[發(fā)明專利]一種具有微米結(jié)構(gòu)的電極的制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911152380.X | 申請(qǐng)日: | 2019-11-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110854005A | 公開(公告)日: | 2020-02-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳戰(zhàn)東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣西民族大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01J9/14 | 分類號(hào): | H01J9/14;G03F7/20 |
| 代理公司: | 重慶為信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 50216 | 代理人: | 劉旭章 |
| 地址: | 530006 廣西壯族*** | 國(guó)省代碼: | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 微米 結(jié)構(gòu) 電極 制作方法 | ||
本發(fā)明涉及放電設(shè)備電極制作技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種具有微米結(jié)構(gòu)的電極的制作方法,包括清洗硅片、預(yù)烘、勻膠、前烘、曝光、顯影與清洗、后烘和蒸鍍金屬膜共八個(gè)步驟。本發(fā)明充分運(yùn)用光刻和鍍膜技術(shù)制得具有微米結(jié)構(gòu)的電極,用這種電極代替現(xiàn)有等離子體放電設(shè)備的負(fù)電極,接著將樣品放置于該負(fù)電極之上,待等離子體放電設(shè)備通電后,由于負(fù)電極具有微米立體圖形陣列,因此會(huì)產(chǎn)生不均勻的電場(chǎng),在該不均勻電場(chǎng)的控制下,等離子體放電設(shè)備將依據(jù)負(fù)電極的微米立體圖形陣列對(duì)樣品薄膜表面進(jìn)行微米尺度的處理,實(shí)現(xiàn)了對(duì)材料薄膜表面的可控處理。本發(fā)明具有制作成本低廉、方法簡(jiǎn)便、使用簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及放電設(shè)備電極制作技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種具有微米結(jié)構(gòu)的電極的制作方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的等離子體表面處理設(shè)備都是通過(guò)陰極和陽(yáng)極之間的高壓電將氣體電離形成等離子體,等離子體中的陽(yáng)離子在兩極間電場(chǎng)的驅(qū)動(dòng)下,轟擊置于陽(yáng)極上方的樣品薄膜表面,實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品薄膜表面的處理。然而由于現(xiàn)有設(shè)備的陽(yáng)極和陰極均采用平板金屬板,所以電場(chǎng)在兩個(gè)電極表面的附近區(qū)域分布均勻,導(dǎo)致陽(yáng)離子流對(duì)樣品薄膜表面的轟擊也是均勻的,因此并不能對(duì)樣品薄膜表面實(shí)現(xiàn)可控處理,即不能按照技術(shù)人員的要求改變材料原本的光電、疏水等特性。若過(guò)后再采用電子束刻蝕等技術(shù)對(duì)材料薄膜表面進(jìn)行可控處理,由于這類設(shè)備的價(jià)格極其昂貴,導(dǎo)致制作成本過(guò)高,因此也不具備大規(guī)模推廣使用的條件。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述的問(wèn)題,本發(fā)明一種具有微米結(jié)構(gòu)的電極的制作方法,充分運(yùn)用光刻技術(shù)和鍍膜技術(shù),首先將負(fù)性光刻膠旋涂于高阻硅片上,再通過(guò)中間具有圖形陣列網(wǎng)格結(jié)構(gòu)的掩膜版對(duì)高阻硅片的其中一面進(jìn)行光刻,使得硅片的光刻面具有微米立體圖形陣列,然后運(yùn)用等離子體濺射鍍膜技術(shù)在硅片的光刻面蒸鍍上一層金屬薄膜,從而制得具有微米結(jié)構(gòu)的電極。最后用這種電極代替現(xiàn)有等離子體放電設(shè)備的負(fù)電極,接著將樣品放置于該負(fù)電極之上,待等離子體放電設(shè)備通電后,由于負(fù)電極具有微米立體圖形陣列因此會(huì)產(chǎn)生不均勻的電場(chǎng),即對(duì)電極間的電場(chǎng)分布進(jìn)行了調(diào)控進(jìn)而對(duì)等離子體流實(shí)現(xiàn)了調(diào)控,從而在該不均勻電場(chǎng)的控制下,等離子體放電設(shè)備將依據(jù)負(fù)電極的微米立體圖形陣列對(duì)樣品薄膜表面進(jìn)行微米尺度的處理,實(shí)現(xiàn)了對(duì)材料薄膜表面的可控處理。本發(fā)明具有制作成本低廉、方法簡(jiǎn)便、使用簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn),有效解決了上述問(wèn)題。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案:
一種具有微米結(jié)構(gòu)的電極的制作方法,其特征在于包括以下步驟:
步驟(1)清洗硅片:將高阻硅片放入盛有酒精的燒杯中,再將燒杯放入超聲波清洗機(jī)中清洗5min-15min,清洗結(jié)束后用鑷子將高阻硅片夾出并用氮?dú)獯蹈筛咦韫杵砻鏆埩舻木凭芤海?/p>
步驟(2)預(yù)烘:將清洗干凈的高阻硅片放入陶瓷坩堝內(nèi),再將陶瓷坩堝放入烘箱進(jìn)行第一次烘烤;
步驟(3)勻膠:將硅片從烘箱中取出后放置在常溫環(huán)境中,待其自然冷卻后再放入勻膠機(jī)吸盤中進(jìn)行旋涂;
步驟(4)前烘:將旋涂過(guò)光刻膠的硅片置于坩堝中,將坩堝用錫紙包住后放入烘箱中進(jìn)行第二次烘烤;
步驟(5)曝光:運(yùn)用光刻機(jī)對(duì)完成前烘的硅片進(jìn)行曝光光刻,即把掩膜版放置在硅片的正上方,將紫外線光源中心對(duì)準(zhǔn)掩膜版曝光,曝光時(shí)間為3s-4s;
步驟(6)顯影與清洗:將曝光后的硅片浸沒(méi)在顯影液中25s-35s,待顯影液充分顯影后取出硅片放入去離子水中清洗20s-40s,清洗結(jié)束后用氮?dú)獯蹈晒杵砻娴娜ルx子水;
步驟(7)后烘:將顯影后的硅片放入烘箱中進(jìn)行第三次烘烤;
后烘是為了提高光刻膠對(duì)硅片的附著力,同時(shí)也可以提高光刻膠薄膜的耐腐蝕能力,這樣有助于后面步驟的化學(xué)腐蝕時(shí),依然可以保持良好的性能。
步驟(8)蒸鍍金屬膜:采用等離子體濺射鍍膜技術(shù)給光刻后的硅片鍍上一層金屬膜。
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