[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911119139.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-11-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110828496B | 公開(公告)日: | 2022-10-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬書英;鄭鳳霞;劉軼;金韶;萬石保 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華天科技(昆山)電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146;H01L25/07 |
| 代理公司: | 蘇州國誠專利代理有限公司 32293 | 代理人: | 楊淑霞 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 及其 制造 方法 | ||
本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體器件及其制造方法,其中,所述半導(dǎo)體器件制造方法包括如下步驟:S1、在硅基片的正面開設(shè)需求數(shù)量的槽體;S2、將第一芯片、第二芯片的晶圓減薄到需求厚度;S3、將第一芯片、第二芯片分別固定于開設(shè)的槽體中;S4、在第一芯片、第二芯片表層的阻焊層上設(shè)置焊點(diǎn);S5、將硅基片的背面進(jìn)行減薄,再第三芯片以倒裝方式焊接于設(shè)置的焊點(diǎn)上。本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法中,將第一芯片和第二芯片通過硅基片進(jìn)行封裝,并通過倒裝方式實(shí)現(xiàn)第三芯片與第一芯片和第二芯片之間互連,最終封裝厚度小于600um,實(shí)現(xiàn)了超薄、更小體積的封裝,且實(shí)現(xiàn)三維互連,信號(hào)傳輸距離更遠(yuǎn)、更快。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體器件及其制造方法。
背景技術(shù)
圖像傳感器是利用光電器件的光電轉(zhuǎn)換功能。將感光面上的光像轉(zhuǎn)換為與光像成相應(yīng)比例關(guān)系的電信號(hào)。與光敏二極管,光敏三極管等“點(diǎn)”光源的光敏元件相比,圖像傳感器是將其受光面上的光像,分成許多小單元,將其轉(zhuǎn)換成可用的電信號(hào)的一種功能器件。
與圖像傳感技術(shù)相關(guān)的芯片包括:CMOS芯片、ISP芯片和DDR芯片。目前,圖像傳感器封裝是將CMOS芯片,ISP芯片和DDR芯片平放在PCB 板上。然而,上述封裝方式中通過打線方式將信號(hào)引出,該傳統(tǒng)的圖像傳感器的封裝方式存在封裝體積大且封裝厚度厚的問題。因此,針對(duì)如上述問題,有必要提出進(jìn)一步的解決方案。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種半導(dǎo)體器件及其制造方法,以克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的技術(shù)方案是:
一種半導(dǎo)體器件制造方法,其包括如下步驟:
S1、在硅基片的正面開設(shè)需求數(shù)量的槽體;
S2、將第一芯片、第二芯片的晶圓減薄到需求厚度;
S3、將第一芯片、第二芯片分別固定于開設(shè)的槽體中;
S4、在第一芯片、第二芯片表層的阻焊層上設(shè)置焊點(diǎn);
S5、將硅基片的背面進(jìn)行減薄,再第三芯片以倒裝方式焊接于設(shè)置的焊點(diǎn)上。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述步驟S2具體包括:先將第一芯片、第二芯片的晶圓減薄到需求厚度,再將減薄后的晶圓切割形成單顆芯片。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述步驟S2具體包括:先切割形成單顆芯片,再對(duì)單顆第一芯片、第二芯片的晶圓減薄到需求厚度。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述步驟S3中,將第一芯片、第二芯片通過粘膠方式粘接于所在槽體的底面。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述步驟S3中,在所述第一芯片、第二芯片的表面及第一芯片、第二芯片與槽體之間的間隙形成鈍化層,同時(shí)在鈍化層上形成芯片的焊接位置。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述步驟S3和S4之間,還包括:通過重布線的方式,將第一芯片和第二芯片的信號(hào)引出。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述重布線的方式為金屬重布線,其包括:在第一芯片和第二芯片的焊接位置沉積一層種子層,再光刻出線路,然后將金屬線路加厚至要求的厚度。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述重布線的方式為多層金屬重布線,其包括:在第一芯片和第二芯片的焊接位置逐層沉積種子層,在沉積的同時(shí)光刻出線路,在最后一層線路上采用化鍍方式形成保護(hù)層。
作為本發(fā)明的半導(dǎo)體器件制造方法的制造方法,所述半導(dǎo)體器件制造方法還包括:
S6、將步驟S5得到的產(chǎn)品切割,得到單顆封裝體,將所述單顆封裝體通過打線方式焊接到PCB板上。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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