[發明專利]調整芯片吸盤與基板吸盤平行度的準直光路結構在審
| 申請號: | 201911144661.0 | 申請日: | 2019-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN110854054A | 公開(公告)日: | 2020-02-28 |
| 發明(設計)人: | 王雁;閆瑛;狄希遠;董永謙;景灝;呂琴紅;孫麗娜;斯迎軍;高峰 | 申請(專利權)人: | 西北電子裝備技術研究所(中國電子科技集團公司第二研究所) |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68;H01L21/67 |
| 代理公司: | 山西華炬律師事務所 14106 | 代理人: | 陳奇 |
| 地址: | 030024 山西*** | 國省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 調整 芯片 吸盤 平行 準直光路 結構 | ||
1.一種調整芯片吸盤與基板吸盤平行度的準直光路結構,包括光學系統操作箱(20)、帶反射鏡面的芯片吸盤(14)和帶反射鏡面的基板吸盤(2),其特征在于,在光學系統操作箱(20)中設置有紅色LED點光源(23),在紅色LED點光源(23)的右側設置有第一半透半反反射鏡(24),在第一半透半反反射鏡(24)右側設置有第一準直物鏡(25),在第一準直物鏡(25)右側設置有靶標圖像生成板(26),在靶標圖像生成板(26)右側設置有與水平面成45°角的第一反射鏡(27),在第一反射鏡(27)的正下方設置有第二半透半反反射鏡(28),在第二半透半反反射鏡(28)的右側設置有與水平面成135°角的第二反射鏡(29),在第二反射鏡(29)正上方設置有第一濾光片(30),在第一濾光片(30)的正上方設置有帶反射鏡面的芯片吸盤(14),在第二半透半反反射鏡(28)的左側設置有與水平面成135°角的第三反射鏡(31),在第三反射鏡(31)的正下方設置有與水平面成135°角的第四反射鏡(32),在第四反射鏡(32)的左側設置有第二準直物鏡(33),在第二準直物鏡(33)的左側設置有準直成像相機(34);在第一半透半反反射鏡(24)正下方設置有藍色LED點光源(35),在第二半透半反反射鏡(28)正下放設置有與水平面成45°角的第五反射鏡(36),在第五反射鏡(36)的右側設置有與水平面成45°角的第六反射鏡(37),在第六反射鏡(37)的正下方設置有第二濾光片(38),在第二濾光片(38)正下方設置有帶反射鏡面的基板吸盤(2)。
2.如權利要求1所述的一種調整芯片吸盤與基板吸盤平行度的準直光路結構,其特征在于,在準直成像相機(34)中分別生成有靶標圖像經帶反射鏡面的芯片吸盤(14)反射后的靶標生成圖像A和靶標圖像經帶反射鏡面的基板吸盤(2)反射后的靶標生成圖像B。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





