[發(fā)明專利]一種基于孔壁圖像的巖石面孔隙度識別方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911112309.9
• 申請日: 2019-11-14
• 公開（公告）號: CN110838117B
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王超;王川嬰;韓增強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院武漢巖土力學(xué)研究所
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136
• 代理公司: 武漢宇晨專利事務(wù)所(普通合伙) 42001
• 代理人: 李鵬;王敏鋒

1.一種基于孔壁圖像的巖石面孔隙度識別方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、遍歷孔壁圖像中每一個像素點(diǎn)的R、G、B分量值，并找出每個像素點(diǎn)的分量最大值max(R,G,B)和分量最小值min(R,G,B)，當(dāng)max(R,G,B)T₁，且max(R,G,B)-min(R,G,B)T₂時(shí)，將像素點(diǎn)的R、G、B分量值重新賦值為max(R,G,B)，T₁為第一閾值，T₂為第二閾值，第一閾值和第二閾值均大于0且小于255，第一閾值大于第二閾值；

步驟2、將步驟1處理后的孔壁圖像轉(zhuǎn)換為飽和度分量圖；

步驟3、對飽和度分量圖進(jìn)行二值化獲得二值圖像；

步驟4、去除二值圖像中的白色孔隙雜點(diǎn)和黑色非孔隙雜點(diǎn)；

步驟5、統(tǒng)計(jì)經(jīng)步驟4處理后的二值圖像中白色孔隙區(qū)域的像素點(diǎn)數(shù)和二值圖像的總像素點(diǎn)數(shù)，計(jì)算白色孔隙區(qū)域的像素點(diǎn)數(shù)與二值圖像的總像素點(diǎn)數(shù)的比值，獲得巖石的面孔隙度，

步驟2的飽和度分量圖的S分量通過以下步驟獲得：

其中：Xmax＝max(R,G,B)，Xmin＝min(R,G,B)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于孔壁圖像的巖石面孔隙度識別方法，其特征在于，所述的步驟3中，飽和度分量圖的二值化閾值通過最大類間方差法獲得。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于孔壁圖像的巖石面孔隙度識別方法，其特征在于，所述的步驟4包括以下步驟：

步驟4.1、首先通過設(shè)定一個白色雜點(diǎn)濾除閾值濾去二值圖像中像素小于該白色雜點(diǎn)濾除閾值的微小白色孔隙雜點(diǎn)；

步驟4.2、然后創(chuàng)建圓盤形對象，再利用圓盤形對象對已經(jīng)濾除微小白色孔隙雜點(diǎn)的二值圖像執(zhí)行閉運(yùn)算；

步驟4.3、最后在經(jīng)過閉運(yùn)算后的二值圖像中，對白色孔隙區(qū)域內(nèi)的黑色非孔隙雜點(diǎn)進(jìn)行白色填充。