[發明專利]一種眼鏡鏡片透光性測試裝置

在審

• 申請號: 201911122616.5
• 申請日: 2019-11-15
• 公開（公告）號: CN110793757A
• 公開（公告）日: 2020-02-14
• 發明（設計）人: 樓曉帥
• 申請（專利權）人: 浦江義林眼鏡有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及眼鏡光學性能測試領域，尤其是一種眼鏡鏡片透光性測試裝置，包括機身、設置于所述機身內的清潔腔以及設置于所述清潔腔下方的測試腔，所述機身內設置有貫穿所述測試腔與所述清潔腔的導滑槽，所述導滑槽內可上下滑動的設置有滑動架，所述滑動架與所述導滑槽底壁間設置有第一彈簧，所述滑動架內設置有左右貫通的圓形腔，所述圓形腔內可轉動的設置有測試腔，本發明提供的一種眼鏡鏡片透光性測試裝置，能夠方便的測試眼鏡鏡片的透光性，設備能夠方便的對鏡片進行固定，設備能夠在測試前對鏡片進行雙面清潔，排出了鏡片表面灰塵對測試的影響，同時設備在測試時將鏡片置于完全密閉的空間內，避免的外界光源的干擾，使測試結果更加精確。

技術領域

本發明涉及眼鏡光學性能測試領域，尤其是一種眼鏡鏡片透光性測試裝置 。

背景技術

隨著電子產品的增加，人們通過顯示器的時長隨之增加，嚴重影響人們的視力，眼鏡能夠對人們的視力進行校正，保證人們能夠清晰的觀察外界環境，但是眼鏡的質量對視力有一定的影響，其中眼鏡的透光性能尤為重要，傳統的眼鏡透光性能測試時非常不方便，而且測試時無法隔絕外界的干擾，導致測試精度不高，因此有必要設置一種眼鏡鏡片透光性測試裝置改善上述問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種眼鏡鏡片透光性測試裝置，能夠克服現有技術的上述缺陷，從而提高設備的實用性。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：本發明的一種眼鏡鏡片透光性測試裝置，包括機身、設置于所述機身內的清潔腔以及設置于所述清潔腔下方的測試腔，所述機身內設置有貫穿所述測試腔與所述清潔腔的導滑槽，所述導滑槽內可上下滑動的設置有滑動架，所述滑動架與所述導滑槽底壁間設置有第一彈簧，所述滑動架內設置有左右貫通的圓形腔，所述圓形腔內可轉動的設置有測試腔，所述固定環內左右貫通設置有用于固定眼鏡鏡片的固定腔，所述清潔腔頂壁內設置有帶動所述滑動架上下移動的提升裝置，所述提升裝置帶動所述滑動架上移至所述清潔腔內時，所述導滑槽右側端壁內設置的鎖定裝置將所述滑動架鎖定，此時所述鎖定裝置內設置的第一花鍵軸在磁芯作用下左移與所述圓形腔底壁內設置的翻轉裝置配合，所述清潔腔右側端壁內設置有頂推裝置帶動所述清潔腔內滑動的設置的清潔刷左移與鏡片抵接，此時所述提升裝置動力帶動所述清潔刷轉動對鏡面進行清潔，所述頂推裝置帶動所述清潔刷右移時，所述翻轉裝置帶動鏡片轉動半周，從而配合所述清潔刷進行雙面清潔，清潔完畢后，所述提升裝置帶動所述滑動架下移，從而使鏡片滑入所述測試腔內，此時所述滑動架右側端壁上設置的感應塊與所述導滑槽右側端壁上固定設置的感應器電聯，此時所述測試腔右側端壁內設置的照明燈通電發光，所述測試腔左側端壁內固定設置有用于接收照明燈光線的光感電阻，所述光感電阻與所述測試腔左側端壁內設置的感應線圈串聯在電源電路內，隨著所述光感電阻內接收光線的多少，所述光感電阻阻值發生變化，所述感應線圈內電流變化導致所述感應線圈中間設置的磁棒磁性變化，此時所述清潔腔底壁內設置的的第一滑動孔內可滑動的設置的帶有刻度的磁條在所述磁棒作用下上移，所述復位裝置端壁內設置有帶動所述磁條復位的復位裝置。

進一步地，所述提升裝置包括所述清潔腔頂壁內設置的繞線腔，所述繞線腔與所述清潔腔右側端壁內設置的動力腔之間轉動設置有第一轉軸，所述動力腔內的所述第一轉軸外表面固定設置有第一齒輪，所述繞線腔內的所述第一轉軸末端固定設置有繞線輪，所述繞線輪外表面纏繞有與所述滑動架固定連接的拉線。

進一步地，所述鎖定裝置包括所述機身右側端壁內設置的傳動腔，所述傳動腔與所述導滑槽之間轉動設置有第二轉軸，所述傳動腔內的所述第二轉軸末端固定設置有第一錐齒輪，所述第二轉軸左側端壁內設置有開口向左的磁芯，所述第一花鍵軸花鍵連接與所述磁芯內，所述磁芯內設置有可帶動所述第一花鍵軸左右移動的電磁鐵。