[發明專利]復合熒光納米探針的制備及其對過氧化氫的檢測方法

有效

• 申請號: 201911159390.6
• 申請日: 2019-11-22
• 公開（公告）號: CN110835528B
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 周志強;楊立云;黃凌;劉義
• 申請（專利權）人: 南寧師范大學
• 主分類號: C09K11/02
• 分類號: C09K11/02;C09K11/88;B82Y30/00;G01N21/64
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理有限公司 11369
• 代理人: 靳浩

1.一種CdSe@ZnS/AgNCs復合熒光納米探針的制備方法，其中，包括：將CdSe@ZnS量子點和納米銀簇在一定pH條件下混合制備CdSe@ZnS/AgNCs復合熒光納米探針；

其中，混合后，所述CdSe@ZnS量子點的濃度為0.016-0.040mg/mL，納米銀簇的濃度為0.009-0.018mg/mL；

所述CdSe@ZnS量子點的制備方法為：

將CdCl₂·2H₂O和N-乙酰-L-半胱氨酸溶解于超純水中，混合攪拌均勻，用NaOH調節溶液的pH至9，加入NaHSe溶液，20～25℃室溫攪拌2h后轉移至100℃加熱6h，隨后加入Zn(OAc)₂·2H₂O和Na₂S·9H₂O反應2小時，即可得到所述CdSe@ZnS量子點；

所述納米銀簇的制備方法為：

將DL-硫辛酸溶于超純水，加入NaOH溶液，攪拌至溶解完全后加入NaBH₄溶液和AgNO₃溶液，制備得到所述納米銀簇；

所述pH條件由pH＝7.4的Tris-HCl溶液提供。

2.一種利用權利要求1所述制備方法制得的CdSe@ZnS/AgNCs復合熒光納米探針對過氧化氫檢測的方法，其中，包括：

獲取過氧化氫濃度濃度和熒光強度對應關系的標準曲線；

將待測溶液和CdSe@ZnS/AgNCs復合熒光納米探針混合后，觀察特定波長下的熒光強度，然后代入所述標準曲線中，即可得到待測溶液中過氧化氫的濃度。

3.如權利要求2所述的利用復合熒光納米探針對過氧化氫檢測的方法，其中，所述標準曲線的獲得方法為：

取2mL CdSe@ZnS/AgNCs復合熒光納米探針，并分別向其中加入不同體積的過氧化氫溶液得到各混合反應體系，各混合反應體系中過氧化氫的濃度分別為0μM、0.2μM、0.5μM、1μM、2μM、5μM、10μM、20μM、30μM、40μM、50μM、60μM、70μM、80μM、90μM、100μM，在20～25℃室溫的條件下反應一段時間后，再分別測定各混合反應體系在510nm處的熒光強度，以過氧化氫的濃度為橫坐標，熒光強度為縱坐標，獲得過氧化氫濃度濃度-熒光強度標準曲線。

4.如權利要求3所述的利用復合熒光納米探針對過氧化氫檢測的方法，其中，所述特定波長為510nm。

5.如權利要求4所述的利用復合熒光納米探針對過氧化氫檢測的方法，其中，所述室溫的條件下反應的時間為12分鐘。

6.如權利要求5所述的利用復合熒光納米探針對過氧化氫檢測的方法，其中，待測溶液和CdSe@ZnS/AgNCs復合熒光納米探針混合后得到的溶液中，CdSe@ZnS量子點和AgNCs的濃度分別為0.032mg/mL和0.015mg/mL。