[發明專利]一種讀取嵌入式閃存數據的方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 201911176117.4
• 申請日: 2019-11-26
• 公開（公告）號: CN112947841A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發明（設計）人: 劉文峰;馬穎江
• 申請（專利權）人: 珠海零邊界集成電路有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 王嬌

本發明公開了一種讀取嵌入式閃存數據的方法、裝置、設備及存儲介質，用于對嵌入式閃存的瞬態異常進行有效的規避。所述方法包括：向嵌入式閃存發送讀取指令；其中，所述讀取指令用于請求讀取所述嵌入式閃存中存儲的數據或者指令；確定所述嵌入式閃存是否存在異常；若所述嵌入式閃存存在異常，則向所述嵌入式閃存重復發送所述讀取指令，若多個周期不再產生瞬態異常信號且讀取的嵌入式閃存數據一致，停止發送讀取指令，恢復正常狀態。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種讀取嵌入式閃存數據的方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

目前微控制器產品普遍使用嵌入式閃存作為內置的非易失性存儲器。在微控制器中，閃存保存著程序的代碼，程序直接在閃存中運行，當電源電壓出現異常時嵌入式閃存的工作電壓也會出現異常情況，導致讀取的指令不正確，程序突然跳到任意位置運行，程序邏輯出現錯亂的情況，從而產生死機、異常等狀態。

為了防止由于嵌入式閃存的工作電壓出現異常導致讀取的指令不正確，現有技術中通常設計有上電復位電路(Power On Reset，POR)/低壓檢測電路(Low VoltageDirective，LVD)，對異常電壓進行檢測，但是POR/LVD電路通常采用濾波的方法將電壓異常出現的毛刺進行過濾，POR/LVD電路對電壓異常檢測的時間較長，以致于不能對閃存的瞬態異常進行有效的規避。

發明內容

本申請實施例提供一種讀取嵌入式閃存數據的方法、裝置、設備及存儲介質，用于對嵌入式閃存的瞬態異常進行有效的規避。

第一方面，提供一種讀取嵌入式閃存數據的方法，所述方法包括：

向嵌入式閃存發送讀取指令；

確定所述嵌入式閃存是否存在異常；

若所述嵌入式閃存存在異常，則向所述嵌入式閃存重復發送所述讀取指令。

可選的，確定所述嵌入式閃存是否存在異常，包括：

按照預定檢測頻率檢測所述嵌入式閃存的工作電壓是否在預設工作電壓范圍內，其中，所述預定檢測頻率大于所述嵌入式閃存的工作頻率；

若所述工作電壓未在所述預設工作電壓范圍內，則確定所述嵌入式閃存存在異常。

可選的，確定所述嵌入式閃存是否存在異常，包括：

獲得所述嵌入式閃存基于所述讀取指令發送的第一數據；

從預設數據存儲區域中獲得第二數據；

若所述第二數據不是預設數據，則確定所述嵌入式閃存存在異常，并丟棄所述第一數據。

可選的，在向所述嵌入式閃存重復發送所述讀取指令后，包括：

確定是否滿足停止發送觸發條件；

若滿足所述停止發送觸發條件，則停止向所述嵌入式閃存發送所述讀取指令。

可選的，確定是否滿足停止發送觸發條件，包括：

確定接收的預定數量的數據讀取結果是否均相同，其中，一個數據讀取結果包括所述嵌入式閃存根據接收到的一次所述讀取指令的讀取地址發送的數據；

若所述預定數量的數據讀取結果均相同，則確定滿足所述停止發送觸發條件，并將一個數據讀取結果確定為與所述讀取指令對應的讀取結果。

可選的，在確定接收的預定數量的數據讀取結果是否相同之后，所述方法還包括：

若所述預定數量的數據讀取結果存在不同，則繼續向所述嵌入式閃存發送所述讀取指令，并在發送所述讀取指令的累計次數達到預定次數時，輸出異常中斷指示。

可選的，所述方法還包括：