[發(fā)明專利]一種樣本分析系統(tǒng)及其樣本調(diào)度規(guī)劃方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911166409.X
• 申請日: 2019-11-25
• 公開（公告）號: CN112834760A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃立新;李積新
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳邁瑞生物醫(yī)療電子股份有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44281
• 代理人: 胡佳煒;郭燕

一種樣本分析系統(tǒng)及其樣本調(diào)度規(guī)劃方法，包括：獲取樣本調(diào)度單位上所有樣本的全部測試項目；判斷測試項目的類型，其中測試項目的類型包括共有測試項目和私有測試項目；根據(jù)樣本調(diào)度單位上的私有測試項目確定目標分析設(shè)備，并進行調(diào)度規(guī)劃。本發(fā)明將測試項目分為兩類，一類是共有測試項目，一類是私有測試項目，并根據(jù)測試項目的類型來確定目標分析設(shè)備，提出了新的規(guī)劃和調(diào)度的原則。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種樣本分析系統(tǒng)及其樣本調(diào)度規(guī)劃方法。

背景技術(shù)

隨著大量測定樣本的需求，為了滿足高通量和減少時間，出現(xiàn)了由多個樣分析設(shè)備組成的樣本分析系統(tǒng)。對于這種包括多個分析設(shè)備的系統(tǒng)，一般地，待測樣本統(tǒng)一在系統(tǒng)前端進行輸入，然后系統(tǒng)將待測樣本依次分配到相應(yīng)的一個或多個分析設(shè)備中去測試。

為了不使得一些分析設(shè)備太忙碌，另一些分析設(shè)備太空閑，通常系統(tǒng)會根據(jù)負載均衡的原則來將待測試的樣本規(guī)劃并調(diào)度到相應(yīng)的分析設(shè)備去測試。舉個簡單的例子，在當前待測試的一批樣本中，都需要去分析設(shè)備1和分析設(shè)備2測試，因此可以將這批樣本中的一部分規(guī)劃為先去分析設(shè)備1測試，再去分析設(shè)備2測試，將剩下的一部分樣本規(guī)劃為先去分析設(shè)備2測試，再去分析設(shè)備1測試，因此分析設(shè)備1和分析設(shè)備2都沒有被空閑下來，從這個角度來看，測試效率相對提高了。

系統(tǒng)根據(jù)負載均衡的原則來將待測試樣本進行規(guī)劃和調(diào)度到各相應(yīng)分析設(shè)備，有時候會顯得不夠靈活，一些新的規(guī)劃和調(diào)度的原則需要被發(fā)明和提出。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┮环N樣本分析系統(tǒng)及其樣本調(diào)度規(guī)劃方法。

根據(jù)第一方面，一種實施例中提供一種樣本分析系統(tǒng)，包括：

多個分析設(shè)備，所述分析設(shè)備用于對樣本進行測試；

連接各分析設(shè)備的軌道，以及通過所述軌道將待測試的樣本調(diào)度到相應(yīng)分析設(shè)備的調(diào)度裝置；

處理器，獲取樣本調(diào)度單位上所有樣本的全部測試項目，并判斷測試項目的類型，其中測試項目的類型包括共有測試項目和私有測試項目；所述處理器根據(jù)樣本調(diào)度單位上的私有測試項目確定目標分析設(shè)備，并進行調(diào)度規(guī)劃。

一種實施例中，所述處理器根據(jù)樣本調(diào)度單位上的私有測試項目確定目標分析設(shè)備，并進行調(diào)度規(guī)劃，包括：

當樣本調(diào)度單位上沒有私有測試項目，則處理器將所述多個分析設(shè)備中的一臺分析設(shè)備確定為目標分析設(shè)備，并將樣本調(diào)度單位上的樣本規(guī)劃調(diào)度到該目標分析設(shè)備進行測試。

一種實施例中，所述處理器將所述多個分析設(shè)備中的一臺分析設(shè)備確定為目標分析設(shè)備，包括：

所述處理器獲取各分析設(shè)備的負載情況；

所述處理器將當前負載情況最小的一臺分析設(shè)備確定為所述目標分析設(shè)備。

一種實施例中，所述處理器根據(jù)樣本調(diào)度單位上的私有測試項目確定目標分析設(shè)備，并進行調(diào)度規(guī)劃，包括：

當所確定的目標分析設(shè)備為一個時，則所述處理器將樣本調(diào)度單位上的樣本規(guī)劃調(diào)度到該目標分析設(shè)備進行測試。

一種實施例中，當所述處理器將樣本調(diào)度單位上樣本規(guī)劃調(diào)度到該目標分析設(shè)備進行測試時，所述處理器還判斷所述該目標分析設(shè)備是否超過規(guī)劃負載均衡閾值；

當判斷超過規(guī)劃負載均衡閾值，則所述處理器將樣本調(diào)度單位上超過規(guī)劃負載均衡閾值的共有測試項目規(guī)劃到其他分析設(shè)備進行測試。

一種實施例中，所述處理器基于負載均衡原則將樣本調(diào)度單位上超過規(guī)劃負載均衡閾值的共有測試項目規(guī)劃到其他分析設(shè)備進行測試。

一種實施例中，所述處理器根據(jù)樣本調(diào)度單位上的私有測試項目確定目標分析設(shè)備，并進行調(diào)度規(guī)劃，包括：