[發(fā)明專利]一種太赫茲時域光譜分析室有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911145695.1 | 申請日: | 2019-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN110726672B | 公開(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王金;紀(jì)寶平;路波;吳斌 | 申請(專利權(quán))人: | 中電科思儀科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/3581 |
| 代理公司: | 青島華慧澤專利代理事務(wù)所(普通合伙) 37247 | 代理人: | 劉娜 |
| 地址: | 266000 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 赫茲 時域 光譜分析 | ||
1.一種太赫茲時域光譜分析室,包括由底板、外框、前立板和上翻蓋組成的分析室的外殼,所述分析室內(nèi)位于底板上設(shè)置有位移臺,所述位移臺上設(shè)有置物臺,其特征在于,所述分析室內(nèi)位于前立板上鉸接有發(fā)射探頭支架和接收探頭支架的一端,所述發(fā)射探頭支架的另一端固定有發(fā)射探頭,所述接收探頭支架的另一端固定有接收探頭,所述發(fā)射探頭和接收探頭分別位于置物臺的兩側(cè),所述前立板上位于鉸接點(diǎn)外周開設(shè)一圈弧形槽,所述發(fā)射探頭支架和接收探頭支架的旋轉(zhuǎn)把手穿過弧形槽與調(diào)節(jié)螺母螺接;所述弧形槽包括一段優(yōu)弧槽和一段劣弧槽,所述發(fā)射探頭和接收探頭的旋轉(zhuǎn)把手分別位于兩段弧形槽內(nèi);所述弧形槽外側(cè)設(shè)有0-360°的角度刻線;所述前立板上位于弧形槽的角度刻線外還固定連接有前框,所述前框上設(shè)置前蓋,所述前蓋一端與所述前框鉸接,所述前框上設(shè)置把手。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太赫茲時域光譜分析室,其特征在于,所述發(fā)射探頭和接收探頭分別通過光學(xué)調(diào)整架與發(fā)射探頭支架和接收探頭支架連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太赫茲時域光譜分析室,其特征在于,所述發(fā)射探頭的旋轉(zhuǎn)把手位于優(yōu)弧槽內(nèi),所述接收探頭的旋轉(zhuǎn)把手位于劣弧槽內(nèi);或者所述發(fā)射探頭的旋轉(zhuǎn)把手位于劣弧槽內(nèi),所述接收探頭的旋轉(zhuǎn)把手位于優(yōu)弧槽內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太赫茲時域光譜分析室,其特征在于,所述上翻蓋一端通過內(nèi)嵌合頁與外框鉸接,另一端通過鎖緊螺釘與前立板活動連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太赫茲時域光譜分析室,其特征在于,所述外框上開設(shè)進(jìn)氣孔、排氣孔和電器接口。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太赫茲時域光譜分析室,其特征在于,所述前立板上設(shè)有信號輸入口、信號輸出口和環(huán)境監(jiān)測裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太赫茲時域光譜分析室,其特征在于,所述外框上位于置物臺區(qū)域設(shè)置觀察窗。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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