[發(fā)明專利]一種基于深度學(xué)習(xí)的pcb板缺陷檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911135041.0 | 申請日: | 2019-11-19 |
| 公開(公告)號: | CN111103307A | 公開(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃坤山;李霽峰 | 申請(專利權(quán))人: | 佛山市南海區(qū)廣工大數(shù)控裝備協(xié)同創(chuàng)新研究院;佛山市廣工大數(shù)控裝備技術(shù)發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956;G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司: | 廣東廣信君達(dá)律師事務(wù)所 44329 | 代理人: | 江金城 |
| 地址: | 528225 *** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 深度 學(xué)習(xí) pcb 缺陷 檢測 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于深度學(xué)習(xí)的pcb板缺陷檢測方法,該方法首先采集大量由無法檢測或誤檢的圖片,并且準(zhǔn)備與缺陷圖片數(shù)量相同的正確圖片。然后對采集好的缺陷圖與正確圖進(jìn)行整理,清洗與標(biāo)注,制作成訓(xùn)練集和測試集。根據(jù)檢測要求,定義缺陷程度與類型,然后根據(jù)需要識別的類型,進(jìn)行深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的搭建。使用制作好的訓(xùn)練集對深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行多次訓(xùn)練。并在最后使用制作好的測試集對訓(xùn)練好的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行泛化測試。通過測試結(jié)果計算準(zhǔn)確率,召回率等等參數(shù)來評價深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的性能,如果性能沒有達(dá)到要求,則不斷重復(fù)之前的操作,直到訓(xùn)練到性能符合要求的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)。最后將訓(xùn)練完成的卷積網(wǎng)絡(luò)投入二次檢測中使用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及PCB板缺陷檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的pcb板缺陷檢測方法。
背景技術(shù)
Pcb板缺陷檢測歷來是工業(yè)生產(chǎn)一個關(guān)鍵問題,在生產(chǎn)過程中,由于多方面誤差等等因素,會導(dǎo)致pcb板出現(xiàn)不同程度缺陷。對pcb板缺陷檢測的傳統(tǒng)方法是人工處理,這是最落后的檢測手段,效率低,成本高。之后pcb板缺陷檢測進(jìn)入了自動化處理,采用圖像處理與機(jī)器視覺方法,比人工提高不少效率,但是與此同時,卻出現(xiàn)許多的誤檢(不是缺陷的pcb電路板也標(biāo)志為缺陷),因而仍然需要人工對自動化處理流程分類出來的缺陷進(jìn)行二次篩選,將真正的缺陷檢測出來。人工二次篩選的在初期有不錯的成效,但是隨著生產(chǎn)速度提高,人工檢測速度不僅無法提高,還加快人工疲勞,無法做到高產(chǎn)能。
因此,現(xiàn)有技術(shù)需要進(jìn)一步改進(jìn)和完善。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種基于深度學(xué)習(xí)的pcb板缺陷檢測方法。
考慮到自動化處理無法對自己產(chǎn)生的誤檢圖片進(jìn)行學(xué)習(xí)改良檢測之后,借助當(dāng)下深度學(xué)習(xí)的思想方法,本發(fā)明研制了一套基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的缺陷檢測系統(tǒng),本發(fā)明目標(biāo)在替代人工二次檢測,主要作用是其可以對自動化流程無法識別的缺陷圖進(jìn)行學(xué)習(xí),最后能夠分類出誤檢圖中的真缺陷與假缺陷。經(jīng)過實驗發(fā)現(xiàn),不僅減輕二次篩選的工作量,同時因為能夠長時間運(yùn)行,并且性能穩(wěn)定可靠,實現(xiàn)了對pcb板的高速度、高精度和非接觸缺陷檢測,最重要的是,本發(fā)明填補(bǔ)了深度學(xué)習(xí)在pcb板缺陷檢測領(lǐng)域的空缺。
本發(fā)明的目的通過下述技術(shù)方案實現(xiàn):
一種基于深度學(xué)習(xí)的pcb板缺陷檢測方法,該檢測方法主要包括如下具體步驟:
步驟S1:根據(jù)pcb缺陷檢測要求,進(jìn)行深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的搭建。
具體的,所述步驟S1中深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的搭建包括:根據(jù)生產(chǎn)方的要求,對其需求進(jìn)行數(shù)學(xué)建模,最后使用深度學(xué)習(xí)框架將數(shù)學(xué)模型編寫成神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,搭建的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)層次結(jié)構(gòu)如下:
原圖輸入resize(重新設(shè)定圖片尺寸)為224x224像素大小;
第一層,卷積層,卷積核大小為7像素,步長為2像素,輸出112x112像素尺寸的特征圖;
第二層,最大池化層,池化核大小為3像素,步長為2像素,輸出56x56像素尺寸的特征圖;
第三、四、五、六層,卷積核大小為3像素,步長為1像素的卷積層,輸出為56x56像素尺寸特征圖;
第七層,卷積層,卷積核大小為3像素,步長為2像素,輸出28x28像素尺寸特征圖;
第八、九、十層,卷積層,卷積核大小為3像素,步長為1像素,輸出28x28像素尺寸特征圖;
第十一層,卷積層,卷積核大小為3像素,步長為2像素,輸出14x14像素尺寸特征圖;
第十二、十三層,十四層,卷積層,卷積核大小為3像素,步長為1像素,輸出14x14像素尺寸特征圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于佛山市南海區(qū)廣工大數(shù)控裝備協(xié)同創(chuàng)新研究院;佛山市廣工大數(shù)控裝備技術(shù)發(fā)展有限公司,未經(jīng)佛山市南海區(qū)廣工大數(shù)控裝備協(xié)同創(chuàng)新研究院;佛山市廣工大數(shù)控裝備技術(shù)發(fā)展有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
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G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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