[發明專利]OLED驅動系統以及OLED的亮度補償方法

在審

• 申請號: 201911132844.0
• 申請日: 2019-11-19
• 公開（公告）號: CN110930946A
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 王利民
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 呂姝娟

OLED驅動系統以及OLED的亮度補償方法。所述OLED驅動系統包括像素電路模塊、查閱表、衰減程度計算模塊、補償模式判定模塊、補償數據存儲模塊、補償數據計算模塊以及補償模塊，用以依據OLED的亮度衰減與所述OLED的跨壓的關系決定補償數據并提供至所述像素電路模塊。

【技術領域】

本揭示涉及顯示技術領域，特別涉及一種OLED驅動系統以及OLED的亮度補償方法。

【背景技術】

因為工藝和制程方面的原因，導致OLED顯示器的顯示特性不均勻，需要進行De-Mura(均勻性補償)。具體而言，在顯示過程中，OLED顯示器的TFT器件和OLED器件等會有特性漂移，導致顯示特性不均勻問題惡化。因此，需要對器件的特性漂移做偵測和補償。

但是現有的偵測補償電路，主要針對AMOLED顯示器中的TFT器件進行特性漂移的偵測補償，而對于OLED器件的偵測和補償缺乏有效的方案。

【發明內容】

為解決上述技術問題，本揭示的一目的在于提供一種OLED驅動系統以及OLED的亮度補償方法，通過對于OLED器件的偵測和補償，提供更好的均勻性補償。

為達成上述目的，本揭示提供一種OLED驅動系統，包括：像素電路模塊、查閱表、衰減程度計算模塊、補償模式判定模塊、補償數據存儲模塊、補償數據計算模塊以及補償模塊。所述像素電路模塊包括陣列排列的OLED以及對應的像素電路，用以點亮所述OLED。所述查閱表用以提供所述OLED的亮度衰減與所述OLED的跨壓的關系。所述衰減程度計算模塊連接至所述像素電路模塊以及所述查閱表，用以量測所述像素電路模塊中的所述OLED的所述跨壓，并根據量測的所述跨壓查找查閱表以決定所述OLED的亮度。所述補償模式判定模塊連接至所述衰減程度計算模塊，用以比對所述OLED的所述亮度與預設亮度值以決定是否進行補償。所述補償數據存儲模塊用以儲存補償數據。所述補償數據計算模塊連接至所述補償模式判定模塊以及所述補償數據存儲模塊，用以接受所述補償模式判定模塊的指令重新計算所述補償數據，并將所述補償數據存儲模塊中的所述補償數據更新。所述補償模塊連接至所述補償數據存儲模塊，用以將所述補償數據存儲模塊中的所述補償數據提供至所述像素電路模塊以進行補償。

于本揭示一實施例所述的OLED驅動系統，其中，所述補償模式判定模塊用以在所述OLED的所述亮度小于所述預設亮度值時，向所述補償數據計算模塊發出所述重新計算所述補償數據的指令。

于本揭示一實施例所述的OLED驅動系統，其中，所述預設亮度值為原始亮度的80％。

于本揭示一實施例所述的OLED驅動系統，其中，所述補償模式判定模塊用以在所述OLED的所述亮度小于所述預設亮度值后，在所述OLED的所述亮度每降低原始亮度的5％時，向所述補償數據計算模塊發出所述重新計算所述補償數據的指令。

于本揭示一實施例所述的OLED驅動系統，其中，所述衰減程度計算模塊用以在所述像素電路模塊中的驅動晶體管獲得補償后進行所述像素電路模塊中的所述OLED的所述跨壓量測。

本揭示還提供一種OLED的亮度補償方法，其中，所述方法包括：提供像素電路模塊，包括陣列排列的OLED以及對應的像素電路，用以點亮所述OLED；提供查閱表，包括所述OLED的亮度衰減與所述OLED的跨壓的關系；量測各像素的所述OLED的陽極電壓；根據所述陽極電壓在所述查閱表中找出對應的所述OLED的亮度；判斷所述OLED的所述亮度是否低于預設亮度值；若所述OLED的所述亮度低于所述預設亮度值，則重新計算補償數據并將所述補償數據更新至補償數據存儲模塊，若否，則不進行重新計算補償數據亦不更新補償數據存儲模塊；以及依所述補償數據存儲模塊中的所述補償數據對所述像素電路模塊進行補償。

于本揭示一實施例的OLED的亮度補償方法，其中，所述量測各像素的所述OLED的陽極電壓的步驟是在所述像素電路模塊中的驅動晶體管獲得補償后執行。