[發(fā)明專利]超薄玻璃彎曲半徑測量裝置及測量方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911147679.6
• 申請日: 2019-11-21
• 公開（公告）號: CN110940307A
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魏猛;周翔磊;王琰;王小平;平文亮;李茵茵
• 申請（專利權(quán)）人: 清遠(yuǎn)南玻節(jié)能新材料有限公司
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 劉寧

1.一種超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，包括測試臺、內(nèi)置于所述測試臺的弦長測量機(jī)構(gòu)、及內(nèi)置于所述測試臺的拱高測量機(jī)構(gòu)；所述弦長測量機(jī)構(gòu)包括第一滑軌、及滑設(shè)于所述第一滑軌的第一固定件與第二固定件；所述第一固定件及第二固定件用于固定弧形玻璃條；所述拱高測量機(jī)構(gòu)包括第一立桿、第二立桿、及滑設(shè)于所述第一立桿與第二立桿的橫桿；所述橫桿用于抵接所述弧形玻璃條的頂點(diǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述第一滑軌設(shè)置刻度；所述第一立桿與第二立桿均設(shè)置刻度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述第一立桿與第二立桿分別設(shè)置于所述第一滑軌的兩側(cè)；所述橫桿與第一滑軌垂直設(shè)置。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述第一立桿與第二立桿分別設(shè)置于所述第一滑軌的軸向?qū)ΨQ軸上；所述橫桿與第一滑軌的軸向?qū)ΨQ軸平行。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述測試臺包括底板、連接所述底板的防護(hù)罩、及分別樞接所述防護(hù)罩兩側(cè)的第一翻蓋與第二翻蓋。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述第一翻蓋與第二翻蓋分別設(shè)置于所述第一滑軌的兩端。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述弦長測量機(jī)構(gòu)還包括第二滑軌、及滑設(shè)于所述第二滑軌的第一定位件與第二定位件；所述第二滑軌與第一滑軌間隔平行設(shè)置；所述第二滑軌設(shè)置刻度；所述第一定位件與第二定位件用于固定所述弧形玻璃條。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述第一固定件包括第一滑動(dòng)部及第一抵接部；所述第一抵接部垂直連接第一滑動(dòng)部；所述第二固定件包括第二滑動(dòng)部及第二抵接部；所述第二抵接部垂直連接第二滑動(dòng)部。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，所述測試臺采用透明材質(zhì)制成。

10.一種超薄玻璃彎曲半徑的測量方法，基于權(quán)利要求1所述的超薄玻璃彎曲半徑測量裝置，其特征在于，包括如下步驟：

測量弦長L:通過所述第一固定件及第二固定件將玻璃條擠壓成弧形玻璃條，再測量所述第一固定件及第二固定件的距離，得到所述弧形玻璃條的弦長L；

測量拱高H:移動(dòng)所述橫桿至所述橫桿與所述弧形玻璃條的頂點(diǎn)相切，測量所述第一滑軌及橫桿的距離，得到所述弧形玻璃條的拱高H；

判定類型：根據(jù)弦長L與拱高H的關(guān)系，判定所述弧形玻璃條的類型；即弧形為劣??；弧形為半圓；弧形為優(yōu)??；

計(jì)算彎曲半徑R：根據(jù)不同的弧形類型，確定計(jì)算公式，得到半徑R；即弧形為劣弧時(shí)，弧形為半圓或優(yōu)弧時(shí)，