[發明專利]冗余檢測的方法及裝置、終端和存儲介質在審
| 申請號: | 201911115330.4 | 申請日: | 2019-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN110837475A | 公開(公告)日: | 2020-02-25 |
| 發明(設計)人: | 朱立軍 | 申請(專利權)人: | 北京無限光場科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京天達共和律師事務所 11798 | 代理人: | 關剛 |
| 地址: | 100081 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 冗余 檢測 方法 裝置 終端 存儲 介質 | ||
1.一種冗余檢測的方法,包括:
獲取多個模塊及所述多個模塊之間的第一依賴關系;
根據所述第一依賴關系將所述多個模塊建成結構圖;
獲取工程中調用的所述多個模塊的全部或部分模塊;及
根據所述結構圖檢測所述全部或部分模塊中的冗余模塊。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述第一依賴關系將所述多個模塊建成結構圖的步驟包括:
根據所述第一依賴關系將所述多個模塊分級;
根據所述第一依賴關系將所述多個模塊排列成多個第一順序鏈;
統計每一所述多個第一順序鏈中的模塊數量,及每一所述多個模塊在每個所述多個第一順序鏈中的級數;其中,所述多個模塊中具有存在于所述多個第一順序鏈中的至少兩個第一順序鏈中的模塊,所述模塊在所述至少兩個第一順序鏈中的分級不同;及
從所述多個第一順序鏈中的模塊數量最多的順序鏈開始,以所述模塊在所述至少兩個第一順序鏈中的不同分級為參照,建成所述結構圖。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在獲取工程中調用的所述多個模塊的全部或部分模塊的步驟之后,還包括:
獲取所述全部或部分模塊之間的第二依賴關系;及
根據所述第二依賴關系將所述全部或部分模塊形成多個第二順序鏈。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述結構圖檢測所述全部或部分模塊中的冗余模塊的步驟包括:
當所述第二順序鏈中存在多于兩個模塊時,如所述多于兩個模塊在所述結構圖的縱向上有重疊,則將所述多于兩個模塊中處于中間位置的模塊設定為所述冗余模塊。
5.一種冗余檢測的方法,包括:
獲取多個模塊并將所述多個模塊構成有向無環圖;
對所述有向無環圖進行拓撲排序形成順序鏈;
遍歷所述順序鏈形成所述多個模塊的結構圖;
獲取工程中調用的所述多個模塊的全部或部分模塊;及
根據所述結構圖檢測所述全部或部分模塊中的冗余模塊。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述獲取多個模塊并將所述多個模塊構成有向無環圖的步驟包括:
將所述多個模塊抽象為多個節點;及
以所述多個節點構成有向無環圖。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述遍歷所述順序鏈形成所述多個模塊的結構圖包括:
遍歷所述順序鏈,獲取每個所述多個節點的子節點;及
獲取每個所述多個節點及其子節點的依賴關系,如節點及其子節點之間同時存在直接依賴關系和間接依賴關系,清除所述直接依賴關系中的子節點,形成所述結構圖。
8.一種冗余檢測的裝置,包括:
獲取模塊,用于獲取多個模塊及所述多個模塊之間的第一依賴關系,和工程中調用的所述多個模塊的全部或部分模塊;
構圖模塊,用于根據所述第一依賴關系將所述多個模塊建成結構圖;及
檢測模塊,用于根據所述結構圖檢測所述全部或部分模塊中的冗余模塊。
9.一種冗余檢測的裝置,包括:
獲取模塊,用于獲取多個模塊和工程中調用的所述多個模塊的全部或部分模塊;
處理模塊,用于將所述多個模塊構成有向無環圖,對所述有向無環圖進行拓撲排序形成順序鏈和遍歷所述順序鏈形成所述多個模塊的結構圖;及
檢測模塊,用于根據所述結構圖檢測所述全部或部分模塊中的冗余模塊。
10.一種終端,包括:
至少一個存儲器和至少一個處理器;
其中,所述至少一個存儲器用于存儲程序代碼,所述至少一個處理器用于調用所述至少一個存儲器所存儲的程序代碼執行權利要求1至7中任一項所述的方法。
11.一種存儲介質,所述存儲介質用于存儲程序代碼,所述程序代碼用于執行權利要求1至7中任一項所述的方法。
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