[發明專利]一種便于調節射線輻照角度的實驗基座在審
| 申請號: | 201911176308.0 | 申請日: | 2019-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN110880375A | 公開(公告)日: | 2020-03-13 |
| 發明(設計)人: | 曹延琴;劉紅俠 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G21K5/08 | 分類號: | G21K5/08;G21H5/00 |
| 代理公司: | 北京勁創知識產權代理事務所(普通合伙) 11589 | 代理人: | 徐家升 |
| 地址: | 710000 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 便于 調節 射線 輻照 角度 實驗 基座 | ||
本發明公開了一種便于調節射線輻照角度的實驗基座,包括基座本體、高度調節機構、豎直方向角度調節機構和水平方向角度調節機構,所述高度調節機構位于基座本體上,所述高度調節機構包括第一立柱,所述第一立柱的下端固定于基座本體頂部的中心處,所述第一立柱的內部安裝有第一轉軸,所述套桿的下端連接有牽引線的上端,所述牽引線的下端設置于第一轉軸的外壁,所述第一把手的一側貫穿有限位桿,所述限位桿的端部貫穿于第二彈簧的內部位于限位槽的內部,所述限位槽預留于第一立柱的外側;本發明通過設置有豎直方向角度調節機構和水平方向角度調節機構能夠增加放射源輻射的范圍,且方便對放射源角度的調節,從而方便實驗的使用。
技術領域
本發明屬于射線輻照技術領域,具體涉及一種便于調節射線輻照角度的實驗基座。
背景技術
輻照處理即用輻射照射的方法對器件等物體進行處理,通過射線探傷能夠對器件的好壞進行分辨。一般是指利用放射源的輻射進行照射,處理物體不同,目的不同,所使用的射線種類和劑量一般也不相同。輻照技術,是利用射線與物質間的作用,電離和激發產生的活化原子與活化分子,使之與物質發生一系列物理、化學、與生物化學變化,導致物質的降解、聚合、交聯、并發生改性,在對射線輻照進行實驗時,需要使用到實驗基座,且實驗基座是用來安裝放射源的。
然而現有的實驗基座雖然能夠對放射源的角度進行調節,但是使用起來不夠便捷,同時角度調節的范圍有限,導致照射的范圍有限,影響使用效果,同時不方便對放射源的高度進行調節,不利于對不同高度的物體進行輻射,為此我們提出一種便于調節射線輻照角度的實驗基座。
發明內容
本發明的目的在于提供一種便于調節射線輻照角度的實驗基座,以解決上述背景技術中提出的問題。
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:一種便于調節射線輻照角度的實驗基座,包括基座本體、高度調節機構、豎直方向角度調節機構和水平方向角度調節機構,所述高度調節機構位于基座本體上,所述高度調節機構包括第一立柱,所述第一立柱的下端固定于基座本體頂部的中心處,所述第一立柱的內部開設有第一內腔,所述第一內腔的內部安裝有套桿的下端,所述套桿的上端固定有第二立柱,所述套桿的下端通過第一彈簧與第一內腔的底部相互連接,所述第一立柱的內部安裝有第一轉軸,所述套桿的下端連接有牽引線的上端,所述牽引線的下端設置于第一轉軸的外壁,所述第一轉軸的端部連接有第一把手,所述第一把手的一側貫穿有限位桿,所述限位桿的端部貫穿于第二彈簧的內部位于限位槽的內部,所述限位槽預留于第一立柱的外側。
優選的,所述豎直方向角度調節機構位于第二立柱上,所述豎直方向角度調節機構包括第二內腔,所述第二內腔開設于第二立柱的內部,所述第二內腔的邊側預留有滑槽,所述第二內腔的底部安裝有第二轉軸的下端,所述第二轉軸的上端貫穿于第二立柱的頂部與第二把手相互連接,所述第二轉軸貫穿于活動板的中部,所述活動板的邊側固定有限位塊,所述限位塊位于滑槽的內部,所述活動板的邊側設置有齒輪,所述齒輪的中部通過第三轉軸與固定板相互連接,所述固定板設置于第二立柱的外壁,所述第三轉軸端部的外壁固定有連接桿。
優選的,所述水平方向角度調節機構位于連接桿上,所述水平方向角度調節機構包括放射源,所述放射源的端部通過第四轉軸與連接桿的內側相互連接,所述第四轉軸的端部開設有凹槽,所述凹槽的內部安裝有活動桿,所述活動桿的端部固定有絲桿,所述絲桿的端部貫穿于固定架的內部與第三把手相互連接,所述固定架設置于連接桿的外側。
優選的,所述套桿設計為“T”字型結構,所述套桿通過第一彈簧與第一立柱構成伸縮結構。
優選的,所述限位桿設計為“土”字型結構,所述限位桿與限位槽為卡合連接,所述限位槽關于第一轉軸的中心軸線等角度分布。
優選的,所述第二轉軸與活動板為螺紋連接,所述活動板的邊側設計為鋸齒狀結構,所述活動板與齒輪為嚙合連接。
優選的,所述限位塊的邊側與滑槽的內側相互貼合,所述限位塊與滑槽構成卡合式的滑動結構。
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