[發(fā)明專利]利用準(zhǔn)直光路調(diào)整芯片吸盤與基板吸盤平行度的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911144660.6 | 申請日: | 2019-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN110854045A | 公開(公告)日: | 2020-02-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 景灝;董永謙;閆瑛;王雁;狄希遠(yuǎn);呂琴紅;孫麗娜;斯迎軍;高峰 | 申請(專利權(quán))人: | 西北電子裝備技術(shù)研究所(中國電子科技集團(tuán)公司第二研究所) |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/68;H01L21/603 |
| 代理公司: | 山西華炬律師事務(wù)所 14106 | 代理人: | 陳奇 |
| 地址: | 030024 山西*** | 國省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 準(zhǔn)直光路 調(diào)整 芯片 吸盤 平行 方法 | ||
1.一種利用準(zhǔn)直光路調(diào)整芯片吸盤與基板吸盤平行度的方法,其特征在于以下步驟:
紅色LED點(diǎn)光源(23)發(fā)出的紅色光線依次經(jīng)過第一半透半反反射鏡(24)透射、第一準(zhǔn)直物鏡(25)透射后,在靶標(biāo)圖像生成板(26)上形成有靶標(biāo)圖像紅色光線,所形成的靶標(biāo)圖像紅色光線依次經(jīng)過第一反射鏡(27)反射、第二半透半反反射鏡(28)反射、第二反射鏡(29)反射,并經(jīng)第一濾光片(30)濾光后,照射到帶反射鏡面的芯片吸盤(14)的反射鏡面上,經(jīng)反射鏡面反射后,依次通過第一濾光片(30)濾光、第二反射鏡(29)反射、第二半透半反反射鏡(28)透射、第三反射鏡(31)反射、第四反射鏡(32)反射和第二準(zhǔn)直物鏡(33)透射后在準(zhǔn)直成像相機(jī)(34)中生成有靶標(biāo)圖像經(jīng)帶反射鏡面的芯片吸盤(14)反射后的靶標(biāo)生成圖像A;
藍(lán)色LED點(diǎn)光源(35)發(fā)出的藍(lán)色光線依次經(jīng)過第一半透半反反射鏡(24)反射、第一準(zhǔn)直物鏡(25)透射后,在靶標(biāo)圖像生成板(26)上形成靶標(biāo)圖像藍(lán)色光線,所形成的靶標(biāo)圖像藍(lán)色光線依次經(jīng)第一反射鏡(27)反射、第二半透半反反射鏡(28)透射、第五反射鏡(36)反射、第六反射鏡(37)反射,并經(jīng)第二濾光片(38)濾光后,照射到帶反射鏡面的基板吸盤(2)的反射鏡面上,經(jīng)基板吸盤(2)的反射鏡面反射后,依次通過第二濾光片(38)濾光、第六反射鏡(37)反射、第五反射鏡(36)反射、第二半透半反反射鏡(28)反射、第三反射鏡(31)反射、第四反射鏡(32)反射和第二準(zhǔn)直物鏡(33)透射后,在準(zhǔn)直成像相機(jī)(34)中生成靶標(biāo)圖像經(jīng)帶反射鏡面的基板吸盤(2)反射后的靶標(biāo)生成圖像B;
靶標(biāo)生成圖像A與靶標(biāo)生成圖像B若不重合,調(diào)整俯仰偏擺調(diào)整平臺(12),改變帶反射鏡面的芯片吸盤(14)的姿態(tài),直至靶標(biāo)圖像經(jīng)帶反射鏡面的芯片吸盤(14)反射后的靶標(biāo)生成圖像A與靶標(biāo)圖像經(jīng)帶反射鏡面的基板吸盤(2)反射后的靶標(biāo)生成圖像B重合,完成芯片吸盤與基板吸盤平行度的調(diào)整操作。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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