[發明專利]一種半導體器件測試夾具及測試箱體

在審

• 申請號: 201911149035.0
• 申請日: 2019-11-21
• 公開（公告）號: CN110954802A
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發明（設計）人: 韓正;柏加來;朱國軍;唐德平
• 申請（專利權）人: 合肥科威爾電源系統股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙) 34124
• 代理人: 張景云

1.一種半導體器件測試夾具，其特征在于，包括環氧板(1)、第一信號探針(2)、第一連接端(3)、第二信號探針(4)及第二連接端(5)，所述環氧板(1)的一側設置有第一連接端(3)，所述環氧板(1)的頂部靠近第一連接端(3)的位置通過連接柱體與第一信號探針(2)相連，所述環氧板(1)的底部還設置有若干根第二信號探針(4)，所述環氧板(1)的底部于第二信號探針(4)的一側設置有第二連接端(5)。

2.根據權利要求1所述的半導體器件測試夾具，其特征在于，所述連接柱體的底部固定設置于環氧板(1)的頂部，所述連接柱體的頂部設置有第一信號探針(2)。

3.根據權利要求1所述的半導體器件測試夾具，其特征在于，所述第一連接端(3)包括第一功率探針(301)、第二功率探針(302)、第三功率探針(303)，所述第一功率探針(301)、第二功率探針(302)、第三功率探針(303)自上而下依次設置于環氧板(1)的側面。

4.根據權利要求3所述的半導體器件測試夾具，其特征在于，所述第一功率探針(301)、第二功率探針(302)、第三功率探針(303)的數量為若干。

5.根據權利要求3所述的半導體器件測試夾具，其特征在于，所述第一功率探針(301)為母線正極，第二功率探針(302)為電感層，第三功率探針(303)為母線負極。

6.根據權利要求1-5任一所述的半導體器件測試夾具，其特征在于，所述第二連接端(5)包括若干根第四功率探針，所述第四功率探針設置于環氧板(1)的底部。

7.一種基于權利要求1-6任一所述的半導體器件測試夾具的測試箱體，其特征在于，包括箱體本體(11)、半導體器件測試自動化工裝(12)、疊層母排連接裝置(13)，所述箱體本體(11)內部設置有半導體器件測試自動化工裝(12)，所述箱體本體(11)后側設置有疊層母排連接裝置(13)，所述疊層母排連接裝置(13)與所述半導體器件測試夾具相連，所述半導體器件測試夾具與被測件(6)相連，所述半導體器件測試夾具設置于半導體器件測試自動化工裝(12)的頂部并與所述箱體本體(11)內壁相連，所述被測件(6)放置于半導體器件測試自動化工裝(12)上。