[發(fā)明專利]一次性可編程存儲器單元及其存儲器和存儲器系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911117623.6 | 申請日: | 2019-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN111415694A | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 河旻烈 | 申請(專利權(quán))人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G11C17/18 | 分類號: | G11C17/18 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 連飛 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一次性 可編程 存儲器 單元 及其 系統(tǒng) | ||
1.一種一次性可編程OTP存儲器單元,包括:
在第一節(jié)點和第二節(jié)點之間串聯(lián)連接的主OTP單元晶體管、冗余OTP單元晶體管和存取晶體管,所述第一節(jié)點處于浮置狀態(tài),
其中,在編程操作期間,所述OTP存儲器單元被配置為將編程電壓施加到所述主OTP單元晶體管的第一柵極和所述冗余OTP單元晶體管的第二柵極,以及將編程存取電壓施加到所述存取晶體管的第三柵極,所述編程存取電壓低于所述編程電壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OTP存儲器單元,其中,在讀取操作期間,所述OTP存儲器單元被配置為將低于編程電壓的讀取電壓施加到所述主OTP存儲器單元晶體管的第一柵極和所述冗余OTP單元晶體管的第二柵極,以及將讀取存取電壓施加到所述存取晶體管的第三柵極,所述讀取電壓低于所述編程電壓,所述讀取存取電壓低于所述編程存取電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的OTP存儲器單元,其中:
所述編程電壓是高電壓;
所述讀取電壓低于所述編程存取電壓;并且
所述讀取存取電壓低于所述讀取電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OTP存儲器單元,其中:
所述編程操作包括第一編程操作和第二編程操作;
在所述第一編程操作中,所述OTP存儲器單元被配置為將所述編程電壓施加到所述主OTP單元晶體管的第一柵極,以及將所述編程存取電壓施加到所述冗余OTP單元晶體管的第二柵極和所述存取晶體管的第三柵極;和
在所述第一編程操作之后的所述第二編程操作中,所述OTP存儲器單元被配置為使得所述主OTP單元晶體管的第一柵極處于所述浮置狀態(tài),將所述編程電壓施加到所述冗余OTP單元晶體管的第二柵極,以及將所述編程存取電壓施加到所述存取晶體管的第三柵極。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的OTP存儲器單元,其中,在讀取操作期間,所述OTP存儲器單元被配置為將讀取電壓施加到所述主OTP存儲器單元晶體管的第一柵極和所述冗余OTP單元晶體管的第二柵極,以及將讀取存取電壓施加到所述存取晶體管的第三柵極,所述讀取電壓低于所述編程電壓,所述讀取存取電壓低于所述編程存取電壓。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的OTP存儲器單元,其中:
所述編程電壓是高電壓;
所述讀取電壓低于所述編程存取電壓;并且
所述讀取存取電壓低于所述讀取電壓。
7.一種一次性可編程OTP存儲器,包括:
OTP存儲器單元陣列,包括連接在多條第一行線、多條第二行線、多條選擇線和多條位線之間的多個OTP存儲器單元;
行解碼器,配置為解碼行地址以生成多個字線選擇信號;和
行驅(qū)動器,配置為響應(yīng)于所述多個字線選擇信號來驅(qū)動所述多條第一行線、所述多條第二行線和所述多條選擇線,
其中,所述OTP存儲器單元中的每一個包括串聯(lián)連接在處于浮置狀態(tài)的節(jié)點和所述多條位線當(dāng)中的相應(yīng)位線之間的主OTP單元晶體管、冗余OTP單元晶體管和存取晶體管,
所述主OTP單元晶體管包括連接到所述多條第一行線當(dāng)中的相應(yīng)第一行線的第一柵極,
所述冗余OTP單元晶體管包括連接到所述多條第二行線當(dāng)中的相應(yīng)第二行線的第二柵極,以及
所述存取晶體管包括連接到所述多條選擇線當(dāng)中的相應(yīng)選擇線的第三柵極,以及
其中,所述行驅(qū)動器被配置為,
響應(yīng)于所述多個字線選擇信號,分別從所述多條第一行線、所述多條第二行線和所述多條選擇線當(dāng)中選擇第一行線、第二行線和選擇線,以及
在編程操作中,將編程電壓施加到所述選擇的第一行線和所述選擇的第二行線,以及將編程存取電壓施加到所述選擇的選擇線,所述編程存取電壓低于所述編程電壓。
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