[發(fā)明專利]一種太陽圓盤識別方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911150821.2 | 申請日： | 2019-11-21 |
| 公開（公告）號： | CN111047599A | 公開（公告）日： | 2020-04-21 |
| 發(fā)明（設計）人： | 祝高飛;林鋼華;王東光;劉鎖;楊瀟 | 申請（專利權）人： | 中國科學院國家天文臺 |
| 主分類號： | G06T7/11 | 分類號： | G06T7/11;G06T7/136;G06T7/181;G06T7/187;G06T7/194;G06T7/62 |
| 代理公司： | 北京慕達星云知識產(chǎn)權代理事務所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 曹鵬飛 |
| 地址： | 100012 北京市朝*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 太陽 圓盤 識別 方法 | ||
1.一種太陽圓盤識別方法，其特征在于，包括：
S1：提高Ha全日面圖像的亮度對比度；
S2：基于大津算法對提高對比度后的Ha全日面圖像進行分割，得到分割結果；
S3：對分割結果進行邊緣檢測，并進行膨脹操作和形態(tài)學細化操作，得到邊緣檢測結果；
S4：基于邊緣檢測結果統(tǒng)計所有的連通域的像素數(shù)，保留最大連通域，刪除其他區(qū)域，得到太陽邊緣；
S5：基于太陽邊緣計算太陽邊緣圓度m，若m大于閾值，則對太陽邊緣離散點進行最小二乘圓擬合，求出太陽圓盤的圓心和半徑。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種太陽圓盤識別方法，其特征在于，在步驟S2中，大津算法采用最大類間方差來產(chǎn)生自適應的閾值，其中，產(chǎn)生自適應閾值的方法具體包括：
設圖像中像素總個數(shù)為N，灰度值為i的個數(shù)為ni，最大灰度級為L，灰度閾值為t；
圖像背景像素所占比例：
圖像前景像素所占比例：
圖像背景的平均灰度：
圖像前景的平均灰度：
灰度區(qū)間的總灰度值：μ＝μ0*w0+μ1*w1 (5)
分成的前景和背景兩類的類間方差：d＝w0*(μ-μ0)2+w1*(μ-μ1)2 (6)
簡化為：d＝w0*w1*(μ0-μ1)2 (7)
將灰度閾值t設置為在0～L灰度區(qū)間中循環(huán)遍歷，滿足某個灰度閾值使得類間方差d為最大值，則此灰度閾值就是分割太陽圓盤的所需的閾值。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種太陽圓盤識別方法，其特征在于，步驟S5還包括：若m小于等于閾值，則認為當前太陽圓盤所在的圖像不符合要求，并舍棄。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種太陽圓盤識別方法，其特征在于，步驟S5中，計算太陽邊緣圓度m的方法為：
其中，a代表的太陽邊緣內(nèi)部所占面積，p代表太陽邊緣的周長。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種太陽圓盤識別方法，其特征在于，在步驟S3中，采用Sobel邊緣檢測算子對分割結果進行邊緣檢測。
6.根據(jù)權利要求1或3所述的一種太陽圓盤識別方法，其特征在于，所述閾值為0.9。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院國家天文臺，未經(jīng)中國科學院國家天文臺許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911150821.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
