[發(fā)明專利]一種測量純礦物納米級圓柱管內(nèi)吸附態(tài)甲烷厚度的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911147968.6 | 申請日: | 2019-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN110849844B | 公開(公告)日: | 2022-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳方文;丁雪;鄭強;盧雙舫;趙紅琴;譚雅文 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油大學(xué)(華東) |
| 主分類號: | G01N21/41 | 分類號: | G01N21/41 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 266580 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測量 礦物 納米 圓柱 吸附 甲烷 厚度 方法 | ||
1.一種測量純礦物納米級圓柱管內(nèi)吸附態(tài)甲烷厚度的方法,其特征在于:
步驟1:選取純礦物制成n個納米級圓柱形管,它們的管壁厚度為h,孔半徑為Ri,其中i=1,2,…,n, 是孔半徑逐漸變大的納米級圓柱管編號,Ri的范圍為0.3-10.0nm,Ri隨i值的增大而逐漸增大,且每次增大0.1nm,納米級圓柱管的孔半徑和管壁厚度的單位均為nm;
步驟2:將步驟1中n個納米級圓柱管充注液態(tài)氫,用單色光從Ai點以入射角為a沿圓柱管縱向最大截面依次照射納米級圓柱管,入射角a大于0度且小于90度,單色光進入納米級圓柱管管壁和液態(tài)氫的折射角分別為b和c,記錄單色光由圓柱管射出點位置Bi,測量單色光入射點位置Ai與射出點位置Bi沿管軸方向的距離Di,i=1,2,…,n,是孔半徑逐漸變大的納米級圓柱管編號,入射角和折射角的單位為度,距離的單位為nm;
步驟3:在溫度為Tj、壓力為Pk條件下,將步驟1中n個納米級圓柱管充注甲烷氣體,用單色光從Ai點與步驟2中相同的入射角a沿圓柱管縱向最大截面依次照射納米級圓柱管,單色光進入納米級圓柱管管壁、甲烷吸附層和甲烷游離層的折射角分別為b、dijk和eijk,記錄單色光由圓柱管射出點位置Bijk,測量單色光入射點位置Aijk與射出點位置Bijk沿管軸方向的距離Dijk,入射角的單位為度,i=1,2,…,n,是孔半徑逐漸變大的納米級圓柱管編號,j=1,2,…,m,是溫度的編號,k=1,2,…,x,是壓力的編號,溫度的單位為℃,壓力的單位為MPa,入射角和折射角的單位為度,距離的單位為nm;
步驟4:保證aeijkcdijkb,比較步驟2中Di與步驟3中Dijk的值,在溫度為Tj、壓力為Pk條件下隨著納米級圓柱管孔半徑逐漸增大,當(dāng)納米級圓柱管孔半徑Ri小于甲烷吸附層厚度Hijk時,Dijk小于Di,而且兩值之差的絕對值呈現(xiàn)增大趨勢;當(dāng)納米級圓柱管孔半徑Ri等于甲烷吸附層厚度Hijk時,兩值之差的絕對值達(dá)到一個極大值;當(dāng)納米級圓柱管孔半徑Ri大于甲烷吸附層厚度Hijk時,Dijk逐漸由小于Di變?yōu)榇笥贒i,而且兩值之差的絕對值先呈現(xiàn)減小趨勢然后呈現(xiàn)增大趨勢;當(dāng)Dijk小于Di,而且兩值之差的絕對值達(dá)到最大時,在溫度為Tj、壓力為Pk條件下,孔半徑為Ri的該純礦物納米級圓柱管內(nèi)甲烷吸附層厚度Hijk值等于納米級圓柱管孔半徑Ri。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





