[發明專利]X射線探測器、成像裝置和用于操作X射線探測器的方法

在審

• 申請號: 201911143080.5
• 申請日: 2019-11-20
• 公開（公告）號: CN111220632A
• 公開（公告）日: 2020-06-02
• 發明（設計）人: T·厄格勒;B·欣茨;S·維爾特
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046;G01V5/00
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 閆昊

1.一種X射線探測器(2)，所述X射線探測器具有一閃爍體(6)、一光導體(8)、一光電探測器(10)和一模式轉換器(12)，

-其中所述光導體(8)被設計用于將來自所述閃爍體(6)的光(L1)引導至所示光電探測器(10)，

-其中所述光導體(8)具有模式光譜，并且其中僅僅位于所述模式光譜之內的光(L1)能被耦合輸入到所述光導體(8)中，

-其中所述模式轉換器(12)具有一散射介質(M)，并且所述模式轉換器被設計成使得借助于所述散射介質(M)將由所述閃爍體(6)產生的并且位于所述模式光譜之外的光(L2)轉變到所述模式光譜中，以耦合輸入到所述光導體(8)中。

2.根據權利要求1所述的X射線探測器(2)，

其中所述散射介質(M)被設計成使得光(L1，L2)從入射方向轉向到與所述入射方向不同的出射方向中，以用于空間模式轉換。

3.根據權利要求1或2中任一項所述的X射線探測器(2)，

其中所述散射介質(M)被設計成使得光(L1，L2)被所述散射介質(M)吸收并以另外的波長被重新發射，以用于光譜模式轉換。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的X射線探測器(2)，

其中所述散射介質(M)是熒光介質，所述熒光介質被設計用于吸收來自所述閃爍體(6)的光(L1，L2)并將所述光重新發射。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的X射線探測器(2)，

其中所述X射線探測器具有一反射器(14)，所述反射器被布置成使得來自所述閃爍體(6)的光(L2)被反射回所述閃爍體中，

其中，所述閃爍體(6)同時是所述散射介質(M)，并且所述閃爍體由此被設計成使得被所述反射器(14)反射回所述閃爍體(6)中的光(L2)被轉變到所述模式光譜中。

6.根據權利要求5所述的X射線探測器(2)，

其中所述反射器(14)在所述閃爍體(6)的正面(V)上被設計為頂罩形、尤其是圓錐形，并且所述反射器具有尖端(18)，所述光導體(8)被插入所述尖端中。

7.根據權利要求5或6中任一項所述的X射線探測器(2)，

其中所述反射器(14)包圍一空腔，所述閃爍體(6)被布置在所述空腔中。

8.根據權利要求5所述的X射線探測器(2)，

其中所述反射器(14)包圍一空腔，所述閃爍體(6)被布置在所述空腔中，

其中所述反射器(14)完全貼靠所述閃爍體(6)。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的X射線探測器(2)，

其中所述光導體(8)具有一芯(22)和包圍所述芯(22)的一護套(24)，

其中，所述散射介質(M)集成在所述護套(24)中。

10.根據權利要求1至9中任一項所述的X射線探測器(2)，

其中由于所述光導體(8)具有完全插入到所述閃爍體(6)中的端部段(30)，所述光導體(8)伸入到所述閃爍體(6)中。

11.根據權利要求10所述的X射線探測器(2)，

其中所述端部段(30)被設計為無護套的，使得僅所述光導體(8)的所述芯(22)伸入到所述閃爍體(6)中。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的X射線探測器(2)，

其中在所述閃爍體(6)和所述光導體(8)之間布置有成像光學系統(32)，用于將所述閃爍體(6)的光(L1，L2)耦合輸入到所述光導體(8)中。

13.根據權利要求12所述的X射線探測器(2)，

其中所述成像光學系統(32)直接安裝在所述閃爍體(6)的正面(V)上。