[發(fā)明專利]單晶薄膜復(fù)合基板及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911113721.2 | 申請日: | 2019-11-14 | 
| 公開(公告)號: | CN110828298A | 公開(公告)日: | 2020-02-21 | 
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張秀全;朱厚彬;羅具廷;李真宇 | 申請(專利權(quán))人: | 濟(jì)南晶正電子科技有限公司 | 
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/18 | 
| 代理公司: | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 張曉;韓芳 | 
| 地址: | 250101 山東省濟(jì)南市高新區(qū)港興*** | 國省代碼: | 山東;37 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 復(fù)合 及其 制造 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種單晶薄膜復(fù)合基板及其制造方法,所述單晶薄膜復(fù)合基板包括:襯底基板;隔離層,位于襯底基板上;補(bǔ)償層,位于襯底基板下;單晶薄膜功能層,位于隔離層上,其中,隔離層和補(bǔ)償層由相同的材料形成。本發(fā)明解決了單晶薄膜復(fù)合基板中的襯底基板明顯翹曲的缺陷,并且同時避免了制備工藝的繁瑣且降低了工藝成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種翹曲得到改善的單晶薄膜復(fù)合基板以及制造所述單晶薄膜復(fù)合基板的方法,具體地講,涉及一種晶圓翹曲得到改善的單晶薄膜復(fù)合基板以及制造所述單晶薄膜復(fù)合基板的方法。
背景技術(shù)
鈮酸鋰薄膜、鉭酸鋰薄膜等壓電薄膜材料具有優(yōu)良的非線性光學(xué)特性、電光特性、聲光特性,其在光信號處理、信息存儲等電子器件領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。鈮酸鋰薄膜和鉭酸鋰薄膜等具備強(qiáng)導(dǎo)向高折射率對比結(jié)構(gòu),因此其可以作為基板為小體積范圍內(nèi)實現(xiàn)的光電結(jié)構(gòu)提供材料支撐。
鈮酸鋰薄膜和鉭酸鋰薄膜復(fù)合基板在集成光學(xué)領(lǐng)域和聲學(xué)領(lǐng)域具有非常廣闊的應(yīng)用前景。目前,鈮酸鋰薄膜復(fù)合基板的結(jié)構(gòu)通常為以下兩種結(jié)構(gòu):1)其直接利用鈮酸鋰裸片制備,即,上層為鈮酸鋰薄膜、中間層為SiO2、底層為鈮酸鋰襯底的三明治結(jié)構(gòu);2)上層為鈮酸鋰薄膜、中間層為SiO2、底層為Si襯底的三明治結(jié)構(gòu)。在鈮酸鋰薄膜復(fù)合基板中,由于異質(zhì)結(jié)合(兩個不同材料的薄膜結(jié)合在一起,由于熱膨脹系數(shù)不同,在受熱后的收縮程度不同)會存在一些翹曲,這會影響后續(xù)的器件加工工藝。例如,后續(xù)工藝為光刻,如果襯底翹曲過大,則光刻機(jī)每步進(jìn)一次均需重新聚焦,嚴(yán)重影響了光刻工藝的效率。
現(xiàn)有技術(shù)中,通常在晶圓成品或者襯底背部沉積硅化物層來改善已經(jīng)發(fā)生翹曲的薄膜,但是如果薄膜的翹曲已經(jīng)達(dá)到一定程度,此時在襯底背部沉積硅化物,則容易導(dǎo)致翹曲更嚴(yán)重。此外,現(xiàn)有技術(shù)中通常使用等離子體化學(xué)氣相沉積來沉積硅化物,但是等離子體化學(xué)氣相沉積時的溫度較高,如果利用等離子體化學(xué)氣相沉積在襯底背部沉積硅化物,則容易損壞晶圓表面的薄膜,并且晶圓表面的電極、半導(dǎo)體等器件的性能也會受到影響。另外,由于鈮酸鋰薄膜具有壓電性,如果在成品鈮酸鋰薄膜的背部再沉積硅化物,則硅化物對鈮酸鋰薄膜施加應(yīng)力(壓力或拉力),使鈮酸鋰薄膜的折射率發(fā)生改變,進(jìn)而影響了鈮酸鋰薄膜的性能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠顯著改善晶圓的翹曲的單晶薄膜復(fù)合基板以及制造所述單晶薄膜復(fù)合基板的方法,從而解決了單晶薄膜復(fù)合基板中的襯底基板明顯翹曲的缺陷,并且同時避免了制備工藝的繁瑣且降低了工藝成本。
所述單晶薄膜復(fù)合基板通過在襯底基板的背面設(shè)置補(bǔ)償層來抑制襯底基板的翹曲。本發(fā)明的技術(shù)方案可以通過簡易的工藝來形成抑制襯底基板的翹曲的補(bǔ)償層。所述單晶薄膜復(fù)合基板的補(bǔ)償層和隔離層由相同的材料形成,使用相同的材料形成補(bǔ)償層和隔離層可以保證隔離層和補(bǔ)償層的應(yīng)力相同,從而使施加到單晶薄膜功能層的應(yīng)力均勻,進(jìn)一步減小翹曲。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種單晶薄膜復(fù)合基板,所述單晶薄膜復(fù)合基板包括:襯底基板;隔離層,位于襯底基板上;補(bǔ)償層,位于襯底基板下;單晶薄膜功能層,位于隔離層上,其中,隔離層和補(bǔ)償層可以由相同的材料形成。
根據(jù)示例性實施例,隔離層與補(bǔ)償層可以具有相同的厚度。
根據(jù)示例性實施例,隔離層與補(bǔ)償層可以均為二氧化硅層或者可以均為氮化硅層。
根據(jù)示例性實施例,單晶薄膜功能層可以為鈮酸鋰層或鉭酸鋰層,襯底基板可以為硅基板、鈮酸鋰基板或鉭酸鋰基板。
根據(jù)示例性實施例,通過等離子體化學(xué)氣相沉積或熱氧化法形成隔離層和補(bǔ)償層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





