[發(fā)明專利]基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911188693.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-11-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110907769A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-03-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐峰;張欣;向真;張嘉樂(lè);鄒洪民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳供電局有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 汪潔麗 |
| 地址: | 518001 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 封閉式 氣體 絕緣 組合 電器 缺陷 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
采集待測(cè)超聲信號(hào),并判斷所述待測(cè)超聲信號(hào)是否為局部放電信號(hào);
如果所述待測(cè)超聲信號(hào)為局部放電信號(hào),則將所述待測(cè)超聲信號(hào)帶入放電類型檢測(cè)模型,以得到與所述待測(cè)超聲信號(hào)對(duì)應(yīng)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷類型。
2.如權(quán)利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,采集待測(cè)超聲信號(hào),并判斷所述待測(cè)超聲信號(hào)是否為局部放電信號(hào)包括:
獲取所述待測(cè)超聲信號(hào)的待測(cè)幅值;
獲取幅值圖,所述幅值圖包含局部放電區(qū)(201);
將所述待測(cè)幅值序列帶入所述幅值圖中,如果所述待測(cè)幅值位于所述局部放電區(qū)(201),則所述待測(cè)超聲信號(hào)為局部放電信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,獲取超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本,通過(guò)所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行樣本訓(xùn)練,得到所述放電類型檢測(cè)模型之后,還包括:
獲取超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本,通過(guò)所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行樣本訓(xùn)練,得到所述放電類型檢測(cè)模型。
4.如權(quán)利要求1所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,獲取超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本,通過(guò)所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行樣本訓(xùn)練,得到所述放電類型檢測(cè)模型包括:
所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包含輸入層、競(jìng)爭(zhēng)層和輸出層,分別設(shè)定所述輸入層、所述競(jìng)爭(zhēng)層和所述輸出層的神經(jīng)元的個(gè)數(shù),設(shè)定所述輸入層與所述競(jìng)爭(zhēng)層的第一連接權(quán)向量矩陣,設(shè)定所述競(jìng)爭(zhēng)層和所述輸出層的第二連接權(quán)向量矩陣,設(shè)定所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本的期望輸出模式;
獲取所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本,提取所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本的多個(gè)特征值,根據(jù)所述多個(gè)特征值建立特征矩陣,對(duì)所述特征矩陣進(jìn)行歸一化處理;
根據(jù)歸一化處理后的所述特征矩陣和所述第一連接權(quán)向量矩陣,得到所述競(jìng)爭(zhēng)層中每個(gè)神經(jīng)元的加權(quán)輸出值;
根據(jù)所述競(jìng)爭(zhēng)層中各個(gè)神經(jīng)元的加權(quán)輸出值和所述第二連接權(quán)向量矩陣,得到所述輸出層的每個(gè)神經(jīng)元的加權(quán)輸出值,并將其作為所述神經(jīng)元的實(shí)際輸出值。
5.如權(quán)利要求4所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,還包括:
所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本為多個(gè),且多個(gè)所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本屬于同一類缺陷,分別執(zhí)行上述步驟。
6.如權(quán)利要求5所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,還包括:
獲取多個(gè)缺陷類型的多個(gè)所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本,且每個(gè)缺陷類型對(duì)應(yīng)多個(gè)所述超聲信號(hào)訓(xùn)練樣本,分別執(zhí)行上述步驟。
7.如權(quán)利要求6所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,執(zhí)行上述步驟直至訓(xùn)練遍數(shù)達(dá)到指定次數(shù)。
8.如權(quán)利要求6所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,在根據(jù)所述競(jìng)爭(zhēng)層中各個(gè)神經(jīng)元的加權(quán)輸出值和所述第二連接權(quán)向量矩陣,得到所述輸出層的每個(gè)神經(jīng)元的加權(quán)輸出值,并將其作為所述神經(jīng)元的實(shí)際輸出值之后,還包括:
修正所述第一連接權(quán)向量矩陣;
修正所述第二連接權(quán)向量矩陣。
9.如權(quán)利要求8所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,修正所述第一連接權(quán)向量矩陣包括:
求解與所述特征矩陣距離最近的第一連接權(quán)向量,得到待修正的所述第一連接權(quán)向量;
對(duì)待修正的所述第一連接權(quán)向量進(jìn)行修正,并得到修正后的所述第一連接權(quán)向量矩陣。
10.如權(quán)利要求9所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,對(duì)待修正的所述第一連接權(quán)向量進(jìn)行修正,并得到修正后的所述第一連接權(quán)向量矩陣之后,所述缺陷檢測(cè)方法還包括
對(duì)修正后的所述第一連接權(quán)向量矩陣進(jìn)行歸一化處理。
11.如權(quán)利要求8所述的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的封閉式氣體絕緣組合電器的缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,修正所述第二連接權(quán)向量矩陣包括:
求解與所述競(jìng)爭(zhēng)層加權(quán)輸出最大的神經(jīng)元對(duì)應(yīng)的第二連接權(quán)向量,得到待修正的所述第二連接權(quán)向量;
對(duì)待修正的所述第二連接權(quán)向量進(jìn)行修正,并得到修正后的所述第二連接權(quán)向量矩陣。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 硬件神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)換方法、計(jì)算裝置、軟硬件協(xié)作系統(tǒng)
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- 一種適應(yīng)目標(biāo)數(shù)據(jù)集的網(wǎng)絡(luò)模型微調(diào)方法、系統(tǒng)、終端和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于重構(gòu)人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的處理器及其操作方法、電氣設(shè)備
- 一種圖像神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化方法及裝置





