[發明專利]一種滑坡體的三維成像方法及系統

有效

• 申請號: 201911113868.1
• 申請日: 2019-11-14
• 公開（公告）號: CN110823962B
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 蘇茂鑫;劉軼民;薛翊國;邱道宏;李廣坤;程凱
• 申請（專利權）人: 山東大學
• 主分類號: G01N27/04
• 分類號: G01N27/04;G01V3/38
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221
• 代理人: 張慶騫

1.一種滑坡體的三維成像方法，其特征在于，包括：

利用半航空瞬變電磁方法對滑坡體進行探測，獲得地下介質的電阻率值，得到滑坡體的粗略深度及滑坡體的粗略分布范圍；

在滑坡體的粗略分布范圍內，將滑坡體的粗略深度劃分成若干個階梯深度，在不同階梯深度處采用不同測線，沿著測線分別進行瞬變電磁點位和高密度電法點位布設，對應采用瞬變電磁法和高密度電阻率法進行地質勘測，從而獲得第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集；

通過半航空瞬變電磁法得到滑坡體的粗略深度及滑坡體的粗略分布范圍，在滑坡體的粗略深度及滑坡體的粗略分布范圍的基礎上，利用瞬變電磁法和高密度電阻率法得到相應電阻率值數據；

從第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中分別篩選出超過測線長度1/4深度地質體和不超過測線長度1/4深度地質體對應的電阻率值數據進行成像分析并融合生成二維電阻率圖像；

將獲得的二維圖像在相應坐標系內進行三維切片成果展示。

2.如權利要求1所述的滑坡體的三維成像方法，其特征在于，對滑坡體的拐點處或坡腳處的預設位置點處進行鉆孔取樣，將取樣的樣品圖像與已知電阻率值的圖像進行比對，修正相應處置對應的第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中的數據。

3.如權利要求2所述的滑坡體的三維成像方法，其特征在于，采用井間電阻率CT法來獲取鉆孔取樣處的電阻率值，修正相應處置對應的第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中的數據，再進行二維電阻率反演成像。

4.如權利要求3所述的滑坡體的三維成像方法，其特征在于，采用井間電阻率CT法來獲取鉆孔取樣處的電阻率值之前，還包括對孔位進行清洗。

5.如權利要求2所述的滑坡體的三維成像方法，其特征在于，采用井地電阻率CT法來獲取鉆孔取樣處的電阻率值，修正相應處置對應的第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中的數據，再進行二維電阻率反演成像。

6.如權利要求5所述的滑坡體的三維成像方法，其特征在于，采用井地電阻率CT法來獲取鉆孔取樣處的電阻率值之前，還包括對孔位進行清洗。

7.一種滑坡體的三維成像系統，其特征在于，包括：

滑坡體粗略探測模塊，其用于利用半航空瞬變電磁方法對滑坡體進行探測，獲得地下介質的電阻率值，得到滑坡體的粗略深度及滑坡體的粗略分布范圍；

電阻率值數據集獲取模塊，其用于在滑坡體的粗略分布范圍內，將滑坡體的粗略深度劃分成若干個階梯深度，在不同階梯深度處采用不同測線，沿著測線分別進行瞬變電磁點位和高密度電法點位布設，對應采用瞬變電磁法和高密度電阻率法進行地質勘測，從而獲得第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集；

二維電阻率圖像生成模塊，其用于從第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中分別篩選出超過測線長度1/4深度地質體和不超過測線長度1/4深度地質體對應的電阻率值數據進行成像分析并融合生成二維電阻率圖像；

三維切片展示模塊，其用于將獲得的二維圖像在相應坐標系內進行三維切片成果展示。

8.如權利要求7所述的滑坡體的三維成像系統，其特征在于，所述滑坡體的三維成像系統還包括：

電阻率值數據修正模塊，其用于對滑坡體的拐點處或坡腳處的預設位置點處進行鉆孔取樣，將取樣的樣品圖像與已知電阻率值的圖像進行比對，修正相應處置對應的第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中的數據。

9.如權利要求8所述的滑坡體的三維成像系統，其特征在于，在所述電阻率值數據修正模塊中，采用井間電阻率CT法來獲取鉆孔取樣處的電阻率值，修正相應處置對應的第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中的數據，再進行二維電阻率反演成像。

10.如權利要求8所述的滑坡體的三維成像系統，其特征在于，在所述電阻率值數據修正模塊中，采用井地電阻率CT法來獲取鉆孔取樣處的電阻率值，修正相應處置對應的第一電阻率值數據集和第二電阻率值數據集中的數據，再進行二維電阻率反演成像。