請（專利權）人: 天津津航技術物理研究所
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G01J5/08
• 代理公司: 中國兵器工業集團公司專利中心 11011
• 代理人: 周恒

1.一種非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：

步驟1：設置測量系統，在溫箱中設置黑體、探測器、成像儀和光學窗口；

步驟2：根據測溫范圍對探測器進行配置，確保成像儀在不同環境溫度及不同的探測器配置下面對黑體不出現灰度飽和；

步驟3：在不同的環境溫度下改變黑體溫度，尋找出同一黑體溫度下成像儀灰度輸出與焦平面溫度的關系，獲得灰度-焦平面溫度擬合曲線；

步驟4：實際測溫時，根據當前焦平面溫度，帶入灰度-焦平面溫度擬合曲線，得到不同黑體溫度對應的待擬合灰度輸出；

步驟5：根據多個待擬合灰度輸出與定標黑體溫度，實時擬合出灰度-溫度曲線，將當前像素灰度帶入該曲線，即可得到最終的測溫溫度輸出。

2.如權利要求1所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述方法所應用的工作環境溫度范圍為0℃～40℃。

3.如權利要求2所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述方法所進行的測溫范圍為5℃～300℃。

4.如權利要求3所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述步驟2中對探測器進行的配置分為：常溫段配置、次高溫段配置、高溫段配置。

5.如權利要求4所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述常溫配置面對黑體的常溫場景，通過調節探測器的參數，來保證成像儀具有更高的溫度分辨率和更好的NETD指標。

6.如權利要求5所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述常溫場景為5℃～80℃。

7.如權利要求4所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述次高溫段配置面對黑體的次高溫度場景，通過上位機GNV發送指令來縮短積分時間為2005，減小積分電容為1.5X。

8.如權利要求7所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述次高溫度場景為80℃～200℃。

9.如權利要求4所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述高溫段配置面對黑體的高溫場景，通過上位機GNV發送指令來減小積分時間為1890，縮小積分電容為1.0X。

10.如權利要求9所述的非接觸式寬溫差紅外溫度測量方法，其特征在于，所述高溫場景為200℃～300℃。