[發(fā)明專利]缺陷檢測裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911137321.5
• 申請日: 2019-11-19
• 公開（公告）號: CN110779928B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發(fā)明（設計）人: 汪科道
• 申請（專利權）人: 汪科道
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 蘇州彰尚知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 32336
• 代理人: 潘劍

1.一種缺陷檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括運動部件、采像部件以及處理部件，所述處理部件與所述運動部件、所述采像部件連接，所述運動部件用于對檢測對象進行抓取和/或擺放，和/或對所述采像部件進行運動，所述采像部件用于對所述檢測對象進行采像，所述處理部件包括：

路徑規(guī)劃模塊：用于根據(jù)所述檢測對象的所有可采像位置及預設的第一抽樣比例，確定所述檢測對象的多個第一采像位置；

根據(jù)所述采像部件采集的每個第一采像位置的第一檢測圖像，確定所述每個第一采像位置的第一缺陷概率；

根據(jù)所述第一缺陷概率及所述所有可采像位置除第一采像位置之外的位置的預設缺陷概率，建立概率矩陣；

根據(jù)預設的子矩陣尺寸，將所述概率矩陣拆分成多個子矩陣，確定每個子矩陣對應的局部區(qū)域的第二缺陷概率；

判定模塊：用于將所有第二缺陷概率中的最大值確定為所述檢測對象的第三缺陷概率，當所述第三缺陷概率大于或等于缺陷概率閾值時，檢測對象判定為有缺陷，反之則判定為無缺陷。

2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述路徑規(guī)劃模塊，還用于：

判斷每個第二缺陷概率是否滿足置信條件，其中，所述置信條件為所述第二缺陷概率小于或等于預設的第一置信閾值，或者，所述第二缺陷概率大于或等于預設的第二置信閾值，所述第一置信閾值小于所述第二置信閾值；

當每個第二缺陷概率均滿足所述置信條件時，直接進入判定模塊進行缺陷判定；

當存在不滿足所述置信條件的第二缺陷概率時，

在所述不滿足所述置信條件的第二缺陷概率所對應的局部區(qū)域中，根據(jù)預設的第二抽樣比例確定第二采像位置，

根據(jù)所述采像部件采集的每個第二采像位置的第二檢測圖像，確定所述每個第二采像位置的第四缺陷概率；

用所述第四缺陷概率替換所述局部區(qū)域對應的子矩陣中相應的預設缺陷概率，重新確定所述局部區(qū)域的第二缺陷概率；

重復判斷每個第二缺陷概率是否滿足置信條件的步驟，直到每個第二缺陷概率均滿足所述置信條件。

3.根據(jù)權利要求1-2任一項所述的裝置，其特征在于，通過卷積網(wǎng)絡確定所述第二缺陷概率，包括：

根據(jù)預設的子矩陣尺寸，確定所述卷積網(wǎng)絡的卷積核及步長；

根據(jù)所述卷積核及步長，通過所述卷積網(wǎng)絡對所述概率矩陣進行卷積操作，得到所述檢測對象的每個局部區(qū)域的第二缺陷概率。

4.根據(jù)權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述子矩陣尺寸是根據(jù)平均能觀測到缺陷的最大連續(xù)采像間隔及預設的采像精度確定的，所述卷積網(wǎng)絡的參數(shù)是根據(jù)概率分布確定的。

5.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述第二采像位置不包括所述第一采像位置。

6.根據(jù)權利要求1-2任一項所述的裝置，其特征在于，所述路徑規(guī)劃模塊，還用于：

根據(jù)預設的采像精度及所述檢測對象的幾何形狀，確定所述檢測對象的所有可采像位置；

根據(jù)預設的角度精度，確定每個可采像位置的采像角度。

7.根據(jù)權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述路徑規(guī)劃模塊，還用于：

根據(jù)每個第一采像位置的采像角度，獲得每個第一采像位置至少一張第一檢測圖像，并根據(jù)所述至少一張第一檢測圖像，確定每個第一采像位置的第一缺陷概率，和/或

根據(jù)每個第二采像位置的采像角度，獲得每個第二采像位置至少一張第二檢測圖像，并根據(jù)所述至少一張第二檢測圖像，確定每個第二采像位置的第四缺陷概率。

8.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于，通過判定網(wǎng)絡確定所述第一缺陷概率和/或所述第四缺陷概率，包括：

將第一檢測圖像和/或第二檢測圖像輸入所述判定網(wǎng)絡進行處理，得到第一缺陷概率和/或第四缺陷概率。

9.根據(jù)權利要求1-2任一項所述的裝置，其特征在于，所述運動部件包括機器人或機械臂，所述采像部件包括相機、光源。